JIS X 5151:2018 光情報配線試験 | ページ 6

                                                                                             23
                                                              X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
  規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格,不合格又は判定困難の判定を付与しな
ければならない。
   記号 LTC               入射側試験コード
       TTC                出射側試験コード
       C1,C2,C3,C4     直線近似を定義するカーソル
       C5,C6             パーマネントリンクの減衰量を示すカーソル
       A                  パーマネントリンクの減衰量
       L                  パーマネントリンク長
                       図11−敷設配線のOTDR測定(パーマネントリンク)
9.1.2.4  試験系の測定の不確かさ
    注記 試験系の測定の不確かさは,検討中。
  チャネル又はパーマネントリンクの測定減衰量は,試験インタフェース両側での光ファイバ相互の軸合
せに影響される。
  この規格で規定する基準光コネクタ付きの試験コードを用いると,測定値の不確かさが減少し,その結
果,より正確な測定結果が得られる。
  測定の不確かさを決めるために,被測定配線に取り付けられている光コネクタに関して次の情報を試験
結果とともに記録することを推奨する。
a)   MFについては,MMF基準光コネクタに対する最大減衰量
b)   MFについては,SMF基準光コネクタに対する最大減衰量
  JIS X 5150に従って接続器具のための基準値を表4に示す。

9.2 伝搬遅延

9.2.1  試験方法

――――― [JIS X 5151 pdf 26] ―――――

24
X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
  光ファイバは,時間領域で光信号の伝搬を測定できる機器,例えば,OTDRを用いて,又はある種の光
源及びパワーメータの組合せによって試験する。このタイプの試験装置は,光ファイバ長の計算値も表示
する。
  伝搬遅延は,式(4)で計算する。
                             OF
                        T   L   n/ c  (4)
                      ここに,       T :  伝搬遅延
                                   LOF :  光ファイバ長
                                     c :  真空中の光速(3×108 m/s)
                                     n :  光ファイバコアの群屈折率(IOR)
    注記 nは,全ての光ファイバにおいても,およそ1.5であり,公式は,T=LOF×5 ns/mで近似される。
9.2.2  試験結果の取扱い
  伝搬遅延の規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格,不合格又は判定困難の判定
を付与しなければならない。

9.3 長さ

9.3.1  試験方法
  光ファイバ長試験は,伝搬遅延時間を測定できる機器(例えば,OTDR)を用いて試験する(9.2.1参照)。
光ファイバケーブル長の決定は,11.3を参照する。
9.3.2  測定の不確かさ
  被測定配線の中に含まれる伝送路の測定長は,ケーブルの物理長ではなく,(正確な実効群屈折率に基づ
く)光ファイバ長である。光学的に測定した光ファイバ長とケーブルの物理長とは異なる可能性がある。1
本のケーブルに複数の光ファイバが入っている場合,光ファイバ個々の長さも異なっている可能性がある。
  光ファイバの長さは,常にケーブルの長さと同じかそれよりも長い。この両者の差は,ケーブルの構造
による。具体的な情報が必要な場合は,ケーブル製造業者に問い合わせることを推奨する。
9.3.3  試験結果の取扱い
  9.3.2に示す限界及び制限事項は,測定の不確かさの報告に含めなければならない。
  長さの規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格,不合格又は判定困難の判定を付
与しなければならない。
  試験装置で光ファイバ長を求めるために,被測定光ファイバケーブルの製造業者によって提供される伝
搬速度又は群屈折率が必要である。仮に,製造業者によってその値が提供されず(例えば,不明のケーブ
ルの検査),別の値を用いる場合は,発生するあらゆる誤差の影響を施工業者と利用者との間で認識し合意
しておくことを推奨する。群屈折率の初期設定は,表C.1を参照する。
    注記 長さの規格値は,使用する応用システムによって規定されている。マルチモード光ファイバケ
          ーブルを使用した配線の場合,長さ情報は重要である。

10 既設配線内の配線部材の試験

10.1 光ケーブルの減衰量

10.1.1  試験方法
  チャネル又はパーマネントリンク(箇条8参照)を試験するために,6.3.3.6に従った入射側試験コード
は,OTDRと被測定配線との間に接続する。
  端末加工がされていない光ファイバを試験するために,6.3.3.6に従った試験インタフェースコネクタの

――――― [JIS X 5151 pdf 27] ―――――

                                                                                             25
                                                              X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
ない入射側試験コードは,OTDRと被測定光ファイバとの間に接続する。
  OTDR出力は,附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し,次の項目を適切に設定する。
a) レンジ
b) パルス幅
c)   OR
d) 平均化時間
  この方法は,JIS C 6832の石英系マルチモード光ファイバ素線及びJIS C 6835の石英系シングルモード
光ファイバ素線に適合した光ファイバケーブルの減衰量の均一性の確認にも使うことができる。
  被測定配線は,一方向で測定する。
10.1.2  測定の不確かさ
  測定は,OTDRの減衰量デッドゾーン(附属書C参照)を避けた光ファイバ部で行い,接続器具を含め
てはならない。
  減衰係数は,OTDRによる任意の2点間の後方散乱パワーの差(損失)を2点間の距離で除して求める。
距離が短い場合,たとえ損失の不確かさが小さくても,減衰係数の計算結果には大きな不確かさが生じる
場合がある。
  例えば,距離が50 mの場合,±0.05 dBの損失の不確かさは,±1.0 dB/kmの減衰係数の不確かさとなる。
このため,減衰係数は,短い光ファイバで測定しないことを推奨する。
  むしろ,減衰係数は,後方散乱光信号の直線回帰によって求めることができる(LSA法)。
  最短の光ファイバ長は,MMF及びSMF測定並びに使用波長によって異なる。OTDRの製造業者は,減
衰係数を正確に測ることができる最短光ファイバ長の推奨値を提供しなければならない。
10.1.3  測定結果の取扱い
  図12は,被測定配線の光ファイバ減衰量の測定点を示す。
  測定結果は,単純な減衰量(単位はdB)又は減衰係数(単位はdB/km)である。
  光ケーブルの減衰量の規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格又は不合格の判定
を付与しなければならない。
    注記 光ケーブルの減衰量の規格値は,1 km当たりの減衰量として規定されている(JIS X 5150参照)。

――――― [JIS X 5151 pdf 28] ―――――

26
X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
   記号 LTC       入射側試験コード
       TTC        出射側試験コード
       C1,C2     直線近似を定義するカーソル
       A          光ファイバの減衰量
       L          光ファイバ長
                              図12−光ファイバ減衰量のOTDR測定

10.2 近端及び遠端試験インタフェースの減衰量

10.2.1  試験方法
  6.3.3.6に従った入射側試験コードは,OTDRと被測定配線との間に接続する。6.3.3.7に従った出射側試
験コードは,被測定配線の遠端側に接続する。
  OTDR出力は,附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し,次の項目を適切に設定する。
a) レンジ
b) パルス幅
c)   OR
d) 平均化時間
  被測定配線は,両方向で測定しなければならない。
10.2.2  試験系測定の不確かさ
    注記 試験系測定の不確かさは,検討中。
  チャネル又はパーマネントリンクの減衰量の測定値は,試験インタフェース両側での光ファイバ相互の
軸合せに影響される。
  この規格による基準光コネクタ付き試験コードを用いると,ばらつきが減り,より正確な測定結果が得
られる。
  測定の不確かさを決めるために,次の情報が被測定配線に終端されている光コネクタに示されることが

――――― [JIS X 5151 pdf 29] ―――――

                                                                                             27
                                                              X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
望ましい。
a)   MFについては,MMF基準光コネクタに対する最大減衰量
b)   MFについては,SMF基準光コネクタに対する最大減衰量
  JIS X 5150に従って接続器具の規定値は,表4に示す。
10.2.3  試験結果の取扱い
  図13に,被測定配線に接続するインタフェースの減衰量の測定点を示す。既設配線は,チャネル又はパ
ーマネントリンクのいずれかである(箇条8参照)。ただし,チャネルの片端又は両端に短い機器コードが
含まれている場合には,パーマネントリンクに接続するコードとの接続点が終端からの反射によって隠さ
れてしまうために,測定ができないことがある。
        記号 LTC             入射側試験コード
             TTC             出射側試験コード
             C1,C2,C3,C4 直線近似を定義するカーソル
             C5              減衰量を示すカーソル
             A               被測定接続部の減衰量
                            図13−OTDRによる接続部の減衰量の測定
  近端側インタフェースの減衰量は,インタフェースの損失(dB)として示される。しかしながら,この
値は,後方散乱係数(k)が入射側試験コードと被測定配線とで異なるため,真値とはならない。入射側試
験コードの後方散乱係数が被測定配線よりも大きい場合は,測定結果は過大となり得る。被測定配線の後
方散乱係数が入射側試験コードよりも大きい場合は,測定結果は過小となり得る。
    注記 ときどき見掛け上増幅されたような結果となる。
  この理由で,測定結果は,両方向の測定値を平均して求めなければならない。
  インタフェースに対する減衰量の上限値は,(対基準光コネクタ接続に対する)最大減衰量である(表4
参照)。

――――― [JIS X 5151 pdf 30] ―――――

次のページ PDF 31