JIS C 8147-2-8:2011 ランプ制御装置―第２－８部：蛍光灯安定器の個別要求事項 | ページ 3

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  これらの予備試験の直後に,6個の安定器は,全て高電圧インパルス試験に耐えなければならない。
  試験中の安定器は,可変抵抗器及び3 ms15 msの遮断時間(バウンド時間は除く。)をもつ適切な回路
遮断器(例えば,H16又はVR312/412の真空スイッチ)とともに,直流電源に接続する。その後,電流を
調節し,回路遮断器を動作させて,安定器に電圧パルスを誘導させる。次に,安定器に表示したピーク電
圧に達するように,電流を増加させる。パルス電圧の測定は,安定器の端子で直接行い,附属書I及び図
I.1による。
    注記1 遮断時間が非常に短い電子式回路遮断器を用いる場合,非常に高い誘導パルス電圧の発生に,
            注意する。
  始動電圧に達したときの直流電流の値を記録しておく。次に,安定器にこの電流値で1時間通電を行う
が,その間に,3秒間の電流遮断を毎分10回行う。
  試験の直後に,6個の安定器は全て,箇条11に規定する耐湿性及び絶縁試験に耐えなければならない。
    注記2 直列コンデンサをもつ試験回路では,コンデンサを短絡しなければならない。
15.2 安定器の出力側にランプを接続しない状態で,スタータ及び安定器によって発生するパルス電圧が
安定器に表示した値になるよう,入力電圧を調節する。安定器の陰極加熱巻線には,疑似抵抗を接続する。
  その後,ランプを接続しない状態で,安定器を30日間動作させる。
  安定器の数,試験前処理及び試験後の条件は,15.1に規定する内容と同じである。
  遅延時間装置をもつ専用イグナイタと一緒に用いる旨を表示した安定器では,同じ試験を適用するが,1
回のオフ時間は2分間以上とし,250回のオン・オフ試験を行う。

16 故障状態

  故障状態は,JIS C 8147-1の箇条14(故障状態)の要求事項は適用しない。

17 構造

  構造は,JIS C 8147-1の箇条15(構造)による。

18 沿面距離及び空間距離

  沿面距離及び空間距離は,JIS C 8147-1の箇条16(沿面距離及び空間距離)によるほか,次による。
  鉄心露出形安定器の場合,JIS C 3215-0-1の13.(絶縁破壊)のグレード1又はグレード2の試験電圧に
耐えるエナメル又は同様な材料の絶縁被覆の巻線を用いる場合,エナメル線で巻かれた異なる巻線間,又
はエナメル線とカバー,鉄心などとの間の絶縁距離は,JIS C 8147-1の表3[正弦波交流電圧(50/60 Hz)
の場合の最小距離]及び表4(非正弦波パルス電圧の場合の最小距離)に規定する値よりも1 mm少ない
値を最小距離としてもよい。ただし,この要件は,沿面距離及び空間距離が,エナメル被覆層に加えて2 mm
以上である場合にだけ適用する。

19 ねじ,通電部及び接続部

  ねじ,通電部及び接続部は,JIS C 8147-1の箇条17(ねじ,通電部及び接続部)による。

20 耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性

  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性は,JIS C 8147-1の箇条18(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング
性)による(18.5は除く)。

――――― [JIS C 8147-2-8 pdf 11] ―――――

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21 耐食性

  耐食性は,JIS C 8147-1の箇条19(耐食性)による。

22 無負荷出力電圧

  無負荷出力電圧は,JIS C 8147-1の箇条20(無負荷出力電圧)による。

――――― [JIS C 8147-2-8 pdf 12] ―――――

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                                          附属書A
                                          (規定)
       導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験
  JIS C 8147-1の附属書A(充電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験)による。
                                          附属書B
                                          (規定)
                 熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項
  JIS C 8147-1の附属書B(熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項)による。
                                          附属書C
                                          (規定)
              過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項
  JIS C 8147-1の附属書C(熱的保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項)の要求事項は適用し
ない。
                                          附属書D
                                          (規定)
                 熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法
  JIS C 8147-1の附属書D(熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法)による。
                                          附属書E
                                          (規定)
                       tw試験での4 500以外の定数Sの使用
  JIS C 8147-1の附属書E(tw試験での4 500以外の定数Sの使用)による。

――――― [JIS C 8147-2-8 pdf 13] ―――――

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C 8147-2-8 : 2011
                                          附属書F
                                          (規定)
                                          風防容器
  JIS C 8147-1の附属書F(風防容器)による。
                                          附属書G
                                          (規定)
                             パルス電圧の値の由来の説明
  JIS C 8147-1の附属書G(パルス電圧の値の由来の説明)の要求事項は適用しない。
                                          附属書H
                                          (規定)
                                             試験
  JIS C 8147-1の附属書H(試験)による。

――――― [JIS C 8147-2-8 pdf 14] ―――――

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                                           附属書I
                                          (規定)
                                   バリスタの選択方法
I.1 一般
  電圧パルス測定中の電圧変動を避けるために,直列に接続した複数のバリスタを,試験中の安定器と並
列に接続する。
  印加するエネルギーが小さいため,最も小さなバリスタでも十分目的が達成できる。
  安定器に蓄えたエネルギーの一部が,スイッチで発生するスパークによって放出するため,安定器内部
で発生する電圧は,そのインダクタンス,直流電流及び静電容量C2だけでなく,真空スイッチの品質にも
関係する。
  したがって,回路に用いるスイッチとともにバリスタを選択する必要がある。
  バリスタには許容差があるため,複数のバリスタを直列にすると誤差を加算したり打ち消したりするた
め,試験する安定器の各タイプごとに個々に選択する必要がある。
I.2 バリスタの選択
  最初に,C2両端の電圧が,予定する試験電圧よりも約15 %20 %高くなるように,安定器の電流を調
節する。
  次に,直列に接続したバリスタによって,電圧を目標値まで下げる。
  試験電圧の大部分を分担するために,2個又は3個の高電圧バリスタを,残りの試験電圧を分担するた
めに,1個又は2個の低電圧バリスタを用いることを推奨する。次に,安定器の電流を変化させて,試験
電圧の微調整を行う。
  1個のバリスタの電圧の概略値は,関連するバリスタのデータシートの電圧電流特性から選ぶことがで
きる(例えば,I=10 mAにおける電圧値)。

――――― [JIS C 8147-2-8 pdf 15] ―――――

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