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附属書A
(参考)
圧縮応力緩和の求め方−試験精度
A.1 概要
ISO/TR 9272に従って,試験室間試験プログラム(以下,ITPという。)を実施し,繰返し精度及び再現
精度を求めた。
A.2 精度詳細
A.2.1 このITPは,1998年に実施した。作製された試験片は,IR/SBRブレンド1種類の配合物で,試験
温度は,Method A(A法)が23 ℃及び100 ℃の2水準で,Method B(B法)が100 ℃で行った。試験結果
は,168時間後の圧縮応力緩和をそれぞれ二つの試験片の平均によって計算した。
A法23 ℃には12試験室,A法100 ℃には11試験室,B法100 ℃には7試験室がこのITPに参加した。
A.2.2 このITPで求めた精度は,タイプ1の精度である。すなわち,試験片は,一括して作製し,全ての
試験室に提供された。また,この精度は,二つの反復測定の期間を2週間3週間とした中期的な,又は
中間的な時間における精度でもある。これは,測定期間を数日とする通常の第1日目及び第2日目の反復
測定とは区別するものである。
A.2.3 異常値を除いた最終的な解析は,A法23 ℃及びA法100 ℃の場合9か所の試験室の結果,B法
100 ℃の場合6か所の試験室の結果に基づいて行った。
なお,採用したデータに基づく結果は,比較的一致しており,当該試験についての十分な試験室管理を
もった試験室で作成されたデータであることを表している。
A.3 精度の結果
最終的な解析結果から得られた試験精度を,表A.1に示す。その精度結果は,繰返し精度及び再現精度
共にA法100 ℃に対して,B法100 ℃が悪い結果となった。
――――― [JIS K 6263 pdf 16] ―――――
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表A.1−精度結果
A法,23 ℃×168 h
圧縮応力緩和
sr r sR R
平均 : %
10.9 0.795 2.22 1.21 3.40
A法,100 ℃×168 h
圧縮応力緩和
sr r sR R
平均 : %
50.5 0.845 2.37 2.15 6.03
B法,100 ℃×168 h
圧縮応力緩和
sr r sR R
平均 : %
67.5 2.07 5.8 8.66 24.3
sr 測定単位で表した試験室内繰返し精度の標準偏差
r 測定単位で表した試験室内繰返し精度
sR測定単位で表した試験室間再現精度の標準偏差
R 測定単位で表した試験室間再現精度
A.4 精度の結果の使用指針
精度の結果を使用する一般的手順については,ISO 19983を参照。次にISO 19983の概略を示す。
表A.1の精度結果を用いて,測定値の妥当性を判断する一般的な手順は次のとおりである。ここで,記
号 ·χ1−χ2· は,二つの測定値間の差の絶対値(すなわち,符号に関係なく)を示す。
同一の試験室で,同一の試料を用いた2回の測定平均値の差 ·χ1−χ2· が,試験室内繰返し精度の表A.1
のrを上回る確率は,20回に1回(5 %)以下と推定される。
二つの異なる試験室で,同一の試料を用いて得られた2回の独立した測定平均値の差 ·χ1−χ2· が,試験
室間再現精度の表A.1のRを上回る確率は,20回に1回(5 %)以下と推定される。
すなわち,得られた二つの測定値(試験室内及び試験室間)の差が,表A.1のr,Rを上回る確率は5 %
以下であり,そのような場合は,測定が疑わしいということになる。
なお,対象とする測定値が,表A.1中の平均値と大きく異なる場合には,この妥当性の判断は適用でき
ない。
――――― [JIS K 6263 pdf 17] ―――――
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附属書B
(規定)
試験装置の校正
B.1 点検
試験装置の校正を行う場合,事前に,校正する項目の現状を,校正報告書又は証明書で記載された点検
結果によって確認する。校正が,納入時の状態の校正なのか,異常又は欠陥を修理した後の校正なのかも
記載する。
試験装置が,規定した測定値を含め,要求試験精度を満たしていて,公式に校正する必要がない場合も,
そのことを確認する。要求測定値が変化しやすい傾向にある場合は,定期点検の必要性を詳細な校正手順
に記載する。
B.2 試験装置の校正計画
試験装置の校正及び校正証明書検定又は照合は,この規格の要求事項である。校正周期については,特
に規定されない場合,ISO 18899:2013の指針を参考にして規格使用者の自由裁量で決めてよい。
表B.1に,校正計画を規定する要求試験項目及び要求事項を示す。要求試験項目及び測定値は,試験装
置本体,装置の一部又は補助的な装置にも関連している。
それぞれの測定値についての校正手順は,ISO 18899:2013,その他の発行文書又は詳細に記載された試
験方法を使用してもよい(ISO 18899:2013よりも詳細に規定した校正手順が記載されている場合には,そ
れを用いる。)。
それぞれの項目の校正頻度は,略号で示す。校正計画に用いた記号を次に示す。
C : 測定しないが,確認する必要のある項目
N : 初期検証だけ行う項目
S : ISO 18899:2013による標準的な校正周期
U : 試験時
――――― [JIS K 6263 pdf 18] ―――――
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表B.1−校正周期
設定項目 要求事項 ISO 18899:2013の 校正頻度 注意事項
箇条番号及びその
他の規格番号
圧縮装置 2枚の平行で平たんな研磨された圧縮板で C N 圧縮板の表面粗さ
耐腐食性材質のもの は,Ra≦0.4
ましい。
圧縮板の間に試験片を入れ,力を加えたと 15.2 S −
き,圧縮板は0.01 mm以上変形してはなら
ない。
試験片のない状態で,上下圧縮板間の平行 15.5 S −
度は,非連続測定の場合±0.01 mm以上,連
続測定の場合±0.1 mm以上変化してはなら
ない。
圧縮板は,圧縮された試験片が,確実に圧縮 C U −
板の面内に収まる大きさで,横方向に自由
に膨張できなければならない。
リング状試験片の場合には,圧縮板の中央 15.2 N −
に直径2 mm以上の孔があいていなければ
ならない。
試験片を圧縮でき,圧縮力を測定できる装 C N −
置に接続できるものでなければならない。
圧縮力測定 圧縮力は,測定値の1 %以内の読取り精度で 21.2 S −
装置 測定できなければならない。
圧縮力を連続的に測定する装置では,試験 15.2 S −
片の変形を初期変形の±0.01 mmに保てる
ものでなければならない。
規定の時間間隔で圧縮力を測定できる装置 21.2又は15.2 S −
では,増加させる圧縮変形は可能な限り小
さくし,天びん型試験機の場合は1 N,ロー
ドセル型試験機の場合は0.05 mmを超えて
はならない。
試験片を再度圧縮したときの変形が初期変
形の±0.01 mmに保てるものでなければな
らない。
試験槽 試験槽は,JIS K 6257に規定するものでなけJIS K 6257 JIS K 6257 −
ればならない。
圧縮板 圧縮板は,試験用液体が圧縮板の孔を通し C N −
て循環できるものとする。
浸せき容器 容器中の液は,ヒータ及び液循環の適切な C N −
制御によって,規定の温度に維持されなけ
ればならない。
温度測定器 試験片の温度を正確に測定できるように, C N −
センサを取り付けなければならない(温度 箇条18 S
については5.4.6,5.5.2を参照)。
引張試験機 JIS K 6272の1級以上 JIS K 6272 JIS K 6272 −
表B.1に加えて次のものも必要である。
a) タイマ
b) 試験片の寸法を測定するための器具
――――― [JIS K 6263 pdf 19] ―――――
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K 6263 : 2022
参考文献
[1] JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラ
メータ
注記 対応国際規格では,ISO 4287,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
method−Terms, definitions and surface texture parametersを記載している。
[2] ISO/TR 9272,Rubber and rubber products−Determination of precision for test method standards
[3] ISO 19983,Rubber−Determination of precision of test methods
――――― [JIS K 6263 pdf 20] ―――――
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JIS K 6263:2022の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 3384-1:2019(MOD)
JIS K 6263:2022の国際規格 ICS 分類一覧
- 83 : ゴム及びプラスチック工業 > 83.060 : ゴム
JIS K 6263:2022の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB2401-1:2012
- Oリング―第1部:Oリング
- JISK6200:2019
- ゴム―用語
- JISZ8401:2019
- 数値の丸め方