この規格ページの目次
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(I) JISの規定 (II)国際規(III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご (V) JISと国際規格との技術的差異の
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格番号 との評価及びその内容 理由及び今後の対策
00
表示箇所 : 本体
-
2:
表示方法 : 点線の下線又は実線の側線
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項目番号 内容 項目番号 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
01
評価
8.ディスク加硫試験 (ISO 3417) ISO 6502
8.1試験装置 ・試験装置の構成 6.1 JISに同じ IDT −
6.5
・ディスク 6.4 MOD/追加 JISは,金属の硬さの規格番号を 分かりやすくするため追加した。
明記及び文章の一部を図で併記。
・ダイ 6.2 JISに同じ IDT − ISOへ提案する。
・ディスクの振動装置 6.5 JISに同じ IDT −
・加熱及び温度制御装置 6.7 JISに同じ IDT −
・ダイの密閉装置 6.3 JISに同じ IDT −
・トルク検出及び記録装置 6.6 JISに同じ IDT −
8.2試験片 試験片の量を規定 7 JISに同じ IDT −
8.3校正方法 測定レンジの複数点で行 6.8 JISに同じ IDT −
うことなどを推奨
8.4試験方法 試験条件 6.5 JISに同じ IDT −
6.7
操作方法 10 MOD/追加 JISは,フィルムを使用した場
試験結果に影響するので,追加し
た。
合,使用の有無を記録するこ
とを追加。
8.5試験結果の 1回の測定,数値の丸め方 11 MOD/追加 JISは,数値の丸め方をJIS Z
試験結果の有効桁数を明確にする
まとめ方 を規定 8401で行うことを追加。 ため追加した。
8.6記録 記録項目を規定 11 MOD/追加 明確にするため追加した。
JISは“検出トルクの種類”と“そ
の他特記すべき事項”を追加。
――――― [JIS K 6300-2 pdf 31] ―――――
(I) JISの規定 (II)国際規(III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご (V) JISと国際規格との技術的差異の
格番号 との評価及びその内容 理由及び今後の対策
表示箇所 : 本体
表示方法 : 点線の下線又は実線の側線
項目番号 内容 項目番号 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
評価
9.ダイ加硫試験(A法) ISO 6502
9.1試験装置 ・試験装置の構成 6.1 MOD/追加 JISは,剛性値を追加。 試験の信頼性で重要なため追加した。
6.5 ISOは,ガイドなので記載がな
い。
・ダイ 6.2 JISに同じ IDT − ISOへ提案する。
・シール板 6.2 JISに同じ IDT −
・シール 6.2 JISに同じ IDT −
・下ダイの振動装置 6.5 JISに同じ IDT −
・加熱及び温度制御装置 6.7 JISに同じ IDT −
・ダイの密閉装置 6.3 JISに同じ IDT −
・トルク検出及び記録装置 6.6 JISに同じ IDT −
9.2試験片 試験片の量を規定 7 MOD/追加 分かりやすくするため追加した。
JISは,試験片の実際の量を追
加。
9.3校正方法 測定レンジの複数点で行 6.8 JISに同じ IDT −
うことなどを推奨 ISOへ提案する。
9.4試験方法 試験条件 6.5 JISに同じ IDT −
6.7
操作方法 10 MOD/追加 JISは,フィルムを使用した場
試験結果に影響するので,追加し
た。
合,使用の有無を記録するこ
とを追加。
9.5試験結果の 1回の測定,数値の丸め方 11 MOD/追加 JISは,数値の丸め方をJIS Z
試験結果の有効けた(桁)数を明
まとめ方 を規定 8401で行うことを追加。 確にするため追加した。
9.6記録 記録項目を規定 11 MOD/追加 明確にするため追加した。
JISは“検出トルクの種類”と“そ
の他特記すべき事項”を追加。
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2: 200
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――――― [JIS K 6300-2 pdf 32] ―――――
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(I) JISの規定 (II)国際規(III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご (V) JISと国際規格との技術的差異の
2
3
格番号 との評価及びその内容 理由及び今後の対策
00
表示箇所 : 本体
-
2:
表示方法 : 点線の下線又は実線の側線
20
項目番号 内容 項目番号 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
01
評価
10.ダイ加硫試験(B-1法) ISO 6502
10.1試験装置 ・試験装置の構成 6.1 JISに同じ IDT −
・ダイ 6.2 JISに同じ IDT −
附属書C
・下ダイの振動装置 6.5 JISに同じ IDT −
・加熱及び温度制御装置 6.7 JISに同じ IDT −
・ダイの密閉装置 6.3 JISに同じ IDT −
・トルク検出及び記録装置 6.6 JISに同じ IDT −
10.2試験片 試験片の量を規定 7 JISに同じ IDT −
10.3校正方法 測定レンジの複数点で行 6.8 JISに同じ IDT −
うことなどを推奨
10.4試験方法 試験条件 6.5 JISに同じ IDT − ISOへ提案する。
6.7
操作方法 10 MOD/追加 JISは,フィルムを使用した場
試験結果に影響するので,追加し
た。
合,使用の有無を記録するこ
と。
10.5試験結果の1回の測定,数値の丸め方 11 MOD/追加 JISは,数値の丸め方をJIS Z試験結果の有効けた数を明確にす
まとめ方 を規定 8401で行うことを追加。 るため追加した。
10.6記録 記録項目を規定 11 明確にするため追加した。
MOD/追加 JISは“検出トルクの種類”と
“その他特記すべき事項”を
追加。
――――― [JIS K 6300-2 pdf 33] ―――――
(I) JISの規定 (II)国際規(III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご (V) JISと国際規格との技術的差異の
格番号 との評価及びその内容 理由及び今後の対策
表示箇所 : 本体
表示方法 : 点線の下線又は実線の側線
項目番号 内容 項目番号 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
評価
11.ダイ加硫試験(B-2法) ISO 6502
11.1試験装置 ・試験装置の構成 6.1 JISに同じ IDT −
・ダイ 6.2 JISに同じ IDT −
附属書C
・下ダイの振動装置 6.5 JISに同じ IDT −
・加熱及び温度制御装置 6.7 JISに同じ IDT −
・ダイの密閉装置 6.3 JISに同じ IDT −
・トルク検出及び記録装置 6.6 JISに同じ IDT −
11.2試験片 試験片の量を規定 7 JISに同じ IDT −
11.3校正方法 測定レンジの複数点で行 6.8 JISに同じ IDT −
うことなどを推奨 ISOへ提案する。
11.4試験方法 試験条件 6.5 JISに同じ IDT −
6.7
操作方法 10 MOD/追加 JISは,フィルムを使用した場
試験結果に影響するので,追加し
た。
合,使用の有無を記録するこ
と。
11.5試験結果の1回の測定,数値の丸め方 11 MOD/追加 JISは,数値の丸め方をJIS Z試験結果の有効けた数を明確にす
まとめ方 を規定 8401で行うことを追加。 るため追加した。
11.6記録 記録項目を規定 11 明確にするため追加した。
MOD/追加 JISは“検出トルクの種類”と
“その他特記すべき事項”を
追加。
K6 300-
2: 200
3
1
3
――――― [JIS K 6300-2 pdf 34] ―――――
K6
3
(I) JISの規定 (II)国際規(III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご (V) JISと国際規格との技術的差異の
4
3
格番号 との評価及びその内容 理由及び今後の対策
00
表示箇所 : 本体
-
2:
表示方法 : 点線の下線又は実線の側線
20
項目番号 内容 項目番号 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
01
評価
12.ダイ加硫試験(C法) ISO 6502
12.1試験装置 ・試験装置の構成 6.1 JISに同じ IDT −
・ダイ 6.2 JISに同じ IDT −
附属書C
・下ダイの振動装置 6.5 JISに同じ IDT −
・加熱及び温度制御装置 6.7 JISに同じ IDT −
・ダイの密閉装置 6.3 JISに同じ IDT −
・せん断力の検出及び記録 6.6 JISに同じ IDT −
装置
12.2試験片 試験片の量を規定 7 JISに同じ IDT −
12.3校正方法 測定レンジの複数点で行 6.8 JISに同じ IDT −
うことなどを推奨
12.4試験方法 試験条件 6.5 JISに同じ IDT −
6.7
操作方法 10 MOD/追加 JISは,フィルムを使用した場
試験結果に影響するので,追加し
た。
合,使用の有無を記録するこ
とを追加。
12.5試験結果の1回の測定,数値の丸め方 11 MOD/追加 JISは,数値の丸め方をJIS Z試験結果の有効けた数を明確にす
まとめ方 を規定 8401で行うことを追加。 るため追加した。
12.6記録 記録項目を規定 11 明確にするため追加した。
MOD/追加 JISは“検出トルクの種類”と
ISOへ提案する。
“その他特記すべき事項”を
追加。
――――― [JIS K 6300-2 pdf 35] ―――――
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JIS K 6299:2012の国際規格 ICS 分類一覧
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