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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
図8−敷設されたチャネルのLSPM拡張試験コード基準法による減衰量測定
9.1.1.3 試験コード基準法によるリンクの試験方法
敷設されたパーマネントリンクの減衰量は,拡張試験コード基準法を用いて,又は敷設配線両端の光コ
ネクタと試験装置の光コネクタとに互換性がある場合は,試験コード基準法を用いて測定してもよい。
試験コード基準法と拡張試験コード基準法との違いは,附属書Eを参照する。
基準測定は,図9に示すように,光源とパワーメータとを6.3.3.2に規定する入射側試験コードで接続し
て行う。
基準値(Pr)は,ワット(W)又はデシベルmW(dBm)で記録しなければならない。
出射側試験コードは,入射側試験コードと光源との接続を保持しつつ,パワーメータと接続しなければ
ならない。
入射側試験コード及び出射側試験コードのコネクタ減衰量は,それらのコードを共に接続することによ
って確認してもよい。そして,この接続の減衰量が,二つの基準光コネクタ間の減衰量以下であることを
確認する。試験コードの検査及び試験に対する更なる情報は,附属書Dを参照する。
被測定配線は,入射側試験コード及び出射側試験コード間に接続し,その試験測定値P1は,ワット(W)
又はデシベルmW(dBm)で記録しなければならない。減衰量は,それぞれ式(1)又は式(2)によって決定し
なければならない。
――――― [JIS X 5151 pdf 21] ―――――
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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
単一光源及びパワーメータの試験構成
図9−敷設されたパーマネントリンクのLSPM試験コード基準法による減衰量測定
9.1.1.4 一方向試験及び両方向試験
1本の固定ケーブルと終端された光コネクタとだけで構成されたパーマネントリンクは,一方向試験で
よい。パーマネントリンク又はチャネルの構成がより複雑な場合,又は測定方向によって異なった減衰量
を示す部品が被測定配線の中にある場合には,両方向の測定を行わなければならない。
9.1.1.5 試験結果
規定の波長及び測定方向で測定した減衰量は,それぞれ式(1)又は式(2)で計算する。
例えば,基準値Prが−20 dBm(0.01 mW)で,測定値P1が−23 dBm(0.005 mW)の場合の減衰量は,3
dBとなる。
両方向から測定した場合には,その二つの測定値の大きい値を測定結果としなければならない。
9.1.1.6 試験系の測定の不確かさ
パーマネントリンクの測定減衰量は,試験インタフェース両側の二つの光ファイバの軸合せによって影
響を受ける。
この規格による基準光コネクタ付き試験コードを用いることによって,ばらつきが減少し,その結果,
通常の光コネクタ付きコードを用いたときと比較すると,測定の不確かさは小さくなる。
測定の不確かさを確定するために,被測定配線の両端の光コネクタに関して次の情報を与えなければな
らない。
a) MF基準コネクタに対するMMF接続の最大減衰量
b) MF基準コネクタに対するSMF接続の最大減衰量
JIS X 5150に従って接続器具の標準値を表4に示す。
――――― [JIS X 5151 pdf 22] ―――――
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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
表4−接続器具の減衰量
MMF SMF
光コネクタの種類 減衰量 減衰量 減衰量 減衰量
(ランダム接続) (対基準接続) (ランダム接続) (対基準接続)
IEC 62664-1-1 最大0.30 dB 50 % 最大0.50 dB − −
性能グレードB 最大0.60 dB 97 %
IEC 62664-1-2 − − 最大0.25 dB 50 % 最大0.75 dB
性能グレードC a) 最大0.50 dB 97 %
JIS X 5150 最大0.75 dB 100 % − 最大0.75 dB 100 % −
注a) 検討中
基準光アダプタで基準光コネクタを相互に接続した場合の最大減衰量に対する要件を,6.3.2及び表3に
示す。
9.1.1.7 チャネル試験結果の取扱い
9.1.1.2に規定する拡張試験コード基準法を使用したチャネル減衰量試験の規定値は,次による。
Σ(ケーブル減衰量)+Σ(接続部の減衰量)
これらの計算例を,附属書Gに示す。
規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格,不合格又は判定困難の判定を付与しな
ければならない。
9.1.1.8 パーマネントリンク試験結果の取扱い
試験コードへの基準光コネクタの使用は,パーマネントリンク減衰量試験の規定値の計算に影響を及ぼ
す。基準測定には,表3に従った基準コネクタ相互の接続減衰量が含まれている。リンクの測定において
は,試験コードとJIS X 5150に規定される非基準終端との接続減衰量が含まれる。その接続減衰量を,表
4に示す。
9.1.1.2で規定する試験コード基準法又は拡張試験コード基準法を用いると,パーマネントリンクの減衰
量試験に関する規定値(Alim)は,次の式による。
MMFの場合,
Alim=(2×0.5)+Σ(ケーブルの減衰量)+Σ(接続部の減衰量)
SMFの場合,
Alim=(2×0.75)+Σ(ケーブルの減衰量)+Σ(接続部の減衰量)
(グレード1基準光コネクタの場合)
被測定配線のインタフェースの光コネクタ性能がJIS X 5150の規定に適合しない場合には,表3及び表
4に相当する情報を決める情報は,光コネクタの製造業者から得ることを推奨する。
注記 拡張試験コード基準法を用いる場合,ALTC/STCは,入射側試験コードの基準光コネクタと置換用
試験コードの基準光コネクタとの測定された減衰量である。
9.1.2 OTDR
9.1.2.1 試験方法
6.3.3.6に従った入射側試験コードは,OTDRと被測定配線との間に接続しなければならない。6.3.3.7に
従った出射側試験コードは,被測定配線の遠端に接続しなければならない。
OTDR出力は,附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し,次の項目を適切に設定する。
a) レンジ
――――― [JIS X 5151 pdf 23] ―――――
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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
b) パルス幅
c) OR
d) 平均化時間
9.1.2.2 チャネル試験結果の取扱い
配線の減衰量測定の前に,入射側試験コード及び出射側試験コードの基準光コネクタを接続して,その
品質を検証しなければならない。
敷設された配線の減衰量は,図10又は図11に示すいずれかで測定しなければならない。
図10は,敷設された配線の減衰量を測定しなければならない2点を示す。機器コードが非常に短い場合
及び/又はOTDRデッドゾーンが長い場合は,減衰量測定の正確さが低下する可能性がある。
次の点に注意する。
a) 二つの反射波形がC1及びC2の周りの部分に近接し,機器コードの光ファイバの長さが直線状の部分
を得るために十分でない場合は,より正確な5点減衰量測定を行うことができない。
b) 機器コードが非常に短い場合及び/又はOTDRデッドゾーンが長い場合は,チャネル減衰量を測定で
きない可能性がある。
図11は,機器コードのコネクタの減衰量を加えて測定するチャネルの減衰量の代替え手段を示す。
チャネル減衰量の結果は,両方向から測定を行い,その二つの測定値の平均を計算することによって得
る。被測定配線の光ファイバがその両端に光コネクタを終端した単一のケーブルだけで構成され,光ファ
イバの後方散乱係数が入射側試験コード及び出射側試験コードと同一の場合には,単一方向からの測定だ
けでよい。
規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格,不合格又は判定困難の判定を付与しな
ければならない。
――――― [JIS X 5151 pdf 24] ―――――
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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
記号 LTC 入射側試験コード
TTC 出射側試験コード
EC 機器コード
C1,C2 2点法によるチャネル減衰量を示すカーソル
A チャネルの減衰量
L チャネル長
図10−2点減衰量測定法による敷設されたチャネルのOTDR測定
9.1.2.3 パーマネントリンク試験結果の取扱い
図10は,敷設された配線の減衰量を測定する点を示す。
パーマネントリンク減衰量の結果は,両方向から測定を行った二つの測定値の平均値とする。被測定配
線の光ファイバがその両端に光コネクタを終端した単一のケーブルだけで構成され,それらの光ファイバ
の後方散乱係数が入射側試験コード及び出射側試験コードと同一の場合には,単一方向からの測定だけで
よい。
図11における減衰量測定値と8.2のパーマネントリンク基準面との比較は,JIS X 5150又は同等の規格
に規定するパーマネントリンクの制限減衰量は,次の規定最大減衰量の合計でなければならないことを示
す。
a) 被測定配線のインタフェース部における接続減衰量(基準に対する結合)
b) 被測定配線中の接続部
c) 被測定配線中のケーブル(光ファイバケーブルの長さの減衰量がその長さによって増加する減衰量係
数から計算される場合)
――――― [JIS X 5151 pdf 25] ―――――
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JIS X 5151:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 14763-3:2014(IDT)
JIS X 5151:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.200 : インタフェース及び相互接続設備
JIS X 5151:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5961:2005
- 光ファイバコネクタ試験方法
- JISC6803:2013
- レーザ製品の安全―光ファイバ通信システムの安全
- JISX5150:2016
- 構内情報配線システム