JIS C 6823:2010 光ファイバ損失試験方法 | ページ 5

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                                                              NAを調整するアパーチャ
         光源
                                                                                    入射
                 中間レンズ                                                レンズ
                                       レンズ
                       ビーム径を調整する
                           アパーチャ
                                                                  モニタ
                            図A.4−LPS励振条件の生成に必要な光学例
A.2.3.3 モードスクランブラ
  均一の光パワー分布でモードフィルタを励振する。この条件を満たさないLED及びレーザのような光源
に対しては,モードスクランブラを使用する。モードスクランブラは,例えば,屈折率がステップ・グレ
ーデッド・ステップの光ファイバ配置で構成する。
A.2.4 CSI,RSI及びPSI(マルチモードステップインデックス形)光ファイバに対する励振装置
  短距離光ファイバに対する一般的な励振構成例を,図A.5,図A.6及び図A.7に示す。
                                 図A.5−レンズによる励振構成例
                         図A.6−クラッドモード除去器を用いる励振構成例

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C 6823 : 2010
              図A.7−プラスチック光ファイバにモードスクランブラを用いる励振構成例
  ステップインデックス形光ファイバの損失測定の再現性は重要となるため,よく定められた励振構成が
必要となる。そのような励振構成は,市販の光構成要素又は表A.2に示すスポットサイズ及びNAで達成
できる。
                    表A.2−ステップインデックス形光ファイバに対する励振条件
                                                   光ファイバ分類
                                 CSI                    RSI                   PSI
            特性
                         ステップインデックス形ガラスコア/プラスチッ 全プラスチック光ファイ
                         光ファイバ            ククラッド光ファイバ   バ
                                                                      =全モード励振ファイバ
                                                                      コア径
       スポットサイズ    =光ファイバコア径    =光ファイバコア径     (又はモードスクランブ
                                                                      ラを用い定常モード励
                                                                      振)
                                                                      =全モード励振ファイバ
            NA           =ファイバ最大NA a)   =ファイバ最大NA b)
                                                                      最大NA b)
     注a) この励振条件は,被測定光ファイバと同一の2 mの光ファイバで作られたモードフィルタを全モー
          ド励振し,適切なクラッドモード除去を行い,このモードフィルタからの出力を被測定光ファイバ
          に励振することで達成する。
       b) この励振条件は,注a) で述べたものと同様な方法で達成する。しかし,一部のRSI及びPSI光ファ
          イバについては,モードフィルタによるクラッドモード除去は必要ない。
A.2.5 校正の必要条件
  波長を±10 nm以内に校正する。
A.3 手順
A.3.1 被測定光ファイバを試験装置に設置する。出力光パワーP2(           録する。
A.3.2 励振条件を固定しておき,光ファイバをカットバック長(例えば,入射位置から2 m)に切断する。
光ファイバのカットバック長からの出力光パワーP1(          録する。
A.4 損失の算出
A.4.1 P1(          びP2(           定した地点間の損失は,7.2.1の式(1)を用いて,又は損失係数を7.2.2の式(2)
を用いて求める。必要に応じてその両方を求める。
A.4.2 個別波長における損失測定結果を使用すれば,附属書Dに規定する関係から,波長に対する損失変
化を示すスペクトル損失曲線を算出することができる。

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                                          附属書B
                                          (規定)
                            損失試験 : 方法B−挿入損失法
B.1 概要
  挿入損失法は原理的にはカットバック法と同様となる。しかし,入力基準レベルP1(         振装置の出力
から放射される光パワーとする。挿入損失法はカットバック法よりも精度は落ちるが,被測定光ファイバ
及び両端に固定される端子に対して非破壊でできる利点がある。そのため,現場での使用に適しており,
主に両端にコネクタが取り付けられている光ファイバケーブルへの使用を目的としている。この方法は光
ファイバ長手方向での損失の解析に使用することはできない。しかし,事前に測定された光パワーP1(
ら,この方法を用いて温度及び外力など環境条件の変化に対する連続的な損失変動を測定することが可能
となる。
B.2 装置
  A.2に規定する装置に加え,結合損失を最小にして信頼性のある結果を得るために,非常に精度の高い
光ファイバ間結合器を用いる。この結合器は,目視検査ができる機械式調整器又はコア間位置調整機構を
もつコネクタでもよい。
B.3 手順
B.3.1 基準光ファイバは被測定光ファイバと同種類の光ファイバでなければならない。基準光ファイバは,
接続コネクタとそれに関連する損失をすべて含んだ光伝送路として定義する。
B.3.2 最初に,入力基準レベルP1(                          試験装置の校正を行う。初期校正には基準光ファ
イバと同種類の光ファイバを用いる(図B.1参照)。基準光ファイバの長さは損失が無視できるように短く
する(例えば,2 m)。基準光ファイバの損失が無視できない場合は,計算値にその値を加算する。
B.3.3 被測定光ファイバを試験装置に接続し,光検出器で最大レベルが得られるようにその結合を調整す
る(図B.2参照)。出力光パワーP2(          録する。
B.4 損失の算出
  7.2.1の式(1)を用いて損失を求めるか,又は7.2.2の式(2)を用いて損失係数を求める。必要に応じてその
両方を求める。

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C 6823 : 2010
          断面1 : 損失を測定する基準光ファイバの入射側断面
          断面2 : 損失を測定する基準光ファイバの出射側断面
                               図B.1−挿入損失試験装置の校正方法
           断面1 : 損失を測定する基準光ファイバの入射側断面
           断面2 : 損失を測定する基準光ファイバの出射側断面
                              図B.2−挿入損失の測定の試験装置構成

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                                          附属書C
                                          (規定)
                             損失試験 : 方法C−OTDR法
C.1 概要
  OTDR法は,光ファイバの単一方向の測定であり,光ファイバの異なる箇所から光ファイバの先端まで
後方散乱光パワーを測定する方法となる。この測定は光ファイバ内の伝搬速度及び光ファイバの後方散乱
作用に影響され,光ファイバ損失を正確に測定できないことがある。しかし,この方法は被測定光ファイ
バの両端からの後方散乱光を測定し,この二つのOTDR波形を平均化することによって,光ファイバの損
失試験に用いることができる。
  この方法は光ファイバ全長の解析が可能となる。特に光ファイバの長手方向の部分的な解析及び接続な
どの不連続点の確認も可能となる。また光ファイバの条長を計算することもできる。
C.2 装置
  装置は,光パルス試験器 (OTDR) を用い,少なくとも次の構成要素からなる(図C.1参照)。
                                     図C.1−OTDRの構成図
C.2.1 光送信器
  光送信器は,複数のパルス幅とパルス繰返し周波数の設定条件とで励振されるパルスレーザダイオード
光源をもつ。別途規定しない限り,各波長のスペクトルは次の事項を満足しなければならない。
C.2.1.1 中心波長は規定値の15 nm以内とする。中心波長と規定値との差が10 nm以上となる場合には,
その差を報告する。
C.2.1.2 二乗平均幅 (RMSW) は10 nm以下とする。又は半値全幅 (FWHM) が25 nm以下とする。
C.2.1.3 OTDRデータを損失波長モデル(附属書D参照)で使用する場合,スペクトル幅はOHピークの
波長領域(例えば,1 360 nm1 430 nm)では,半値全幅 (FWHM) で15 nm又は二乗平均 (RMS) で6 nm
以下とする。
C.2.2 励振条件
  被測定光ファイバ又はC.2.9に規定するオプションのダミー光ファイバを,装置パネル又は光源からの

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