JIS X 5213:2015 近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)―RFインタフェース試験方法 | ページ 2

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X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)
7.4.2 基準デバイスの構造
JIS X 6305-6の5.4.2による。基準デバイスのコイル構造は,ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1のAnnex D.3
に定義されている。
注記 アンテナがクラス3アンテナサイズより大きい場合は,ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1のAnnex
D.1に規定する基準デバイス1コイルを基準デバイス3に加えて使用してもよい。
7.4.3 基準デバイスの共振周波数調整
JIS X 6305-6の5.4.3による。

8 イニシエータの機能試験

8.1 イニシエータのRF検知

8.1.1  目的
この試験は,イニシエータがJIS X 5211の8.4に規定されているようにHThreshold以上の磁界強度で,外
部RFフィールドを検知できることの確認を目的とする。
8.1.2 試験手順
7.3に規定する試験アセンブリを使用する。
手順1 :
信号発生器から試験アセンブリへ供給されるRF電力は,NFCIP-1デバイスのない状態で,校正用コイ
ルで測定しながら0Hmaxの必要な磁界強度に調整されていなければならない。
試験回路の出力は,デジタルサンプリングオシロスコープに接続する。可変抵抗P1を調整して残留搬
送波の電圧を最小にしなければならない。この信号は,DUTがRFフィールドを発生したかどうかを検出
できるように,一方のセンスコイルを短絡して得られる信号より少なくとも40 dB低くなければならない。
手順2 :
試験対象のNFCIP-1デバイスを,DUTの位置にセンスコイルaの中心軸に合わせて設置しなければなら
ない。DUTは,イニシエータモードに設定されなければならない。
信号発生器は,周波数fcの無変調のRFフィールドを発生し始めて,磁界強度は0から,イニシエータ
がRFフィールドを発生することを妨げない最大磁界強度Hmまで直線的に増加しなければならない。
試験は,イニシエータがRFフィールドを正しく発生することを検証しなければならない。
HmがHThreshold以下のとき,DUTはこの試験に合格とする。
8.1.3 試験報告書
試験報告書は,DUTが8.1.2に示す手順に従って正しく動作しているか否かを記載する。

8.2 能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの磁界強度

8.2.1  目的
この試験は,JIS X 5211の8.2に規定された動作空間において,イニシエータが発生した磁界の強度を
測定することを目的とする。
8.2.2 試験手順
JIS X 6305-6の7.1.1.2による。
8.2.3 試験報告書
JIS X 6305-6の7.1.1.3による。

――――― [JIS X 5213 pdf 6] ―――――

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X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)

8.3 能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び送信波形

8.3.1  目的
この試験は,全ての伝送速度において,イニシエータが発生するRFフィールドの変調度,立上がり時
間,立下がり時間,及びオーバーシュートが,規定された動作空間内でJIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2
の規定に一致していることの確認を目的とする。
8.3.2 試験手順
JIS X 6305-6の7.1.4.2による。
8.3.3 試験報告書
試験報告書は,規定された動作空間において,変調度,立上がり時間,立下がり時間及びオーバーシュ
ート値を記載する。

8.4 受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変調受信能力

8.4.1  目的
この試験は,イニシエータがJIS X 5211の9.3.2.2及び9.3.3.2に規定するターゲットの負荷変調を正し
く検出するかの確認を目的とする。
8.4.2 試験手順
JIS X 6305-6の7.1.5.2による。
8.4.3 試験報告書
試験報告書は,試験位置及びイニシエータの負荷変調を記載する。

8.5 能動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び波形の受信能力

8.5.1  目的
この試験は,イニシエータがJIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2に規定された能動通信モードにおいて,
ターゲットの変調波形を正しく検出するかの確認を目的とする。
8.5.2 伝送速度 106 kbit/s
8.5.2.1 試験環境
JIS X 6305-6の7.2.2.2.1による。
8.5.2.2 試験手順
7.3に規定する試験アセンブリを使用する。
8.5.2.1に規定する環境下において,イニシエータは,試験アセンブリから送られた変調波形を検波し,
通常動作を継続しなければならない。
8.5.2.3 試験報告書
試験報告書は,イニシエータが正常に動作したか否かを記載する。使用した試験環境も試験報告書に記
載する。
8.5.3 伝送速度 212 kbit/s及び424 kbit/s
8.5.3.1 試験環境
JIS X 6305-6の7.2.2.3.1による。
8.5.3.2 試験手順
7.3に規定する試験アセンブリを使用する。
8.5.3.1に規定する環境下において,イニシエータは,試験アセンブリから送られた変調波形を検波し,
通常動作を継続しなければならない。

――――― [JIS X 5213 pdf 7] ―――――

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X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)
8.5.3.3 試験報告書
試験報告書は,イニシエータが正常に動作したか否かを記載する。使用した試験環境も試験報告書に記
載する。

8.6 能動通信モードにおけるイニシエータの最大負荷影響の試験(任意選択)

8.6.1  目的
この試験は,能動通信モード時に受信動作しているイニシエータの負荷影響が基準デバイスの負荷影響
よりも大きいか又は小さいかを確認することを目的とする。
8.6.2 試験手順
ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1の7.2.4.2で定義されるクラス3 PICCにおいてCON3のDC電圧を4.5 Vと
する。
8.6.3 試験報告書
JIS X 6305-6の7.2.4.3による。

9 ターゲットの機能試験

9.1 受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調送信

9.1.1  目的
この試験は,ターゲットの負荷変調信号の振幅がJIS X 5211の9.3.2.2及び9.3.3.2の規定に一致してい
ることの確認を目的とする。
9.1.2 試験手順
JIS X 5211は,受動通信モードに対し,三つの異なる伝送速度を規定する。受動通信モードにおけるタ
ーゲット試験は,106 kbit/s,212 kbit/s及び424 kbit/sで実行しなければならない。
9.1.2.1 106 kbit/sの試験手順
JIS X 6305-6の7.2.1.2に規定されているPICCを参照する。
9.1.2.2 106 kbit/sの試験報告書
上側帯波(fc+fs)及び下側帯波(fc−fs)の振幅がJIS X 5211で規定する値よりも大きいとき,この試
験に合格とする。
9.1.2.3 212 kbit/s及び424 kbit/sの試験手順
JIS X 6305-6の7.2.1.2に規定されているPICCを参照する。
ただし,次の操作を行う。
− 副搬送波を搬送波に置き換える。
− REQA又はREQBコマンドをJIS X 5211に規定されている当該通信速度のポーリングコマンドに置き
換える。
− 信号又は負荷変調応答をJIS X 5211に規定されている当該通信速度のポーリング応答コマンドに置き
換える。
9.1.2.4 212 kbit/s及び424 kbit/sの試験報告書
変調データの振幅がJIS X 5211に規定した値を超えているとき,この試験は合格とする。

9.2 能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度

  ターゲットについては,8.2を実施する。

9.3 能動通信モードにおけるターゲットの変調度及び送信波形

  ターゲットについては,8.3を実施する。

――――― [JIS X 5213 pdf 8] ―――――

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X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)

9.4 能動通信モード及び受動通信モードにおけるターゲットの変調度及び波形の受信能力

  ターゲットとイニシエータとを交換して8.5を実施する。

9.5 受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷影響の試験(任意選択)

  ターゲットについては,8.6による。

――――― [JIS X 5213 pdf 9] ―――――

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X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)
附属書A
(参考)
試験報告書の様式例

序文

  供給者 : 
製品 :
凡例 :
# passed tests=合格した試験数
# tests=遂行した総試験数
# samples=DUTのサンプル数
# of tested positions=動作空間中の試験位置数
# date=日付
No 試験名称 目的
8.1 イニシエータRFレベル検出 この試験は,イニシエータがJIS X 5211の8.4に規定され
たHThreshold以上の磁界強度で,外部RFフィールドを検知
できることの確認を目的とする。
条件 JIS X 5211で期待する結果 # passed tests# tests # samples # date
H を発生する。
HThreshold≦HDUTは,自身のRFフィールド
No 試験名称 目的
8.2 この試験は,JIS X 5211の8.2に規定された動作空間にお
能動通信モード及び受動通信モードにおけるイ
ニシエータ磁界強度 いて,イニシエータが発生した磁界の強度を測定すること
を目的とする。
条件 JIS X 5211で期待する結果 # passed tests# tests & # samples # date
# of tested
positions
動作空間内の Hmin≦H≦Hmax
異なる位置
No 試験名称 目的
8.3 この試験は,全ての伝送速度において,イニシエータが発
能動通信モード及び受動通信モードにおけるイ
ニシエータの変調度及び送信波形 生するRFフィールドの変調度,立上がり時間,立下がり
時間,及びオーバーシュートが,規定された動作空間内で
JIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2の規定に一致しているこ
との確認を目的とする。
条件 JIS X 5211で期待する結果 # passed tests# tests & # samples # date
# of tested
positions
動作空間内の JIS X 5211で規定された要求範
異なる位置 囲内の波形パラメタとする。

――――― [JIS X 5213 pdf 10] ―――――

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JIS X 5213:2015の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 22536:2013(IDT)

JIS X 5213:2015の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 5213:2015の関連規格と引用規格一覧