JIS X 5151:2018 光情報配線試験 | ページ 7

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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
  規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格又は不合格の判定を付与しなければなら
ない。

10.3 接続器具の減衰量

10.3.1  試験方法
  チャネル又はパーマネントリンク(箇条8参照)を試験するために,6.3.3.6に従った入射側試験コード
は,OTDRと被測定配線との間に接続する。
  端末加工がされていない光ファイバの試験のために,6.3.3.6に従った試験インタフェースコネクタのな
い入射側試験コードは,OTDRと被測定配線との間に接続する。
  OTDR出力は,附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し,次の項目を適切に設定する。
a) レンジ
b) パルス幅
c)   OR
d) 平均化時間
  被測定配線は,両方向で測定しなければならない。
10.3.2  試験結果の取扱い
  図14に,被測定配線内の接続器具及び/又はスプライスの接続減衰量の測定点を示す。
  接続部,特に融着接続部は,接続部に隙間がなく反射ピークは通常見られない。その代わりに,光パワ
ーは,単に段差として表示される。
  接続器具の前後の光ファイバの後方散乱係数が異なる場合,それぞれの方向からの測定値は異なる。
    注記 一方向において,見掛け上増幅するような結果が得られる場合がある。
  このため,測定結果は,それぞれの方向の測定値を平均して求めなければならない。
  接続器具の減衰量の規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格又は不合格の判定を
付与しなければならない(表4参照)。

――――― [JIS X 5151 pdf 31] ―――――

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        記号 LTC              入射側試験コード
             TTC              出射側試験コード
             C1,C2,C3,C4   直線近似を定義するカーソル
             C5               減衰量を示すカーソル
             A                スプライス接続部の減衰量
                              図14−OTDRによる接続減衰量の測定

10.4 接続器具の反射減衰量

10.4.1  試験方法(JIS C 5961の7.2適合)
  6.3.3.6に従った入射側試験コードは,OTDRと被測定配線との間に接続しなければならない。
  被測定配線の遠端側の反射減衰量を測定する場合には,6.3.3.7に従った出射側試験コードは,被測定配
線の遠端に接続しなければならない。
  終端されていない光ファイバ内にあるかん合した接続器具の減衰量を試験するために,片側が光コネク
タで終端されていない6.3.3.6に従った入射側試験コードは,OTDRと被測定光ファイバとの間に接続しな
ければならない。
  OTDRの受光器が飽和しない程度に光パワーを減少させるために,減衰器を用いてもよい。

――――― [JIS X 5151 pdf 32] ―――――

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X 5151 : 2018 (ISO/IEC 14763-3 : 2014)
                              図15−OTDRによる反射減衰量の測定
10.4.2  試験結果の取扱い
  配線接続器具の反射減衰量は,反射のピークの高さ(図15のHA又はHB)から,次のように計算する。
                                     H
                                      5
                         RL   10 lg 10   1  10 lg dk (dB)  (5)
  ここで,H>5(dB)の場合,
                         RL   2H  10 lg dk (dB)  (6)
                      ここに,       H :  ピークの高さ(HA又はHB)(dB)
                                     d :  パルス幅(ns)
                                      k :  光ファイバの後方散乱係数(dB)
  代表的なマルチモード光ファイバ及びシングルモード光ファイバの後方散乱係数は,附属書Cに示す。
    注記1 ほとんどのOTDRは,製造業者によって設けられた装置の設定を用いて,反射減衰量を自動
            的に測定する。しかしながら,この場合は,10.4.3に示すように,測定の不確かさに対する
            検討を注意深く行うことも重要である。
    注記2 一部のOTDRの受光器は,大きな反射H(図15のHCのような場合)で飽和し,測定の不確
            かさは,小さい反射減衰量の測定において失われる。このような信号の飽和は,OTDRと被
            測定配線部品との間に可変減衰器を追加することによって避けることが可能である。
    注記3 “反射減衰量”という用語は,OTDR製造業者によっては,負号を伴って,“反射率”と表現
            される。
  接続器具の反射減衰量の規格値に対する合否の判定を求められた場合,測定結果に合格又は不合格の判
定を付与しなければならない。

――――― [JIS X 5151 pdf 33] ―――――

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10.4.3  測定の不確かさ
  反射減衰量を測定する場合,不確かさの異なる要因を考慮しなければならない。
  パルス振幅の誤差,パルスの形状における不確かさ,又はパルス幅の真値における不確かさのような装
置に関連する不確かさが正しくない場合,OTDRの製造業者から提供される最大の不確かさを考慮しなけ
ればならない。
  光ファイバに関連する不確かさは,直接的に反射量の不確かさに影響する(例えば,±2 dBの後方散乱
係数の不確かさは,反射量でちょうど±2 dBの不確かさを生じる。)。附属書Cに示す代表的な後方散乱量
は,用いてもよい。

10.5 光ファイバ長

10.5.1  試験方法
  チャネル又はパーマネントリンク(箇条8参照)を試験するために,6.3.3.6に従った入射側試験コード
をOTDRと被測定配線との間に接続する。
  端末加工がされていない光ファイバの試験のために,6.3.3.6に従った試験インタフェースコネクタのな
い入射側試験コードは,OTDRと被測定配線との間に接続する。
  OTDR出力は,附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し,次の項目を適切に設定する。
a) レンジ
b) パルス幅
c)   OR
d) 平均化時間
                                 図16−OTDRによる長さの決定
  図16に,被測定配線内の伝送路長の測定点を示す(SMFにおいては,遠端側の反射によるピークが表

――――― [JIS X 5151 pdf 34] ―――――

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れない場合がある。)。敷設された配線は,チャネル又はパーマネントリンクのいずれかである(箇条8参
照)。
  MMFによるパーマネントリンク内での破断も,反射ピークの存在を特徴としている。しかし,図17に
示すとおり,MMFとは異なり,SMF内での破断は,必ずしも反射ピークとして表れるとは限らない。
                図17−SMFのパーマネントリンク中に破断がある場合のOTDR波形
  施工不良(例えば,関連製品規格又は製造業者及び供給者の製品仕様以上にケーブルを屈曲させた場合)
は,ケーブル内の光ファイバに曲げ(マクロベンド)が生じる。この曲げは,光ファイバ内で伝送光の減
衰を引き起こし,OTDR波形ではその減衰量は段差として表れる(図18参照)。

――――― [JIS X 5151 pdf 35] ―――――

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