JIS H 8684:2013 アルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜の変形による耐ひび割れ性試験方法

                                                                                   H 8684 : 2013

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 概要・・・・[2]
•  5 装置・・・・[2]
•  6 試験片・・・・[3]
•  6.1 試験片の採取方法・・・・[3]
•  6.2 試験片の寸法・・・・[3]
•  6.3 試験片の清浄・・・・[3]
•  7 試験・・・・[3]
•  8 試験結果の表し方・・・・[4]
•  9 試験報告書・・・・[4]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[5]

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――――― [JIS H 8684 pdf 1] ―――――

H 8684 : 2013

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人軽金
属製品協会(JAPA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を
改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)で
ある。
  これによって,JIS H 8684:1997は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS H 8684 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                           JIS
                                                                              H 8684 : 2013

アルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜の変形による耐ひび割れ性試験方法

Anodizing of aluminium and its alloys-Assessment of resistance of anodic oxidation coatings to cracking by deformation

序文

  この規格は,2010年に第3版として発行されたISO 3211を基とし,技術的内容を変更して作成した日
本工業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,アルミニウム及びアルミニウム合金の製品(以下,製品という。)に施した陽極酸化皮膜(以
下,皮膜という。)の変形による耐ひび割れ性を試験する方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 3211:2010,Anodizing of aluminium and its alloys−Assessment of resistance of anodic oxidation
              coatings to cracking by deformation(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS H 0201 アルミニウム表面処理用語
    JIS Z 8401 数値の丸め方

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS H 0201による。
3.1
伸び率(degree of elongation)
  試験片を変形させたときにひび割れが発生した位置の皮膜の伸びの百分率。伸び率が高いほど,耐ひび
割れ性が優れている。
3.2
有効面(significant surface)

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H 8684 : 2013
  製品の表面に施した皮膜が,用途に適合する品質を満たすことが不可欠な面。

4 概要

  この試験は,装置に試験片の一端を固定し,わん曲面に沿って試験片を曲げ,皮膜に最初のひび割れが
現れる位置の変形目盛を読み取り,変形目盛に対応する曲率半径を求め,この曲率半径から皮膜の伸びの
百分率を算出する。

5 装置

5.1   一般 装置は,図1に示すように,わん曲面板,取付台,留めねじ及び金属製座板によって構成す
る。
                                                                                      単位 mm
1 わん曲面板
2 取付台
3 留めねじ
4 金属製座板
                                図1−耐ひび割れ性試験装置の一例
5.2   わん曲面板 わん曲面板は,変形目盛1から18を10 mm間隔で付けた滑らかで連続的な曲率をも
つステンレス鋼などの金属製とする。変形目盛は,表1に示すように,次の式(1)から求めたわん曲面板の
曲率半径に対応するものとする。
                        R=210−10E (1)

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                                                                                              3
                                                                                   H 8684 : 2013
                      ここに,         R :  わん曲面板の曲率半径(mm)
                                       E :  変形目盛
                         表1−わん曲面板の変形目盛及びわん曲の曲率半径
                       変形目盛  わん曲の曲率半径変形目盛  わん曲の曲率半径
                          E        R/(mm)        E        R/(mm)
                          1            200          10           110
                          2            190          11          100
                          3            180          12           90
                          4            170          13           80
                          5            160          14           70
                          6            150          15           60
                          7            140          16           50
                          8            130          17           40
                          9            120          18           30
5.3   留めねじ 2個の留めねじは,試験片の端面を留めるために,わん曲面板の変形目盛1及び変形目盛
18の両側に備える。試験片に接する面は,硬質ゴムなどを用いる。

6 試験片

6.1 試験片の採取方法

  試験片は,製品の有効面から採取する。試験片の端部は,有効面には含めない。また,採取した試験片
の試験面にひび割れがあってはならない。
  なお,製品から試験片を採取することができない場合は,製品と同一の材料及び同一の処理条件で作製
した試験片を用いる。製品と同一の材料とは,材料の種類・質別及び処理前の表面状態が,製品と同じで
あること,また,同一の処理条件とは,前処理,皮膜の処理が,製品と同一の浴組成及び同一の処理条件
で,製品と同一の性能を得るように処理することをいう。

6.2 試験片の寸法

  試験片の寸法は,長さ約250 mm及び幅約20 mmとする。また,最大厚さは3 mmとする。
  なお,この板厚の範囲であっても,試験片の厚さが極めて薄い試験片では,ひび割れを生じない場合が
ある。また,板厚が厚い試験片では,全面にひび割れを生じる場合がある。この場合は,皮膜の伸び率は
求められない。

6.3 試験片の清浄

  試験片は,水又はエタノールなどの適切な有機溶剤を浸した柔らかい布などで軽くぬぐい,試験片表面
の汚れを除去する。

7 試験

  試験は,次による。
a) 試験片の有効面を外側にして,その一端を装置の両端にある留めねじのいずれかで留める。
      なお,わん曲面板の変形目盛1側にある留めねじで試験片を留めて試験した場合,試験片がひび割
    れを生じる前にわん曲面板から離れるようなときは,変形目盛18側の留めねじに留める。
b) 試験片が常にわん曲面板に密着した状態を保ちながら,わん曲面板に沿って順に曲げていき,もう一

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