JIS H 8452:2008 耐酸化金属コーティングの耐はく離性試験方法

                                                                                   H 8452 : 2007

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 試験方法・・・・[1]
•  5 試験装置・・・・[1]
•  5.1 加熱・冷却装置・・・・[2]
•  5.2 温度調節装置・・・・[3]
•  6 試験片・・・・[3]
•  7 試験・・・・[6]
•  7.1 加熱及び冷却・・・・[6]
•  7.2 加熱及び冷却条件・・・・[6]
•  7.3 熱サイクル試験中のはく離状況の観察・・・・[6]
•  7.4 はく離面積率の測定・・・・[7]
•  7.5 はく離繰返し数の測定・・・・[7]
•  7.6 はく離を生じなかった試験片の損傷観察及び損傷の測定・・・・[8]
•  8 試験報告書・・・・[8]
•  8.1 記載事項・・・・[8]
•  8.2 付記事項・・・・[9]
•  附属書A(参考)酸化膜の厚さ及び酸化による質量変化の測定方法・・・・[10]

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――――― [JIS H 8452 pdf 1] ―――――

                                                                                   H 8452 : 2007

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本
工業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

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――――― [JIS H 8452 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              H 8452 : 2007

耐酸化金属コーティングの耐はく離性試験方法

Testing method for thermal cycle resistance of oxidation resistant metallic coatings

1 適用範囲

  この規格は,火力発電所で使用する発電用ガスタービンの動翼,静翼などの高温部品に被覆する耐酸化
金属コーティングの耐久性を評価するための,熱サイクルによる耐はく離性試験方法について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0128 火力発電用語−ガスタービン及び附属装置
    JIS B 7502 マイクロメータ
    JIS B 7507 ノギス
    JIS H 8451 遮熱コーティングの耐はく離性試験方法
    JIS Z 8401 数値の丸め方

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS B 0128及びJIS H 8451によるほか,次による。
3.1
耐酸化金属コーティング
  燃焼ガスによる高温部品の高温酸化を防止するための金属コーティング(以下,コーティングという。)。

4 試験方法

  試験方法は,熱サイクル試験による。

5 試験装置

  熱サイクル試験の試験装置は,加熱・冷却装置及び温度調節装置で構成し,次による。また,熱サイク
ル試験装置の基本構成の例を,図1に示す。

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H 8452 : 2007
                                                     試験片
                           高温槽
                                                             熱電対
                           受け皿                                 温度
                                                                              温度調節装置
                                                                  制御器
                           低温槽
         加熱・冷却装置
                                  試験片
                                 移動装置
                                          a) 縦形の場合
                              遮へい板(昇降可)      熱電対    温度
                                                                           温度調節装置
                                                                制御器
          受け皿
                              試験片
                                                               試験片移動装置
     試験片支持具
                        高温槽                低温槽
                                           加熱・冷却装置
                                          b) 横形の場合
                             図1−熱サイクル試験装置の基本構成の例

5.1 加熱・冷却装置

 加熱・冷却装置は,次による。
a) 外気から遮へいした高温槽及び低温槽を備えたものとする。
b) 試験片が高温槽と低温槽との間を往復する構造とする。ただし,試験片を固定し,高温槽と低温槽と
    が往復する構造でもよい。

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                                                                                              3
                                                                                   H 8452 : 2007

5.2 温度調節装置

 温度調節装置は,温度制御器及び熱電対で構成し,次による。
a) 温度制御器 温度制御器は,測定温度の全範囲にわたって,試験片温度が表1の許容範囲にあること
    を保証するのに十分なものとする。
                                 表1−試験片表面温度の許容範囲
                                                               単位 K
                                     温度範囲               許容範囲
                                 常温から 873 以下            ±3
                               873 を超え 1 073 以下          ±4
                               1 073 を超え 1 273 以下        ±5
                            1 273 Kを超える温度における許容範囲は,受渡当事
                          者間の協議による。
b) 熱電対 熱電対は,表1の許容範囲を満たすものを用いる。
      なお,熱電対と同等以上の性能をもつ放射温度計を用いてもよい。

6 試験片

  試験片は,次による。
a) 試験片は,製品から長さ2050 mm,幅2050 mmの大きさに切り出したものとする。
      なお,試験片の切出しは,精密切断機を用い,湿式でコーティング側から緩やかに切断する。
b)   )によって試験片の切出しが困難な場合には,製品と同質の基材に製品と同一条件でコーティングを
    施して試験片を作製する。この場合,試験片の形状及び寸法は,次による。
  1) 試験片は,基材全面を被覆した平板状[図2 a)],円板状[図3 a)]又は円柱状[図4 a)]とする。
  2) 1)の試験片の作製が困難な場合には,片面を被覆した平板状[図2 b)]又は円板状[図3 b)],上下
      両面を被覆した平板状[図2 c)]又は円板状[図3 c)],側面を被覆した円柱状[図4 b)]又は円筒
      状(図5)のいずれかの試験片を用いてもよい。
  3) 1)及び2)における試験片の選択は,受渡当事者間の協定による。
  4) 基材の端部及び角部は,適切な方法で0.52 mmの曲率加工又は面取りを行う。また,試験片は,
      取扱いを容易にするため,穴をあけてもよい。その位置及び大きさは,受渡当事者間の協定による。
c) コーティングの表面は,特に指定がない限り,被覆したままの状態とする。
d) 試験片の寸法は,JIS B 7502又はJIS B 7507に規定する測定器によって測り,JIS Z 8401の規則Aの
    規定によって,0.1 mmのけたに丸める。
e) 試験片の質量は,0.1 mgのけたまで読み取れる測定器(例えば,電子はかり)を用いて量り,JIS Z 8401
    の規則Aの規定によって,1 mgのけたに丸める。

――――― [JIS H 8452 pdf 5] ―――――

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