JIS C 8473:2009 ライティングダクト―電源用ダクトの安全性要求事項 | ページ 11

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                                          附属書D
                                          (規定)
                                           汚染度
            D.1

序文

  ミクロ環境は,絶縁に対する汚染の作用を決定する。ただし,ミクロ環境を考慮するときは,マクロ環
境を考慮しなければならない。
  エンクロージャ,カプセル化又は気密密封の有効な使用によって,検討対象の絶縁における汚染を低減
させるための手段を備えてよい。このような,汚染を低減させるための手段は,電源用ライティングダク
トが結露にさらされるとき,又は通常動作において,それが汚染物自体を生み出す場合,有効でないこと
がある。
  小さな空間距離は,固体粒子,粉じん及び水によって完全に橋絡されることがあり,したがって,ミク
ロ環境において汚染が存在することがある場合,最小空間距離が規定される。
    注記 汚染は,湿度があると導電性になる。汚染された水,すす,金属又は炭素の粉じんによっても
          たらされる汚染は,本来的に導電性である。
D.2 ミクロ環境における汚染度
  沿面距離及び空間距離を測定する場合,ミクロ環境における次の三つの汚染度が確立されている。
  − 汚染度1
      いかなる汚染もない,又は乾燥した非導電性の汚染だけが発生する。この汚染は影響力をもたない。
  − 汚染度2
      結露によってもたらされる一時的な導電性がときどき予想される場合を除き,非導電性汚染だけが
      発生する。
  − 汚染度3
      導電性汚染が発生するか,又は予想される結露によって導電性になる乾燥した非導電性汚染が発生
      する。

――――― [JIS C 8473 pdf 51] ―――――

                                                                                                                                              C8
                                                                                                                                                 48
                                                                   附属書E
                                                                                                                                                 473
                                                                  (参考)
                                                                                                                                                     : 20
                                         空間距離及び沿面距離の寸法決定のためのフロー
                                                                                                                                                        09
            注記 外部的な一時過電圧によって著しく影響されるすべての回路を含む。
                                                                                                                                              C8 473 : 200
                                                                                                                                                 4
                                                                                                                                                         9
                                                                                                                                                  8

――――― [JIS C 8473 pdf 52] ―――――

                                                                                             49
                                                                                   C 8473 : 2009
                                          附属書F
                                          (規定)
                                    インパルス耐電圧
  この試験の目的は,空間距離が規定の瞬時過電圧に耐えることを検証するためのものである。インパル
ス耐電圧試験は,IEC 60060-1に規定されるように1.2/50 μsの波形をもつ電圧で実施し,また,これは雰
囲気を起源とする過電圧及び低電圧装置の開閉による過電圧を模擬するように意図されている。
  試験は,各極性の最低三つのインパルスについて実施し,パルスの間には少なくとも1秒の間隔をおく。
    注記 インパルス発生器の出力インピーダンスは,500 Ω以下であることが望ましい。システム附属
          品を組み込んだ供試体を,試験回路を通して試験するときは,それよりも大幅に低い出力イン
          ピーダンスを用いてよい。
  供試体内にサージ抑制が備えられる場合,インパルスは,次の特性をもたなければならない。
  − 表F.1に示す値に等しい振幅をもつ無負荷電圧の場合,波形1.2/50 μs
  − 適切なサージ電流の場合,波形8/20 μs
  サージ抑制装置手段がある場合,インパルス電圧試験中は,それを分離させなければならない。
                      表F.1−海面レベルで空間距離を検証するための試験電圧
                    定格インパルス耐電圧            海面におけるインパルス試験電圧
                            kV                                  kV
                          0.33                                0.35
                          0.5                                 0.55
                          0.8                                 0.91
                          1.5                                 1.75
                          2.5                                 2.95
                          4.0                                 4.8
                          6.0                                 7.3
            注記1 空間距離の絶縁耐力に関して影響力をもつ要素(気圧,高度,温度,湿度)に関
                   する説明は,JIS C 0664の4.1.1.2.1.2に示されている。
            注記2 空間距離を試験するときは,関連固体絶縁に試験電圧を印加する。表F.1のイン
                   パルス試験電圧は,定格インパルス電圧に関して増大されるために,固体絶縁は
                   そのような設計でなければならない。このために,固体絶縁のインパルス耐力は
                   増大する。

――――― [JIS C 8473 pdf 53] ―――――

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C 8473 : 2009
                                          附属書G
                                          (規定)
                                          受渡検査
            G.1

序文

  受渡検査は,安全のために100 %の検出が必す(須)と考えられる事項について規定した。
G.2   一般的考慮事項
  電源用ライティングダクトが関連試験に合格しない場合,是正措置を取らなければならない。
G.3   表2よりも短い空間距離を適用した製品に実施する受渡検査
  表2に示す値未満の基礎又は機能絶縁の空間距離は,附属書Fの試験を用いた受渡検査によって確認し
なければならない。

――――― [JIS C 8473 pdf 54] ―――――

                                                                                                                                              C8
                                                                                                                                                 51
                                                                  附属書JA
                                                                                                                                                 473
                                                                   (参考)
                                                                                                                                                     : 20
                                                     JISと対応国際規格との対比表
                                                                                                                                                        09
     JIS C 8473:2009 ライティングダクト−電源用ダクトの安全性要求事項   IEC 61534-1:2003 Powertrack systems−Part 1: General requirements
     (I)   JISの規定                   (II)国   (III)国際規格の規 (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと(V)   JISと国際規格との技術的差異の理由
                                    際規格   定                の評価及びその内容                       及び今後の対策
     箇条番号          内容         番号      箇条     内容    箇条ごと         技術的差異の内容
     及び題名                                 番号             の評価
     1 適用範  定格電流50 A以下              1.1    定格電流   変更     定格電流を63 A以下から50 A以下  国内では,JISとしては30 Aを超える定格
     囲                                             63 A以下            に変更。                        電流が大きいものは主にバスダクトに分類
                                                                                                        されるため,別の規格が適用される。しかし,
                                                                                                        この規格を電気用品安全法に採用する場合,
                                                                                                        同法では,50 Aまでのライティングダクト
                                                                                                        が対象範囲となるため,上限を50 Aとして,
                                                                                                        同法に採用してもすべてのライティングダ
                                                                                                        クトをカバーできるようにした。
     2 引用規
     格
     5.4       試験に使用するサンプ          5.4    JISに同じ  追加     JISでは,注記として次を追加した。
                                                                                                        試験機関に提出するサンプル数と合否判定
               ルの数                                                   追加試験用試料セットを,最初の試との関係を明確にするため,情報として追加
                                                                        験用試料セットと同時に提出していした。
                                                                        ない場合,一組の試料セットが不合
                                                                        格のとき,全体が不合格となる。最
                                                                        初の試験用試料セットを提出すると
                                                                        きに,その中の一組が不合格となっ
                                                                        た場合に備えて追加試験用試料セッ
                                                                        トを提出することができる。その場
                                                                        合,試験機関は,改めて試験用試料
                                                                                                                                              C8
                                                                        セットを要求することなく上記の追
                                                                                                                                                 47
                                                                        加試験用試料セットで試験を行い,
                                                                                                                                                   3 : 2
                                                                        更に不合格となった場合だけ,不合
                                                                                                                                                       00
                                                                                                                                                 5
                                                                        格とする。
                                                                                                                                                         9
                                                                                                                                                  1

――――― [JIS C 8473 pdf 55] ―――――

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