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K 0161 : 2010
附属書JB
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
ISO 15471:2004
JIS K 0161:2010 表面化学分析−オージェ電子分光法−装置性能を示す主要な項目 Surface chemical analysis−Auger electron spectroscopy−
の記載方法 Description of selected instrumental performance parameters
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
5.5.1 一般 5.5.1 SEM 削除 AES装置に関する規定である −
a) ためSEMに関する項目を削除
5.5.1 本文をc)に 5.5.1 本文に記載 一致 明りょう化のために項目を独 技術的差異はない。
c) 分解能の記載 立した。
5.5.2 空間分解能の概念 追加 明りょう化のために図を追加。 技術的差異はない。
図1 図
5.5.3 空間分解能の概念 追加 明りょう化のための追加であ 次回の国際会議に提案する。
図2 図 るが,国際規格に技術的問題点
がある。
5.5.4 空間分解能の概念 追加 明りょう化のための追加であ 次回の国際会議に提案する。
図3 図 るが,国際規格に技術的問題点
がある。
附属書JA − 追加 参考として記載事例を追加。 技術的差異はない。
(参考)
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : ISO 15471:2004,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 一致·················· 技術的差異がない。
K0
− 削除·················· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
1
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
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注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
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