JIS C 8201-5-2:2017 低圧開閉装置及び制御装置―第５－２部：制御回路機器及び開閉素子―近接スイッチ | ページ 16

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− 変化の時間t2 : 2分3分
− サイクル数 : 5
− 放置時間t1 : 3時間
  この試験の後,目に見える損傷があってはならない。
  成形した樹脂の小さな亀裂は,B.8.1.2.3,B.8.1.2.4及びB.8.1.2.5の試験の後であった場合でも許容する
(図B.1参照)。このような亀裂は,最終試験であるB.8.1.2.6の結果を損なうことはないとする。
B.8.1.2.4 打撃試験
  この試験は,次の要領で行う(図B.2参照)。
  供試品は,硬い土台の上に置く。
  0.5 Jの打撃を3回,封止した部品の最大表面又は最長軸(円筒形の場合)の中心付近に与える。
  打撃を与えるときは,200 mmの高さから0.25 kgの鋼球を落下させる。
                                        図B.2−試験装置
  土台の硬さは,与えられた打撃エネルギーによるへこみが0.1 mm以下の場合は許容する。
  この試験の後,目に見える損傷があってはならない。
  成形した樹脂の小さな亀裂などは,B.8.1.2.3,B.8.1.2.4及びB.8.1.2.5の試験の後であった場合でも許容
する(図B.1参照)。このような亀裂が,最終試験であるB.8.1.2.6の結果を損なうことはないとする。
B.8.1.2.5 温湿度サイクル試験
  試験は,IEC 60068-2-30の試験Dbに従って行う。ただし,数値は次のものを用いる。
− 上限温度 : 55 ℃
− サイクル数 : 6
  試験報告書には,方法1及び方法2のいずれを適用したかを記載する。
  この試験の後,目に見える損傷があってはならない。
  成形した樹脂の小さな亀裂などは,B.8.1.2.3,B.8.1.2.4及びB.8.1.2.5の試験の後であった場合でも許容
する(図B.1参照)。このような亀裂が,最終試験であるB.8.1.2.6の結果を損なうことはないとする。
B.8.1.2.6 ストレス印加後の耐電圧試験
  B.8.1.2.5の試験を終了後,8.3.3.4.1及び8.3.3.4.2に規定する試験(試験電圧1分間印加)を考慮して耐
電圧性能を調べる。
  得られる結果は,8.3.3.4.3において規定する内容と同様であり,さらに,漏れ電流は1.1Uiで2 mA以下
でなければならない。
B.8.1.3 受渡試験
  8.1.3を適用するが,耐電圧試験は必須とする。

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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
                                          附属書C
                                          (規定)
                  リード線引出式の近接スイッチの追加要求事項
C.1 一般
  この附属書は,他の装置及び/又は電源に電気的に接続するリード線引出式近接スイッチに適用する追
加要求事項である。
  リード線引出式近接スイッチのリード線は,使用者によって交換できないものである。
  この附属書は,リード線,リード線固定及びリード線取付口の封止のための構造及び性能の要求事項を
規定する。
C.2 定義
  この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。
C.2.1
リード線引出式近接スイッチ
  他の装置及び/又は電源に電気的に接続する一体化したリード線をもつ近接スイッチ。
C.2.2
リード線取付口の封止
  リード線の摩擦の防止及びリード線固定に必要とするリード線とエンクロージャとの間の封止。
C.2.3
リード線固定
  近接スイッチとリード線との間の電気的接続に対する損傷を防止し,リード線の終端からの機械的スト
レスを軽減するための固定。
C.7 構造及び性能に関する要求事項
C.7.1 構造に関する要求事項
C.7.1.1 リード線の材質
  近接スイッチは,適切な電圧,電流,温度定格及び環境条件をもつ柔軟なリード線を使用しなければな
らない。
    注記 使用するリード線の長さは,関連製品規格で規定してもよい。
C.7.1.2 リード線固定
  リード線に加えられる力が電気的に接続される機器に伝わらないようにリード線を固定する。
  リード線の押込み又は引張りによって,リード線接続部又は近接スイッチの内部部品が損傷してはなら
ない。
C.7.1.3 リード線取付口の封止
  リード線取付口の封止は,近接スイッチの保護等級に適合しなければならない[IEC 60947-1の附属書C
(箱入り装置の保護等級)参照]。
    注記 封止は,近接スイッチの封止に含めてもよい。

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C.7.2 性能に関する要求事項
  リード線及びリード線取付口の封止は,C.8での試験に耐えなければならない。
C.8 試験
  試験の目的は,輸送及び取付けの間,リード線が完全に固定しているかを確認することである。一度取
り付けたら,近接スイッチとリード線とは互いに固定することが望ましい。
C.8.1 形式試験
  C.8.1.1C.8.1.4に示す四つの試験を,各供試品に対して記載の順序に従い行う。
C.8.1.1 引張試験
  リード線の絶縁被膜を取付軸に沿って一定の力で1分間引っ張る。
  IEC 60947-1の8.2.4.4を適用する。
C.8.1.2 トルク試験
  リード線のトルク試験は,0.1 Nmのトルク値,又は360°の角度におけるトルク値で行う。
  トルクは,近接スイッチの取付口から100 mmの位置で,時計回りに1分間,反時計回りに1分間加え
る。
C.8.1.3 押圧試験
  押圧力は,リード線取付口にできるだけ近い箇所で,リード線の軸に沿って与える。
  押圧力は,20 Nまで徐々に引き上げ1分間保持する。
  試験後,リード線取付口の封止部に目で見える損傷及びリード線の変形がないことを確認する。
C.8.1.4 屈曲試験
  リード線は,次の方法で力をかけ,曲げる。
a) リード線軸を垂直にした状態で,リード線取付口から1 mのところに3 kgのおもりをつるす。
b) 近接スイッチを90°傾け,リード線を90°曲げた状態で1分間保持する。
c) 近接スイッチを垂直に対して反対方向に90°傾け,リード線を反対方向に90°曲げた状態で1分間保
    持する。
C.8.2 試験結果
  近接スイッチのリード線,リード線封止部,リード線取付口又は電気的接続に損傷があってはならない。
このことは,目視検査及び指定した保護等級の確認で検証する。

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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
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                                          (規定)
                            差込式近接スイッチ用コネクタ
  差込式近接スイッチに使用するM12又はM8,M5のコネクタは,IEC 61076-2規格群の関連する部分に
従わなければならない。それらは,相手側コネクタを正しく連結したとき,最低限,保護等級IP65を満足
しなければならない。
  図D.1図D.8にこれらのコネクタの例を示す。
                                                                                     単位 mm
  注記1 端子番号は省略してもよい。
  注記2 交流用近接スイッチは,M12の代替案として1/2インチユニファイねじを使用することができる。
  注記3 クラスII近接スイッチでは,保護接地端子は省略してもよい。
                       図D.1−交流近接スイッチ用M12 3端子構成コネクタ

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  注記 中央の端子は,不要の場合は省略してもよい。
                       図D.2−直流近接スイッチ用M12 5端子構成コネクタ
                                                                                     単位 mm
                      図D.3−直流近接スイッチ用8 mm 3端子構成コネクタ

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