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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
5.3 環境条件
5.3.1 伝送機器及び端末機器の保護
伝送機器及び端末機器は,この規格によるあらゆる試験又は検査が実施される前に,被測定配線から切
り離さなければならない。
5.3.2 検査及び光コネクタの清掃
被測定配線,試験コード及び試験機器のインタフェースのほこり,汚れ又はその他の異物は,誤った結
果を生み出すおそれがあり,場合によっては被測定配線を傷めるおそれがある。
試験コードの光コネクタ端面は,附属書Bに従って検査しなければならない。
コネクタ端面に汚れがある又は異物が付着している場合は,附属書Hの提案に従って清掃し再検査する
ことを推奨する。試験コードの光コネクタ端面が傷ついたり,附属書Bの要件に合わない場合は,試験コ
ードを取り換えなければならない。
被測定配線の光コネクタ端面は,附属書Bに従って検査しなければならない。コネクタ端面に汚れがあ
る又は異物が付着している場合は,附属書Hに従って清掃し附属書Bに従って再検査することを推奨する。
被測定配線の光コネクタ端面が傷ついたり,附属書Bの要件に合わない場合は,そのコネクタを交換する
という提案と合わせて,不具合を報告しなければならない。
5.3.3 試験装置の使用
外部要因(例えば,環境的,電磁気的,物理的要因)は,試験装置に悪影響を与え,測定結果に影響す
る。試験装置は,その試験装置の製造業者が提供する仕様書に従って取り扱わなければならない。
製造業者が提供する仕様書の中で指定されていない場合は,試験装置は,基準測定をする少なくとも15
分前に試験環境で安定した状態にしなければならない。
5.3.4 測定の妥当性
測定は,次のいずれかでなければならない。
a) 意図した動作環境の代表値である環境下で行う。
b) 代表値ではない環境下での測定であることを試験報告書に記載する。
5.3.5 判定困難の取扱い
判定困難は,次の方法で取り扱うことができる。
a) 同じ試験系を用いて試験系の基準測定から再測定する。
b) 全ての判定困難を容認する。
c) 改善した測定の不確かさをもつ別の試験系を用いて再測定する。
5.4 文書
文書には,次の項目を含まなければならない。
a) D及び試験項目の詳細
b) チャネル又はパーマネントリンク
c) 試験装置
1) 型式及び製造業者
2) シリアル番号及び校正状態
3) 測定波長
d) 光ファイバ配線の詳細(光ファイバケーブルの性能カテゴリ,例えば,OM2,OM3,OM4,OS1,OS2)
e) 配線の光コネクタ型の詳細
f) 試験中の配線試験装置の設定
――――― [JIS X 5151 pdf 11] ―――――
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g) 測定結果
h) 適用要件
i) 参照番号及び試験方向の詳細
j) 試験日(試験時刻を加えてもよい)
k) 試験員名
l) 試験系の計算上の測定の不確かさ(検討中)
注記 試験系の計算上の不確かさは,現在ISO/IEC SC 25で審議されている。この情報は,追補1で
追加される予定である。
5.5 品質計画
品質計画(検査及び試験計画)については,附属書Fを参照する。
6 試験装置
6.1 光源及びパワーメータ
6.1.1 一般
IEC 61280-4-1,IEC 61280-4-2及びJIS C 5961(IEC 61300-3-4)に基づいて,JIS X 5150に規定するリ
ンク減衰量及びチャネル減衰量(減衰量は,挿入損失とも呼ばれる。)をLSPM法で測定する場合,次の
事項を適用する。
6.1.2 光源
試験波長に対する要件は,JIS X 5150及びISO/IEC 14763-2を参照する。マルチモード光ファイバ及び
シングルモード光ファイバ配線の試験には,それぞれLED光源及びファブリペロレーザ光源を使用するこ
とを推奨する。ビクセルレーザ光源は使用しないほうがよい。マルチモード光ファイバ配線及び接続器具
などの構成要素を試験するための光源は,IEC 61280-1-3に従って測定した場合,表1の波長特性に適合し
なければならない。
表1−マルチモード光ファイバ用光源の特性
中心波長
(nm)
850±30
1 300±30
シングルモード光ファイバを試験するための光源は,IEC 61280-1-3に従って測定した場合,表2の波長
特性に適合しなければならない。
表2−シングルモード光ファイバ用光源の特性
中心波長
(nm)
1 310±30
1 550±30
6.1.3 パワーメータ
パワーメータは,光パワーの測定値を少なくとも小数点第2位まで表示しなければならない(例 −14.32
――――― [JIS X 5151 pdf 12] ―――――
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dBm,2.19 dB)。
試験装置(LSPM)をリンク又はチャネル減衰量測定のために用いる場合,測定の不確かさは,±0.2 dB
(検討中)以内であることが望ましい。
試験装置(LSPM)をその損失を測定することによって基準光コネクタの現場確認のために用いる場合,
測定の不確かさは,0.2 dB(検討中)未満であることが望ましい。
パワーメータが受光素子部と取り外し可能な光アダプタとで構成されている場合は,その光アダプタは,
パワーメータの製造業者が提供した手順書に従って取り付けなければならない。
6.1.4 試験系の安定性(検討中)
光源は,±0.1 dBの安定性をもつことが望ましい。
注記 測定された光パワーと実際の光パワーとの間の非直線性は,測定誤差の要因となる。また,内
部に導波路を保有するパワーメータは,モード条件の変動によって測定値の変動を引き起こす
おそれがある。
6.2 OTDR
6.2.1 一般
マルチモード光ファイバ配線及び部品を試験するOTDRは,表1の中心波長に適合しなければならない。
シングルモード光ファイバを試験するOTDRは,表2の中心波長に適合しなければならない。
OTDRによる測定は,入射側試験コード及び出射側試験コードを用いて行わなければならない。
OTDRについてのより詳しい情報は,附属書Cを参照する。
6.2.2 入射側試験コード及び出射側試験コードを用いた場合のOTDRによる測定
入射側試験コード及び出射側試験コードを用いたOTDRによる測定の特徴は,次のとおりである。
a) 図3に示す一方向特性波形が得られる。
b) 被測定配線に対する連続性試験が可能である。
c) 被測定配線の近端側及び遠端側インタフェースの特性,敷設されたケーブルの特性及び接続部の特性
についての情報が得られる。
d) それぞれの方向での測定値を用いて被測定配線の近端側及び終端側のインタフェースの定量的な測定
ができる。
e) 一方向でチャネル又はリンクの定量的な減衰量測定(箇条8参照)を行うためには,次の要件に適合
する必要がある。
− チャネル又はリンクが1本のケーブル及び終端された光コネクタだけで構成されている。
− 入射側試験コード及び出射側試験コードの光ファイバの後方散乱特性が被測定配線の光ファイバ
と同じである。
f) 両方向の測定で中間に接続部をもつチャネル又はリンクの定量的な減衰量測定(箇条8参照)を行う
ためには,次の要件に適合する必要がある。
− パーマネントリンク,チャネル又は接続部の損失を両方向から測定し,該当する測定結果を平均
化する。
− 配線内の接続部間の距離は,OTDRのデッドゾーンより長い(C.2.1参照)。
――――― [JIS X 5151 pdf 13] ―――――
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図3−入射側試験コード及び出射側試験コードを用いたOTDRによる測定波形
6.3 試験コード及び光アダプタ
6.3.1 試験インタフェースの接続器具
被測定配線に接続する接続器具(例 入射側試験コード及び出射側試験コード),置換用試験コード及び
この規格の試験方法の一部として用いる接続器具アダプタは,次の要件を満たさなければならない。
a) 試験インタフェースの接続器具は,被測定配線の両端に取り付けられた光コネクタ以上の性能をもつ
ことが望ましい。
b) 光コネクタの研磨端面の曲率半径,球面偏心量及び光ファイバ引込み量は,次の規格によることが望
ましい。
− MMF用2連LC光コネクタは,IEC 62664-1-1
− SMF用LC光コネクタは,IEC 62664-1-2(検討中)
− MMF用2連SC光コネクタは,IEC 60874-19-1
− SMF用SC光コネクタは,IEC 60874-14-3
c) EC規格によって相互接続性が保障されない場合,接続器具アダプタの製造業者によって指定された
ものと同一製品であることが望ましい。
注記1 LC光コネクタ規格のIEC 62664規格群だけが相互接続性を規定する。
d) 使用する接続器具アダプタは,次の関連IEC製品規格に適合する基準光アダプタでなければならな
い。
− MMF用2連LC光コネクタは,IEC 62664-1-1
− SMF用SC光コネクタは,IEC 60874-14-3
テストコード及び光アダプタの検査並びに試験は,一連の基準測定作業が実施される前に附属書Dに従
って行わなければならない。
――――― [JIS X 5151 pdf 14] ―――――
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注記2 MPOインタフェースの場合,光アダプタが存在しないため,接続の最終的な位置合せには影
響しない。
6.3.2 基準光コネクタの要件
円筒形及び角形の基準光コネクタの要件は,表3による。
表3−LC光コネクタ以外の基準光コネクタ要件
円筒形フェルールを用いた 角形フェルールを用いた
光コネクタ 光コネクタ
MMF SMF MMF SMF
コア偏心量 <1 μm <0.3 μm 適用外 適用外
コア位置ずれ量 適用外 適用外 <1 μm <0.3 μm
出射角 ≦0.2° ≦0.2° ≦0.2° ≦0.2°
フェルール外径精度 ±0.5 μm ±0.5 μm 適用外 適用外
基準光コネクタ相互の接続減衰量 ≦0.10 dB ≦0.20 dB ≦0.10 dB ≦0.20 dB
LC基準光アダプタは,IEC 62664-1-1に規定され,減衰量は,IEC 61300-3-42によって測定する。
シングルモード基準PCコネクタの反射減衰量は,45 dB以上でなければならない。
シングルモード基準APCコネクタの反射減衰量は,60 dB以上(かん合時)及び55 dB以上(未かん合
時)でなければならない。
マルチモード基準PCコネクタは,グレード3(35 dB以上)の要件に適合しなければならない。
シングルモードPCコネクタ及びシングルモード斜めPCコネクタの形状データは,それぞれIEC
61755-3-1及びIEC 61755-3-2による。
基準光コネクタは,一群で測定する全ての他のコネクタに対して低い減衰量をもつように調整されてい
なければならない。
6.3.3 試験コード
6.3.3.1 一般
それぞれの試験コードは,次の要件に適合することが望ましい。
a) 試験コードの光ファイバの代表特性[コア/クラッド径,モードフィールド/クラッド径,及び開口
数(NA)]は,被測定系の光ファイバと同じである。
b) それぞれの光コネクタは,他のものと区別できる識別子のラベルを表示する(図4参照)。
c) 試験コードは,2 m以上の長さをもつ。
d) 試験コードは,光ファイバの減衰量が測定値に重要な影響を与えるほど長くない。
注記 最大試験コード長10 mは,ほとんどの応用システムにおいて問題がないと考えられている。例
えば,マルチモードファイバ10 mの減衰量は,850 nmにおいて,0.035 dB以下である。
――――― [JIS X 5151 pdf 15] ―――――
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JIS X 5151:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 14763-3:2014(IDT)
JIS X 5151:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.200 : インタフェース及び相互接続設備
JIS X 5151:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5961:2005
- 光ファイバコネクタ試験方法
- JISC6803:2013
- レーザ製品の安全―光ファイバ通信システムの安全
- JISX5150:2016
- 構内情報配線システム