JIS X 5151:2018 光情報配線試験 | ページ 10

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                                                              X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
                             図D.1−置換用試験コード接続部の減衰量
  規定の波長において測定した減衰量は,Pr及びP1を用いて,式(1)又は式(2)に従ってそれぞれ計算する。
  計算した結果は,記録するとともに,6.3.2及び表3に定義する規格値に対して合否を判定しなければな
らない。

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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
                                          附属書E
                                          (参考)
               拡張試験コード基準法及び試験コード基準法による
                              リンク及びチャネル減衰量
E.1   リンク減衰量のための基準法
  この附属書は,JIS X 5150に規定されているように光ファイバ配線リンクの減衰量測定に,試験コード
及び拡張試験コード基準法を用いることに対する指針及び選択情報を提供する。拡張試験コード基準法は,
チャネルの減衰量及びパーマネントリンクの減衰量を測定するために用いる。試験コード基準法は,パー
マネントリンクの減衰量を測定するためだけに用いることができる。
  敷設されたパーマネントリンクの両端のコネクタ接続部が異なるような場合でも,拡張試験コード基準
法は,同じ光コネクタの置換用試験コードを選ぶことによって,減衰量の測定が可能になる。置換用試験
コードの両端の光コネクタは,基準コネクタ品質のものであることに注意が必要である。
  リンクの減衰量測定の試験規定値及び予期される測定の不確かさは,試験コード基準法及び拡張試験コ
ード基準法の両方に対して同じである。
E.2   リンク減衰量のための試験コード基準法
  試験コード基準法は,次の限定した二つの条件を満たすことで適用することが可能である。
a) 被測定配線のインタフェースが,パワーメータのインタフェースと同一である。
b) 被測定配線の単芯インタフェース(又は単芯系と同様の取扱いが可能)である。
E.3   チャネル減衰量のための試験方法
  JIS X 5150の規定に従ってチャネルは,ネットワーク機器に接続する機器コードのコネクタを含まない。
ネットワーク機器に規定される光減衰量規格値は,機器と敷設された配線との接続に関連する減衰量を考
慮している。
  チャネル試験は,利用者の機器コードをチャネルの両端で利用し,これらの機器コードは,試験後はそ
のまま残す。チャネル試験方法は,通常はサービス実施時又は保守時に,チャネルの減衰量を測定するた
めに用いる。
E.3A 試験コード基準法
  試験コード基準法は,パーマネントリンクを測定するときの測定の不確かさを最小限に抑えることが可
能であるため,パーマネントリンクを測定するときに用いる基本的な試験方法である。
  基準値(Pr)を測定するときに,試験コード1本を使用して光源とパワーメータとを直接接続する。
  この規格の本文では,基準値(Pr)の測定後に被測定配線の測定を行う手順となっているが,本体の別
の場所で説明しているように,次の手順で試験を行うことを推奨する。この手順を行うことによって,試
験コードの不具合によって生じる各種の問題を回避することが可能となる。
a) 推奨手順
  手順1 試験コードの品質確認
  1) 9.1.1.3及び図9(上図)に従って,基準値を測定する(Pr)。

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  2)   .2及び図D.1(中図)に従って,試験コード(入射側試験コード及び出射側試験コード)を接続し
      た状態の測定値を測定する(P10)。
  3) 試験系の減衰量(Pr−P10)を算出する。
  4) 算出した値が,6.3.2の表3の要件に適合することを確認する。試験コードの端面を清掃して再試験
      を行ってもこの要件に適合しない場合には,この試験コードは使用しないほうがよい。
  手順2 配線試験
  5) 9.1.1.3及び図9に従って,測定値(P1)を測定する。
  6) 配線の減衰量は,次の式で計算する。
        配線の減衰量=Pr−P1(dB)
  7) 次の被測定配線を,手順の5) に戻り測定する。
        測定を繰り返すと,試験コード端面に異物が混入することがある。異物の混入などによって測定
      値の正当性が損なわれることがないように,手順1)4) を定期的に実施することを推奨する。
b) 推奨手順によって回避できる問題
  1) 基準値測定のときに用いる試験コードのパワーメータ側のコネクタ端面に,きず,汚れなどの不具
      合がある場合でも,a) の手順2)4) を行うことによって,不具合のある試験コードを発見でき,
      このことがより正確な測定結果を得るのに役立つ。
  2) 試験コードのコネクタ端面に,砂,ほこり(埃)などの固い異物が付着した状態で被測定配線に接
      続すると,被測定配線側のコネクタ端面にきずを付ける可能性が生じる。a) の手順2)4) を行う
      ことによって,異物の付着を発見できるので,被測定配線のコネクタ端面破損を防ぐことが可能で
      ある。
E.3B 拡張試験コード基準法
  チャネルを測定するときの測定の不確かさを最小限に抑えることが可能であるため,チャネルを試験す
るときに用いる基本的な試験方法である。ただし,片方向試験にしか対応できない。
  この方法では,近端側機器コード(実際にユーザが用いるコード)を使用して基準値測定をするため,
近端側機器コードの不具合を発見できない可能性がある。これを防止するために,次の手順で試験を行う
ことを推奨する。
a) 推奨手順
  手順1 試験コードの品質確認
  1)   .2及び図D.1(上図)に従って,光源及びパワーメータを入射側試験コードで接続して基準値を測
      定する(Pr0)。
  2)   .2及び図D.1(中図)に従って,試験コード(入射側試験コード及び出射側試験コード)を接続し
      た状態の測定値を測定する(P10)。
  3) 試験系の減衰量(Pr0−P10)を算出する。
  4) 算出した値が,6.3.2の表3の要件に適合することを確認する。試験コードの端面を清掃して再試験
      を行ってもこの規定に適合しない場合には,この試験コードは使用しないほうがよい。
  手順2 入射側機器コードの品質確認
  5) 出射側試験コードに替えて近端側機器コードを入射側試験コードとパワーメータとの間に接続する
      [図8(上図)]。
  6) 9.1.1.2及び図8(上図)に従って,基準値(Pr)を測定する。

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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
  7) 近端側機器コードと入射側試験コードとの接続による減衰量(Pr0−Pr)を算出する。
  8) 算出した値が,9.1.1.6の要件(対基準接続)に適合することを確認する。コード端面を清掃して再
      試験を行ってもこの要件に適合しない場合には,この機器コードは使用しないほうがよい。
  手順3 配線試験
  9) 近端側機器コードをパワーメータから取り外して被測定配線の近端側に接続し,パワーメータには
      遠端側機器コードを接続して被測定配線の遠端側に接続する[図8(下図)]。
  10) 試験測定を行う(P1)。
  11) 配線の減衰量は,次の式で計算する。
        配線の減衰量=Pr−P1(dB)
  12) 次の被測定配線を,手順5) に戻り測定する。

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                                          附属書F
                                          (参考)
                                          品質計画
F.1   検査及び試験計画
  この規格は,次の2段階の試験を規定する。
a) 第1段階 パーマネントリンク施工前の配線用部材に適用する試験
b) 第2段階 施工後のチャネル及びパーマネントリンクに適用する試験
  第2段階試験は,次の2群に分ける。
  1) 基本試験群
  2) 拡張試験群
  基本試験群に含まれる試験は,JIS X 5150及び同等の規格の要件に対して,チャネル及びパーマネント
リンクの適合を決定できる。測定は,光源及びパワーメータを用いて行う。
  測定した結果が,適用される規格に適合しない場合,不適合な部品を特定するために,拡張試験群によ
って,そのチャネル及びパーマネントリンクを調査することを推奨する。
  拡張試験群の試験は,OTDRを使うことによって可能となる部品単位の測定で,基本試験群の試験を補
完する。OTDRによる試験は,(トラブルシュート又は施工不良のために)局部的なイベントのグラフ表示
が必要な場合,又は画像の記録が書類作成のため及び管理上の目的で要求される場合に用いる。
F.2   第1段階検査及び試験
  次の試験は,第1段階試験計画に含めてもよい。
a) 10.1による光ファイバ減衰量試験
b) 10.5による光ファイバ長試験(及び/又は伝搬遅延試験)
  次の試験は,第1段階検査計画の中で実施できる。
c) 11.3による光ファイバケーブル長試験
d) 11.1による連続性試験
F.3   第2段階試験
F.3.1  基本試験群
  次の試験は,基本試験群に含まれる。
a) 9.1.1によるチャネル又はパーマネントリンクの減衰量試験
b) 9.2によるチャネル又はパーマネントリンクの伝搬遅延試験
c) 9.3によるチャネル又はパーマネントリンク長試験
d) 11.1による連続性試験
e) 11.2による極性維持試験
f)  附属書Bによる汚れに対する磨いた端面の目視検査
  LSPM試験装置に伝搬遅延測定機能がない場合,チャネル又はパーマネントリンク長試験を検査基準に
加えることができる。
F.3.2  拡張試験群

――――― [JIS X 5151 pdf 50] ―――――

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