JIS X 5151:2018 光情報配線試験 | ページ 4

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                                                              X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
                               図4−試験コードのラベル及び識別例
6.3.3.2  LSPM入射側試験コード
  入射側試験コードは,次の条件を満たさなければならない。
a) 一端は,光源との接続に適切な光コネクタが1個以上で終端されている。
b) 他端は,敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタ1個以上で終端されている。
  マルチモードLSPM入射側試験コードに関して,光源が規定のモード分布(6.4参照)を提供するかど
うか不明な場合には,入射モード分布が適正な状態を維持するために,入射側試験コードに適切なモード
コントローラを取り付けなければならない。
6.3.3.3  LSPM出射側試験コード
  出射側試験コードは,次の条件を満たさなければならない。
a) 一端は,パワーメータとの接続に適切な光コネクタ1個以上で終端されている。
b) 他端は,敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタ1個以上で終端されている。
6.3.3.4  LSPM複合入射側及び出射側試験コード
  2連の入射側及び出射側試験コードは,次の条件を満たさなければならない。
a) 一端は,LSPM装置との接続に適切な一つの2連基準光コネクタ又は二つの基準光コネクタ(2連化
    可能)で終端されている。
b) 他端は,敷設した配線のインタフェースと互換性のある一つの2連基準光コネクタ又は二つの基準光
    コネクタ(2連化可能)で終端されている。
6.3.3.5  LSPM置換用試験コード
  置換用試験コードは,両端に敷設された配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタが付いて
いなければならない。
6.3.3.6  OTDR入射側試験コード
  OTDRは,規定する入射モード分布(6.4参照)を出力することが望ましい。マルチモードOTDR入射
側試験コードに関してOTDR光源が規定のモード分布を出力するかどうか不明な場合には,入射モード分
布が適正な状態を維持するために,入射側試験コードに適切なモード調整ジグを取り付けなければならな
い。
  OTDR入射側試験コードは,次の要件に適合することが望ましい。
a) 全長は,OTDRの減衰量デッドゾーンよりも長い(詳細は,附属書C参照)。

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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
b) 信頼性がある減衰量測定が行えるように,デットゾーンに続く後方散乱波形に対して信頼性がある直
    線近似が行えるだけの十分な長さをもつ(図11のC1C2部分)。例えば,入射側試験コードは,マ
    ルチモードファイバ配線の場合75 m以上必要であり,シングルモードファイバ配線の場合150 m以
    上必要である。
c) 一端は,OTDRとの接続に適切な光コネクタ1個以上で終端されている。
d) 他端は,敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタ1個以上で終端されている。
  OTDR入射側試験コードに用いる光ファイバの一部は,きょう(筐)体(図5参照)で保護することが
しばしば求められる。
                     図5−OTDR入射側試験コード及び出射側試験コードの構成
  被測定配線又は被測定部品のインタフェースが2連型の場合には,2本の光ファイバは,被試験ケーブ
ルの極性の維持管理を行うために違った長さでなければならない。OTDRとの接続は,図4に示す表示を
付け,相互に識別可能にしなければならない。
6.3.3.7  OTDR出射側試験コード
  OTDR出射側試験コードは,次の要件に適合しなければならない。
a)   TDRの減衰量デッドゾーンより長い(詳細は,附属書C参照)。
b) 信頼性がある減衰量測定が行えるように,デットゾーンに続く後方散乱波形に対して信頼性がある直
    線近似が行えるだけの十分な長さをもつ(図11のC3C4部分)。例えば,出射側試験コードの長さ
    は,マルチモードファイバ配線の場合少なくとも75 mであり,シングルモードファイバ配線の場合

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    少なくとも150 mである。
c) 一端は,敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタで終端されている。
  反対側の終端は,必ずしも必要ない。
  OTDR出射側試験コードに用いる一定長の光ファイバは,きょう(筐)体で保護することが望ましい(図
5参照)。

6.4 MMF入射モード分布(LMD)

  試験接続点において,入射モード分布は,附属書Aの要件に適合しなければならない。
  要求される入射モード分布は,適切な光源を用いることによって,又は入射側試験コードに内蔵される
モードコントローラによって実現する。

6.5 SMF入射条件

  シングルモード入射条件は,入射側試験コードを2回以上,直径35 mm50 mmの輪を作るか,又はマ
ンドレルに巻くことによって実現する。しかしながら,一般的にこれは,試験装置の内部で提供され,入
射側試験コードに外付けの輪を作ることを必要としない。

7 検査装置

  光コネクタ端面は,IEC 61300-3-35に従って検査しなければならない。光コネクタの端面検査に用いる
顕微鏡は,最低250 mの視野があり,マルチモード光ファイバに対しては少なくとも100倍,シングル
モード光ファイバに対しては少なくとも200倍の観察倍率をもたなければならない。完成した角形コネク
タのフェルール端面は,汚れに対して低倍率で検査しなければならない。適正な検査のために,顕微鏡は,
光コネクタを適正な位置に安定して保持する機構を備えていなければならない。
  直視型顕微鏡は,突発的な目の傷害を防ぐために,適切な赤外遮断フィルタを備えていなければならな
い。検査員が観察する端末の反対側が管理されていないような状況では,特にこの点が重要である。
  運用中のファイバシステムに直視型顕微鏡を用いてはならない。
  より詳細な説明は,附属書Bも参照する。

8 被測定配線-チャネル及びパーマネントリンク

8.1 一般

  パーマネントリンクについて,この箇条で触れているが,JIS X 5150では,この規格に従って試験する
べきサブリンクについての要件を規定している。

8.2 基準面

  JIS X 5150及び同等の規格は,図6に示す代表的な基準面に対してチャネル及びパーマネントリンクの
伝送特性を規定している。

――――― [JIS X 5151 pdf 18] ―――――

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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
              図6−JIS X 5150及び同等規格で規定するチャネル及びパーマネントリンク
  チャネル及び/又はパーマネントリンクの光学特性を測定するために設置した測定系の不確かさは,そ
の基準面で決まる。チャネルの試験構成基準面は,試験コードと機器コードとの接続部は含まず,接続部
に隣接した機器コード内にある(図7参照)。パーマネントリンクの試験構成基準面は,被測定パーマネ
ントリンクの終端点にかん合する試験コードの接続部を含み,接続部に隣接した試験コード内にある(図
7参照)。
注記 点線に囲まれた領域は,ケーブル,接続及び追加の接続部を含む。
                         図7−チャネル及びパーマネントリンクの試験構成
  次の点に注意することを推奨する。

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a) 試験コードと被試験パーマネントリンク又はチャネルとの間のインタフェースにおける光ファイバ及
    び光コネクタの状態によって,測定結果にばらつきが発生する。
b) 減衰量が小さい短い長さの場合は,測定結果のばらつきは,測定値に対して無視できない程度に大き
    くなる場合がある。これによって,減衰量を正確に測定できない最低損失の限度が定まる。
c) 測定を再現するためには,使用した試験コードの構成も含めて測定条件を再現することが必要である。
    試験系の構成が変わると,測定結果が一致しない場合がある。

8.3 測定波長

  光情報配線試験がJIS X 5150及び同等の規格に適合するために,特に取決めがない限り,箇条9及び箇
条10に規定する伝送性能の測定(減衰量,又は減衰量及び反射減衰量)は,次の公称波長を用いなければ
ならない。
a)   MF 850 nm及び1 300 nm(表1参照)
b)   MF 1 310 nm及び1 550 nm(表2参照)

8.4 測定方向

  箇条9及び箇条10は,片方向又は両方向の測定方法についての要件を規定する。特性が不明の部品が含
まれたリンクの適合試験に対しては,両方向試験を実施しなければならない。

9 敷設配線の試験

9.1 減衰量

9.1.1  LSPM
9.1.1.1  一般
  IEC 61280-4-1,IEC 61280-4-2及びJIS C 5961(IEC 61300-3-4)から引用した次の試験方法は,パーマ
ネントリンク及びチャネルのLSPM法による減衰量測定に関するJIS X 5150と整合性が取れている。
9.1.1.2  敷設チャネルの拡張試験コード減衰量試験方法
  チャネル試験の手順は,次のとおり実施する。
  基準測定手順は,シングルモードファイバ及びマルチモードファイバの両方に関して図8に示すとおり,
光源とパワーメータとの間に入射側試験コード及び設置機器の出力に接続される近端側機器コードを接続
して行うことが要求される。
  基準値(Pr)は,ワット(W)又はデシベルmW(dBm)で記録しなければならない。
  近端側機器コードは,光源との接続を保持しつつ,パワーメータから切り離し,敷設された配線に再接
続する。
  パワー(P1)は,遠端側機器コードで直接測定する。
  測定値(P1)は,ワット(W)又はデシベルmW(dBm)で記録しなければならない。
  入射側試験コードは,6.3.3.2(又は6.3.3.4)に従っていなければならない。
  チャネルの減衰量は,式(1)で計算する。
                        A   PrP1 (dB)  (1)
  ここで,P1及びPrは,dBmで表される。
  P1及びPrがWで表される場合,測定減衰量は,式(2)で計算する。
                                  P1
                         A   10 lg   (dB)  (2)
                                  Pr
  チャネル試験は,一方向だけで行う。

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