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に密着した試験用手すき紙を吸取紙から分離する。
e) 湿った試験用手すき紙を外側にして2枚のプレートを背中合わせにしたものを乾燥リングの間に挟ん
で積み重ね,おもりをかけるか,又は締め金で締める。試験用手すき紙は室温で乾燥する。試験用手
すき紙は収縮を避けるために乾燥終了まで乾燥プレートと接触させておくものとする。
備考 乾燥中の手すき紙を保護する必要がある場合には,手すき紙が乾燥するまで吸取紙を手す
き紙に密着したままにしてもよい。
8. 操作
8.1 一般事項
異物計測器(6.5)の製造業者が作成した説明書による。
8.2 計測器の校正
a) 比較チャート(6.6)を用いて定期的に計測器の校正を行う。85 %以上の白色度の平たんなタイル又は紙
の上にチャートを置く。比較チャート上に示されたすべての異物を計測器で測定する。測定結果に異
常があれば調整するか,機器製造業者に連絡する。
b) 比較チャートは画像の印刷面を測定しなければならない。ただし,入射角が垂直でない一方向性の光
源を用いる場合には,フィルムの印刷面がタイル及び紙の面に接するようにし,適度のおもりをのせ
て計測面を平らにする。この方法によって,影を最小にする。
c) 比較チャート上の異物の総面積値と測定値とが同じになるように装置を校正する。必要な場合には,
各等級ごとに総面積と測定値とが同じになるように校正する。
8.3 試験用手すき紙の測定
試験用手すき紙を装置にセットする。調製した試験用手すき紙の半数を取
り出し,表面又は光沢面から測定する。同様にして残りのシートについて裏面を測定する。最低50 g相当
のパルプ又は最低300個の異物が計測されたときの測定値を読み取る。測定した手すき紙の総面積を算出
して記録する。
9. 計算
計算は,次による。
X=bc
ここに, X : 試験用手すき紙の単位面積当たりの異物の面積 (mm2/m2)
c : 測定した異物の総面積 (mm2)
b : 測定した試験用手すき紙の総面積 (m2)
備考 必要に応じて,等級ごとに異物の面積又は個数を報告してもよい。
10. 試験結果の表し方
試験用手すき紙単位面積当たりの異物の総面積を,有効数字2けたに丸める。
11. 精度
一つの基準で校正した装置を用いた,限られた試験のため,この規格の再現性については規定
しない。
備考 ロット内のばらつきは,異物の面積の測定値から計算した標準偏差で推定する。変動係数は標
準偏差から求めることができる。
参考 幾つかの一般的な情報については文献から参照できる(参考文献[2],[3]参照)。
――――― [JIS P 8230 pdf 6] ―――――
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12. 報告
報告書には,必要に応じて次の項目を記録する。
a) 試料を特定するのに必要なすべての情報
b) 規格名称又は規格番号
c) 試験用手すき紙単位面積当たりの異物の総面積(mm2/m2),必要に応じて,大きさ等級別の面積又は個
数
d) 離解時の回転数
e) 用いた計測器の名称及び形式
f) 試験中に観察された特徴的な事項
g) この規格と異なる条件及び方法で試験した場合,その結果に影響する事項,及びその他の必要とする
事項
――――― [JIS P 8230 pdf 7] ―――――
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附属書A(参考)0.04 mm2よりも小さな異物
この附属書は,本体及び附属書(規定)に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
古紙パルプの評価では,0.04 mm2未満の拡大しないと見えないような異物の数が重要となる場合がある。
測定が可能かどうかは,異物の大きさとコントラストとを計測する計測器の感度に依存し,また,試料の
白色度も影響する。この規格では,0.04 mm2未満の異物のコントラスト及び等級については規定しない。
――――― [JIS P 8230 pdf 8] ―――――
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附属書B(規定)比較チャート
このチャートはISO 15755に附属する比較チャートと同一である。
ここに示すチャート(附属書B図1)を用いるものとする。
附属書B図1 比較チャートのコピー
備考 面積の大きさごとに,最小のコントラストのスポットを示す。最小のコントラストが30 %,50 %
及び80 %の異物は,それぞれ,0.4 mm2,0.15 mm2及び0.04 mm2と同等以上の大きさである。
参考 ISO 15755(比較チャート附属)は,財団法人日本規格協会で購入できる。
――――― [JIS P 8230 pdf 9] ―――――
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附属書C(規定)コントラスト及び濃度
C.1 異物とそのバックグラウンドとの光の強度差を測定して用いるパラメータを,コントラストという。
これは,異物と周辺部との反射光の物理的な強度の比から求められる。異物がその周辺よりも暗いほどコ
ントラストは高くなる。この規格では,異物の近傍の位置をバックグラウンドとする。
Rp
C 100 1
Rs
ここに, C : コントラスト (%)
Rp : 異物の反射率 (%)
Rs : 周辺部の反射率 (%)
C.2 異物を明確にするためのコントラストは,異物の大きさに依存する。小さなスポットは周辺のパルプ
よりも高いコントラストの場合にだけ観察され,一方,大きなスポットは低いコントラストでも観察でき
る(参考文献[4])。
C.3 この規格では,コントラストの値は光学強度と濃度とから計算されるため,異物と周辺パルプの反射
光強度が同じ場合にゼロとなる。
――――― [JIS P 8230 pdf 10] ―――――
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JIS P 8230:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 15319:1999(MOD)
JIS P 8230:2005の国際規格 ICS 分類一覧
JIS P 8230:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISP0001:1998
- 紙・板紙及びパルプ用語
- JISP8201:1996
- 製紙用パルプの試料採取方法
- JISP8203:2010
- 紙,板紙及びパルプ―絶乾率の測定方法―乾燥器による方法
- JISP8220:1998
- パルプ―離解方法
- JISP8222:2015
- パルプ―試験用手すき紙の調製方法―標準手すき機による方法
- JISP8225:2003
- パルプ―紙料の固形分濃度測定方法