JIS C 8472:2005 ライティングダクト―照明器具用ダクトの安全性要求事項 | ページ 3

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10. 端子

 浮遊接点 (floating contact) の動きが正常な動作に支障を来さないことを条件に,浮遊接点に取
り付けられている端子の使用が妨げられないもの以外は,JIS C 8105-1の第14章及び第15章の規定を適
用する。
  適否は,目視検査によって判定する。

11. 外部及び内部配線

 JIS C 8105-1の第5章を適用する。ただし,次の事項については,第5章を適用
せず,次の規定による。
  取外しできないケーブル又はコードは,他のセクションによって延長できないダクトセクションにだけ
接続されなければならない。
  備考 ケーブル導体の断面積は,ダクトセクションの定格電流に見合うものでなければならない。
 適否は,目視検査によって判定する。

12. 熱耐久性及び動作温度

 照明器具用ライティングダクトは,十分な熱耐久性をもち,通常の使用条件
で過度の温度上昇があってはならない。
  適否は,12.1及び12.2の試験によって判定しなければならない。
12.1 ダクトに取り付けた充電部は,電流の通電によって過度の温度上昇があってはならない。
  適否は,次の試験によって判定する。
  JIS C 8105-1の0.4.2に従った典型的な照明器具で,ダクトに使用したときに最も厳しい状況を示すもの
を,通常使用で最も厳しい位置でダクトに取り付け,電気的接続を行う。ダクトには照明器具への電流を
含めダクトの定格電流と一致する電流を,温度が一定になるまでの時間又は1時間のうちいずれか長い時
間通電する。
  標準的な照明器具は,クラスI及びクラスIIIセクタオープニングに取り付ける。
  試験は,ダクト温度ta又はta表示のない場合は,25 ℃で実施する。
  ダクト温度が最も高くなるところを選び,この数値がダクトの製造業者が指定する通常使用状態におけ
る最高ダクト温度以下でなければならない。
12.2 照明器具用ライティングダクトの構成部品は,通常使用において過度の温度上昇があってはならな
い。ダクトを除く構成部品の温度は,JIS C 8105-1の第12章の規定に適合しなければならない。
12.3 ダクトの熱耐久性は,次の試験によって判定しなければならない。
12.3.1 通常使用と同様に1.2 mのダクトを製造業者の取扱説明書に従い,次のように設定した恒温槽に取
り付ける。製造業者が指定する通常使用状態における最高ダクト温度より10 ℃高い温度(最低80 ℃)又
はダクト定格最高周囲温度(ta+55)℃のいずれか高い温度に168時間維持する。
  試験後,ダクトには目視できる劣化があってはならない。また,絶縁内張の収縮は,ダクトが8.及び13.1
の規定(スチール針,テストフィンガー,テストチェーンなど)並びに15.1(絶縁抵抗試験)の規定に適
合しなければならない。
12.3.2 クラスIIIダクト/セクタ開口に対しては,JIS C 8105-1の0.4.2に従った典型的な照明器具で,ダ
クトに使用したときに最も厳しい状況を示すものを,通常使用で最も厳しい位置でダクトに取り付け,電
気的接続を行う。電源ケーブルに対しては,インレット開口の所で最も厳しい位置で,可能な限り鋭く曲
げる。ダクトは,更に,照明器具への電流を含め,定格電流に等しい総電流を通電する。
 ライティングダクトは,定格(ta+20)℃で行い,試験は,JIS C 8105-1の12.3(耐久性試験)に従って実
施する。

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 さらに,JIS C 8105-1の12.3への適合に加え,フィードインボックス及びカプラ(もしあれば)には,
照明器具用ライティングダクトの定格電流の1.5倍の電流を通電する。フィードインボックス及びカプラ
の各接点の電圧降下は22.5 mVを超えてはならない。

13. 感電に対する保護

 SELV電源による動作用のクラスIIIと照明器具用ライティングダクトとを分類し
ている場合を除いて,次の13.113.3の規定に加え,JIS C 8105-1の第8章の規定に適用しなければなら
ない。
13.1 ダクトは,上記に加え,JIS C 8105-1の8.2.5の規定に適合しなければならない。
  合否は,JIS C 8105-1の表9.1の試験用プローブDをあらゆる方向から1 Nの力にて行い,試験中にプ
ローブが充電部へ接触するか否かによって判定する。
  ただし,図J1に示す寸法をもつクラスIダクトで6.5 e)の表示のあるものに対しては,次の試験に適合
すればこの限りでない。
  充電部への接触防止試験は,通常の使用状態において,ダクトの開口部などのライティングダクト,プ
ラグの開口部などの充電金属部に対する人の接触予防措置の点検を,JIS C 8306の3.(構造試験)(4)によ
って30 N の圧力を加えて試験する。さらに,固定II形のものは,ダクトカバーを外した状態において,
JIS C 0922の試験プローブDを(1±0.1)   Nの力で当て,40 V以上で50 V以下の電圧をもつ電気的指示器を
用いて,関連充電部との接触を試みる。
13.2 プラグは,部分的又は完全に使用し,通常使用に配線されているときに,充電部には接触できない
ように設計していなければならない。
  適否は,目視及び標準試験指による試験によって判定する。この試験指は,あらゆる位置に,必要があ
れば10 Nの力を加える。この際,充電部との接触を確認するため,電気表示器を使用する。可動する部品
は,最も過酷な位置に手によって設置する。
13.3 充電部への接触を防止しているダクト及び構成部品は,手による取外しが可能であってはならない。
これらの部品を固定する装置は,充電部から絶縁されていなければならない。プラグに関しては,プラグ
がダクトに装着されている場合にだけ,この項の規定を適用する。これらの部分が金属の場合は,充電部
のその他の部分に触れてはならない。
  適否は,目視及び手による試験によって判定する。

14. 耐湿性

 JIS C 8105-1の第9章の9.3の規定を適用する。

15. 絶縁抵抗及び耐電圧

 次の15.115.3の修正とともに,JIS C 8105-1の第10章の規定を適用する。
15.1 JIS C 8105-1の10.2.1(試験−絶縁抵抗)に従って測定した絶縁抵抗は,異極充電部間及び充電部と
本体又は保護接地導体との間では,試験するダクトのメートル長で除して100 M    地                 
ばならない(これはJIS C 8105-1の表10.1の数値を置き換える。)。
15.2 JIS C 8105-1の第10章の10.3の規定は,適用しない。
15.3 共用電源ライティングダクトに関しては,商用電源セクタとSELVセクタとの間の耐電圧試験は,
 試験電圧3 750 Vを使用して行われなければならない。

16. 保護接地

 16.116.4の修正とともにJIS C 8105-1の第7章の規定を適用する。
  この箇条は,商用電源のクラスI照明器具用ライティングダクト及び共用電源セクタオープニングにだ

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け適用する。
16.1 JIS C 8105-1の7.2.3の試験は,5.3に規定するサンプルに対して行われなければならない。
 適否は,次の試験によって判定する。
  試験は,最低25 Aの電流で行い,計算した抵抗値は,0.1    地                                            下
のプラグ及び照明器具用プラグは,JIS C 8105-1の7.2.3の試験に適合しなければならない。
  抵抗を計算するための電圧降下は,設置された三つのダクトを取り付けたシステムの任意の2点間で測
定しなければならない。特にフィードインボックスと電源から最も離れた位置,すなわち,接地回路から
最低六つの接触点を経由した箇所に取り付けたプラグ間で計測する。
16.2 保護接地のための全部品は,部品及びダクト接地用導体又は,ダクトと接触する他の金属部間の接
触から生じる酸化を含めて,腐食のおそれがあってはならない。
  ダクト本体又は外郭が,アルミ又はアルミ合金でできている場合,銅,アルミ又はアルミ合金との接触
による腐食を防ぐ手段を講じなければならない。
16.3 プラグ又は同様な接続機器を取り付けた取外し可能な部品をもつクラスI照明器具に関しては,通
電接触の前に保護接地が接続し,接地接続が解除する前に通電接点が分離しなければならない。
16.4 保護接地接続導体は,ダクト/セクタの全長にわたっていなければならない。電流供給を中断する
ことなく機械的構造の部分が取外し不可能な場合には,この導体は,ダクトの機械的構造の部品であって
もよい。
    備考 国内配線規定が保護接地接続導体をダクトの機械的構造の部品として認可しない場合,個別の
          導体を用いる。
 16.216.4の規定への適否は,目視検査及び試験によって判定する。

17. 耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性

 JIS C 8105-1の13.4を除く第13章の規定を適用する。ただし,
JIS C 8105-1の13.2.1の耐熱性試験は,次の17.1及び17.2に従う。
17.1 ダクト試験 試験条件及び規定は,JIS C 8105-1の13.2.1に準じる。ただし,ダクト絶縁材の100 mm
長,長方形断面が10 mm幅,及び特定のダクト構造内の絶縁を目的に使用される最低肉厚に相当する厚さ
の試験用の二つのサンプルは,試験サンプルの異なるダクト辺からとる。ダクト絶縁物が準備されるべき
サンプルに対し不十分なサイズであったり,機械加工していない試験エリアの場合,同じ材料で,同じ製
法で製造した試験サンプルを使用しなければならない。これらのサンプルは,12.3に規定するような事前
調整をしなければならない。
  サンプルを取り付けた試験装置を,製造業者が指定する通常使用状態における最高ダクト温度より
10 ℃高い温度で,最低80 ℃又はダクト定格最高周囲温度(ta+55) ℃のいずれか高い温度(図J1に示す寸
法をもつクラスIダクトについては当分の間,70 ℃とする。)に設定した恒温槽に1時間設置した後に,2
サンプルともに試験規定に適合しなければならない。
17.2 ダクト構成部品の試験 試験条件及び規定は,次を除き,JIS C 8105-1の13.2.1を適用する。
a) 充電部又は導電部を固定する絶縁物は,最低温度125 ℃としたダクト温度(ta+25)℃に相当する温度
    で試験を実施する。
b) 感電に対する保護を行う絶縁物は,最低温度80 ℃としたダクト温度(ta+25)℃に相当する温度で試験
    を実施する。
 備考 実際の製品の二つのサンプルが,16.2の試験に使用すべきである。製品が不十分なサイズの場合
        には,同じ材料及び方法で製造した試験サンプルは,試験を実施するために製造業者が準備すべ

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        きである。これらのサンプルは,規格に規定するすべての先の試験に使用すべきである。
   通常の方法で十分な平面範囲を得るために,小さい複雑な形状の製品を準備することは,おそらくその
 製品の表面を破損することが必要になるだろう。したがって,正常な特性は,影響するだろうし,これは
 試験の意図ではない。

18. 外部配線の端子及び接続

 クラスIIIダクトに対し,JIS C 8105-1の15.9.1(接触抵抗試験)及び15.9.2
(加熱試験)の規定を次のように修正して適用する。
a) 15.9.1.1 最初の文節を,次に置き換える。
     端子(又は接続)のすべてのタイプに対して,15.9.1.3に従った試験は,10本の非絶縁単銅線又は,
    照明器具用ライティングダクトとともに製造業者から届けられる導体で行われる。
b) 15.9.1.3 最初の文節の後に,次の規定を追加する。
     電圧降下は,各端子及びダクト導体の各接続部で測定する。
c) 15.9.2.3 次によって本文を置き換える。
     定格電流6 A以下の端子(又は接続)は,通電しないで25サイクルのエージング試験を行う。(T
    ±5) ℃又は,(80±5) ℃のいずれか高い上昇サイクル温度で30分間,その後(1530) ℃の間の温度
    で冷却を1サイクルとする。
     定格電流6 Aを超える端子(又は接続)は,通電しないで100サイクルのエージング試験を行う。
    電源ケーブルは,インレット開口の所で,最も厳しい位置で可能な限り鋭く曲げる。
    備考 温度Tは,ソケットなどのTマーク付き構成部品に表示される最高定格温度である。
d) 15.9.2.4 最初の文節の一行目の本文を,次に置き換える。
     電圧降下は,各端子及びダクト導体の各接続部で測定する。

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                3.2 ダクト
                3.3 カプラ
                3.4 フィードインボックス−ダクトへの電源供給
                3.5 照明器具用プラグ−ダクトからの電源供給だけ
                3.6 プラグ−ダクトへの機械的及び電気的接続
                3.7 ダクト用つり下げ器具(天井又はつり下げチューブへの装着)
                3.8 照明器具用つり下げ器具(ダクトにだけ機械的接続)
      備考  この図は,指導のためのものであり,デザインを決めるためのものではない。
                           図1 照明器具用ライティングダクト(定義)
                           図2 典型的なクラスIIIプラグ接点の測定位置

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