JIS G 1604:2000 フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法(その4 フェロニッケル)

JIS G 1604:2000 規格概要

この規格 G1604は、蛍光X線分析,発光分光分析などの物理分析方法,乾式方式による炭素及び硫黄の分析方法,又はそのほかの成分の化学分析方法のための代表性のある分析用試料を得るために行う,鋳塊形状,片形状若しくは粒形状のフェロニッケルのサンプリング方法,又は溶湯からのフェロニッケルのサンプリング方法について規定。

JISG1604 規格全文情報

規格番号
JIS G1604 
規格名称
フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法(その4 フェロニッケル)
規格名称英語訳
Methods of sampling for chemical analysis of ferroalloys (Part 4:Ferronickel)
制定年月日
1985年3月1日
最新改正日
2019年10月21日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 8049:1988(MOD), ISO 8050:1988(MOD)
国際規格分類

ICS

77.100
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
1985-03-01 制定日, 1990-01-01 確認日, 1995-06-01 確認日, 2000-03-20 改正日, 2005-01-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS G 1604:2000 PDF [52]
G 1604 : 2000

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによって,JIS G 1604 : 1985は改正され,この規格に置き換えられる。
今回の改正では,国際規格と整合させる目的で,ISO規格を翻訳し,附属書1,附属書2及び附属書3
として採用した。
JIS G 1604には,次に示す附属書がある。
附属書1(規定) 鋳塊又は片からのサンプリング方法
附属書1参考A M個のものからN個の試料を抜き取る方法
附属書1参考B 一次試料を作製するために抜き取る鋳塊又は片の数Nを求める式
附属書1参考C きりもみ又はフライス削りの技術的条件
附属書2(規定) 溶湯からのサンプリング方法
附属書2附属書A(規定) 採取する小鋳塊の数及び分析回数
附属書3(規定) 粒からのサンプリング方法
附属書3参考A 一次及び二次インクリメント数について
附属書3参考B M個のものからN個の試料を抜き取る方法
附属書3参考C きりもみ又はフライス削りの技術的条件

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS G 1604 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
G 1604 : 2000

フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法(その4 フェロニッケル)

Methods of sampling for chemical analysis of ferroalloys (Part 4 : Ferronickel)

序文 この規格の中で本体以外の附属書1及び附属書2は,ISO 8050 : 1988, Ferronickel ingots or pieces−
Samplingfor analysisを元に翻訳し,また,附属書3は,ISO 8049 : 1988, Ferronickel shot−Sampling for analysis
を元に翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,これらの附属書で点線の下線を施した箇所は,対応国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は,蛍光X線分析,発光分光分析などの物理分析方法,乾式方式による炭素及び
硫黄の分析方法,又はそのほかの成分の化学分析方法のための代表性のある分析用試料を得るために行う,
鋳塊形状,片形状若しくは粒形状のフェロニッケルのサンプリング方法,又は溶湯からのフェロニッケル
のサンプリング方法について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
ISO 8049 : 1988 Ferronickel shot−Sampling for analysis
ISO 8050 : 1988 Ferronickel ingots or pieces−Sampling for analysis
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,その
最新版(追補を含む)を適用する。
JIS G 1326 フェロニッケル分析方法
備考 ISO 6352 : 1985, Ferronickel−Determination of nickel content−Dimethylglyoxime gravimetric
method が,この規格の一部と一致している。
JIS G 2316 フェロニッケル
備考 ISO 6501 : 1988, Ferronickel−Specification and deliveryが,この規格の一部と一致している。
ISO 513 : 1975 Application of carbides for machining by chip removal−Designation of the main groups of
chip removal and groups of application
ISO 3855 : 1977 Milling cutters−Nomenclature
ISO 4957 : 1980 Tool steels

――――― [JIS G 1604 pdf 2] ―――――

2
G 1604 : 2000
3. サンプリング方法の区分 フェロニッケルのサンプリング方法の区分は,表1による。
表1 フェロニッケルのサンプリング方法
サンプリング方法 適用範囲 附属書(規定)番号
附属書1
鋳塊又は片からのサンプリング方法 鋳塊又は片からのサンプリング
溶湯からのサンプリング方法溶湯からのサンプリング 附属書2
粒からのサンプリング方法 粒からのサンプリング 附属書3

――――― [JIS G 1604 pdf 3] ―――――

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G 1604 : 2000
附属書1(規定) 鋳塊又は片からのサンプリング方法
序文 この附属書は,ISO 8050 : 1988 (Ferronickel ingots or pieces−Sampling for analysis) の翻訳を元に,技
術的内容及び規格票の様式を変更することなく規定したものである。
なお,この附属書で点線の下線を施した箇所は,対応国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲
この附属書1は,化学成分を定量するための代表性のある分析用試料を得るために行う,鋳塊又は片形
状のフェロニッケルのサンプリング方法について規定する。
このサンプリングは,買い手の敷地内に配送されたロットに適用する(1)。試料調製には二つの方法(き
りもみ又はフライス削り)がある。
売り手と買い手(又は代理)はサンプリングに立ち会うことができる。
注(1) 受渡当事者間の合意があれば,このサンプリングを売り手の製造所,又は買い手の敷地若しく
は輸送途中の一時保管場所で行ってもよい。
2. 引用規格
次に掲げる規格は,この附属書に引用されることによって,この附属書の規定の一部を構成する。各引
用規格は,ここに示す年度の版が有効である。すべての規格は改正されるものであるので,この規格に基
づくことに合意した関係者は,これらの引用規格の最新版を適用する可能性を調べることに努めるのがよ
い。IECとISOのメンバーは,現在有効な国際規格の登録簿を整備している。
ISO 513 : 1975 Application of carbides for machining by chip removal−Designation of the main groups of
chip removal and groups of application
ISO 3855 : 1977 Milling cutters−Nomenclature
ISO 4957 : 1980 Tool steels
ISO 6352 : 1985 Ferronickel−Determination of nickel content−Dimethylglyoxime gravimetric method
ISO 6501 : 1988 Ferronickel−Specification and delivery requirements
3. 試料採取
3.1 鋳塊又は片からの抜取り
3.1.1 一つのタップからなるロットの場合
5個の鋳塊(2)をタップから抜き取り,3.1.3(2)(3)以降の手順を行う。
参考 タップとは,鋳塊などに鋳造するためにくみ取った取りなべ(レードル)1杯分の溶湯
注(2) 附属書1参考Aに示すランダムサンプリングの規定に従ってもよい。
(3) 同一のタップから作った異なる鋳塊の品位は大きく変わらないので,非常に少ない数の鋳
塊から,タップを十分に代表する試料が得られる(附属書1参考B参照)。
3.1.2 数個のタップからなるロットの場合
抜き取る鋳塊又は片の最小数Nは,次のとおりである(4)。
ロットのトン数が580tのとき
N=50

――――― [JIS G 1604 pdf 4] ―――――

4
G 1604 : 2000
ロットのトン数が80500tのとき
N=54− (T/20) [注(5)参照]
ここに,Tはロットの質量(金属トン)である。
ロットのトン数とNとの関係を附属書1表1に示す。
附属書1表1 ロットのトン数と抜き取る鋳塊又は片の数との関係
フェロニッケルのトン数 T 抜き取る鋳塊又は片の数 N
t
580 50
100 49
140 47
200 44
240 42
300 39
340 37
400 34
440 32
500 29
5001 000 29
鋳塊又は片の数は受渡当事者間の協議によって増すことができる。
ランダムサンプリングを心がけなければならない。附属書1参考Aに示す方法をすすめる。
注(4) これらは,次の実際的な仮定の基に設定されている。
− ロットは各々が約20tのタップからなる。
− ロット内の各タップのニッケルの品位が,k (k+1) %(kは整数)の範囲内にある。
− ニッケルの品位の鋳塊内変動及び同一タップ内での鋳塊間変動が,k (k+1) %に対し
て無視できる。
詳細な説明を,附属書1参考Bに示す。
(5) この式は500t未満のときにだけ適用できる。取引量が5001 000tのときは,受渡当事者
間の合意があれば,次のうち一つの方法を採用してもよい。
− 取引量を500t未満のトン数のロットに分ける。
− 全取引量から,500tについて規定された数の鋳塊又は片 (N=29) を抜き取る。この方法
は,鋳塊又は片からの二次試料の採取も含めて作業量をかなり軽減する。
3.1.3 抜き取った各々の鋳塊又は片の表面を注意深く,洗浄,ブラシがけ又はふき取りによって清浄とし,
外部から混入したもの(土,ちり,油など)を除く。
抜き取った鋳塊又は片が一次試料となる。
3.2 鋳塊又は片からの切削片の採取
きりもみ又はフライス削りによって切削片を作製する。これらの操作は,切削片が,刃の付着,ちり又
は油脂による汚染がないような方法で行うものとする。作業は,乾いた状態で行わなければならない。
切削条件の詳細を,附属書1参考Cに示す。
フェロニッケルには極端に固いものもあるので,適切な切削刃と切削条件を選択するため細心の注意を
払わなければならない。
固いフェロニッケルの場合は,鋳塊,鋳塊の一部又は片を熱処理すると切削片の採取が容易になること
もある(詳細は附属書1参考CのC.2を参照)。

――――― [JIS G 1604 pdf 5] ―――――

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JIS G 1604:2000の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 8049:1988(MOD)
  • ISO 8050:1988(MOD)

JIS G 1604:2000の国際規格 ICS 分類一覧

JIS G 1604:2000の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISG1326:2000
フェロニッケル分析方法
JISG2316:2000
フェロニッケル