JIS H 0542:2008 マグネシウム合金圧延板の結晶粒度試験方法

                                                                                   H 0542 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 用語及び定義・・・・[1]
•  3 種類・・・・[2]
•  4 試料の採取及び調整・・・・[2]
•  4.1 試料の採取・・・・[2]
•  4.2 試料の観察面・・・・[2]
•  4.3 結晶粒界の現出・・・・[3]
•  4.4 観察視野・・・・[3]
•  5 測定・・・・[3]
•  5.1 比較法による測定・・・・[3]
•  5.2 求積法による測定・・・・[4]
•  5.3 切断法による測定・・・・[6]
•  6 製品の結晶粒度の決定・・・・[9]
•  7 結晶粒度の表示方法・・・・[9]
•  8 試験報告書・・・・[9]
•  附属書A(規定)結晶粒度標準図・・・・[10]
•  附属書B(規定)スケールバーが記録された顕微鏡画像を用いる粒度番号算出方法・・・・[17]
•  附属書C(規定)混粒組織の評価及び表示方法・・・・[19]
•  附属書D(参考)粒度番号及び結晶粒に関する各変数の理論計算値・・・・[21]

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――――― [JIS H 0542 pdf 1] ―――――

H 0542 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本
工業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

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――――― [JIS H 0542 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              H 0542 : 2008

マグネシウム合金圧延板の結晶粒度試験方法

Methods for determining average grain size of magnesium alloy sheets

1 適用範囲

  この規格は,曲げ,張出し,深絞りなどの成形に使用する,マグネシウム合金の圧延板(以下,製品と
いう。)の結晶粒度を決定する試験方法について規定する。

2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
2.1
結晶粒
  金属を構成する多数の微小な結晶の一つ。顕微鏡観察のために研磨及び調製された試料観察面に現出す
る,境界(以下,結晶粒界という。)に囲まれた粒状の領域。ただし,図1に示すような双晶は結晶粒とみ
なさない。
                                                                      双晶
                                                 結晶粒界
                                       図1−結晶粒の定義
2.2
結晶粒度
  結晶粒の平均的な大きさ。粒度番号の平均値で表す。
2.3
粒度番号
  試料観察面の1 mm2当たりの平均結晶粒数mとの間で m=8    2G の関係を満足させるGの値。正数,ゼ
ロ又は負数の場合もある。

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2
H 0542 : 2008
2.4
混粒
  一つの観察視野内において,最大の結晶粒と粒度番号がおおむね3以上異なる大きさに相当する結晶粒
が偏在し,これらの結晶粒が約20 %以上の面積を占める状態,又は異なる観察視野間において粒度番号が
3以上異なる観察視野が存在する状態。
2.5
圧延方向
  板材の圧延工程において最後に圧延した方向。

3 種類

  測定方法は,次のいずれかによるものとし,通常は比較法を用いる。ただし,測定結果に疑義がある場
合には,求積法又は切断法を用いるものとし,求積法,切断法のいずれを用いるかは受渡当事者間の協定
による。
a) 比較法
b) 求積法
c) 切断法
      注記 切断法で測定した値は,求積法で測定した値より小さくなる傾向がある。

4 試料の採取及び調整

4.1 試料の採取

  試料は,製品の端,又は試料を採取するためにせん断加工したものなどにみられる,激しく変形した部
分を避け,製品を代表する部分から採取する。試料の数は,二つ以上とすることが望ましい。具体的な試
料の数及び採取箇所は,受渡当事者間の協定による。

4.2 試料の観察面

  試料の観察面は,圧延方向,厚さ方向及び幅方向の三基本方向及び三観察面がある。三つの基本方向及
び基本観察面を,図2に示す。通常の観察面は,幅方向に垂直な面(図2のA)とする。ただし,幅方向
に垂直な面の結晶粒界を現出させたとき,結晶粒が等軸でない1) 場合は,試料の観察面は,圧延方向に垂
直な面(図2のB)とする。
    注1) 等軸でないとは,結晶粒がある特定の方向に伸長していると認められる状態(例えば,Aで観
          察した場合に結晶粒が圧延方向に伸長したような状態)である。
                                                       A : 幅方向に垂直な面
                                                       B : 圧延方向に垂直な面
                                                       C : 厚さ方向に垂直な面
                            図2−試料の三つの基本方向及び基本観察面

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                                                                                              3
                                                                                   H 0542 : 2008

4.3 結晶粒界の現出

  4.2で決定した観察面を適切な方法で研磨後,適切な腐食液を用い結晶粒界を現出させる。観察面が加工
組織を呈して粒界が判別しにくい場合は,ひずみ取り焼鈍を行った製品から試料を採取してもよい。

4.4 観察視野

  観察視野は,試料の観察面から無作為に選択する。観察視野の数は,一つの試料の観察面について少な
くとも3(510が望ましい。)とする。
  なお,顕微鏡は,金属顕微鏡とする。求積法及び切断法によって結晶粒度を測定する場合は,金属顕微
鏡は,顕微鏡像を写真撮影,又はCCDカメラによってモニタ出力する機能をもつ必要がある。

5 測定

5.1 比較法による測定

5.1.1  原理
  顕微鏡像(ファインダをのぞいて見える像),顕微鏡写真,モニタ上の像及びそれらを印刷したもの(以
下,これらを総称して“顕微鏡画像”という。)を結晶粒度標準図と対比して粒度番号を求め,その数値を
観察視野における結晶粒度とする。
5.1.2  測定手順
  測定手順は,次による。
  なお,コンピュータ上で画像倍率を任意に調節できる場合には,附属書Bに規定する方法によって測定
してもよい。
a) 顕微鏡画像を,附属書Aに規定する結晶粒度標準図(以下,標準図Aという。)と比較し,標準図A
    との対比による粒度番号を,次の1),2) 又は3) によって求める。
  1) 観察視野が顕微鏡像である場合は,観察視野内の結晶粒の数が標準図A上の円内に含まれる結晶粒
      の数と最も近いと判断する標準図の粒度番号を,標準図Aとの対比によって求めた粒度番号とする。
  2) 観察視野が顕微鏡写真,モニタ上の像又はモニタ上の像を印刷したものである場合は,結晶粒の大
      きさが視覚的に最も類似している標準図の粒度番号を,標準図Aとの対比によって求めた粒度番号
      とする。
  3) 1) 及び2) において,結晶粒の大きさが標準図Aとの対比において二つの標準図の中間と判断する
      ときは,二つの標準図の小さい方の粒度番号に0.5を加えて標準図Aとの対比によって求めた粒度
      番号とする。
b)   ) で得た標準図Aとの対比によって求めた粒度番号と画像倍率とから,観察視野における粒度番号
    を,式 (1) によって算出し,その値を,丸めの幅を0.5として,二捨三入・七捨八入する[例えば,
    式 (1) によって算出したGの値が10.78の場合には,10.5とする。]。
                                      g
                                  log
                        G=M+2      100    (1)
                                   log 2
                      ここに, G :  観察視野における粒度番号
                                M :  標準図Aとの対比によって求めた粒度番号
                                g :  顕微鏡画像の倍率

――――― [JIS H 0542 pdf 5] ―――――

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