JIS X 6251:2009 １２０ｍｍ（４．７ＧＢ／面）及び８０ｍｍ（１．４６ＧＢ／面）＋Ｒフォーマット光ディスク（１６倍速まで）

                                                                X 6251 : 2009 (ISO/IEC 17344 : 2006)

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•  序文・・・・[1]
•  第1章 一般事項・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 適合性・・・・[2]
•  2.1 光ディスク・・・・[2]
•  2.2 製造システム・・・・[2]
•  2.3 情報再生システム・・・・[2]
•  2.4 互換性・・・・[2]
•  3 引用規格・・・・[2]
•  4 用語及び定義・・・・[2]
•  5 表記法・・・・[5]
•  5.1 数値表記・・・・[5]
•  5.2 略式名称・・・・[5]
•  6 略語・・・・[5]
•  7 ディスクの概要・・・・[6]
•  8 一般要求事項・・・・[7]
•  8.1 環境条件・・・・[7]
•  8.2 安全性・・・・[8]
•  8.3 耐燃性・・・・[8]
•  9 基準測定装置・・・・[8]
•  9.1 光学系・・・・[8]
•  9.2 光学ビーム・・・・[9]
•  9.3 読取りチャネル1・・・・[9]
•  9.4 ディスククランプ・・・・[10]
•  9.5 ディスクの回転・・・・[10]
•  9.6 ウォブルチャネル(読取りチャネル2)・・・・[10]
•  9.7 トラッキングチャネル(読取りチャネル2)・・・・[11]
•  9.8 基準サーボシステム・・・・[11]
•  第2章 ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性・・・・[13]
•  10 寸法特性・・・・[13]
•  10.1 基準面・・・・[14]
•  10.2 全体寸法・・・・[15]
•  10.3 第1遷移領域・・・・[15]
•  10.4 第2遷移領域・・・・[15]
•  10.5 クランプゾーン・・・・[15]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 6251 pdf 1] ―――――

X 6251 : 2009 (ISO/IEC 17344 : 2006)

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•  10.6 第3遷移領域・・・・[16]
•  10.7 情報ゾーン・・・・[16]
•  10.8 リム領域・・・・[16]
•  10.9 許容公差についての注意・・・・[16]
•  11 機械的特性・・・・[16]
•  11.1 質量・・・・[16]
•  11.2 慣性モーメント・・・・[16]
•  11.3 ダイナミックインバランス・・・・[16]
•  11.4 軸方向の振れ量・・・・[17]
•  11.5 半径方向の振れ量・・・・[17]
•  12 情報ゾーンの光学的特性・・・・[18]
•  12.1 屈折率・・・・[18]
•  12.2 基板の厚さ・・・・[18]
•  12.3 反射率・・・・[18]
•  12.4 複屈折・・・・[19]
•  12.5 角度偏差・・・・[19]
•  第3章 情報フォーマット・・・・[19]
•  13 データフォーマット・・・・[19]
•  13.1 データフレーム・・・・[20]
•  13.2 スクランブルドフレーム・・・・[22]
•  13.3 ECCブロック・・・・[22]
•  13.4 記録フレーム・・・・[24]
•  13.5 変調及びNRZI変換・・・・[24]
•  13.6 物理セクタ・・・・[25]
•  13.7 記録ユニット(RUN)のレイアウト・・・・[26]
•  13.8 直流成分抑圧制御・・・・[27]
•  14 トラックフォーマット・・・・[28]
•  14.1 トラック形状・・・・[28]
•  14.2 トラック経路・・・・[28]
•  14.3 トラックピッチ・・・・[29]
•  14.4 トラックレイアウト・・・・[29]
•  第4章 情報ゾーンのフォーマット・・・・[52]
•  15 情報ゾーンについての概要・・・・[52]
•  16 シングルセションディスクの情報ゾーンのレイアウト・・・・[52]
•  16.1 物理セクタ番号 (PSN)・・・・[52]
•  17 インナードライブ領域・・・・[53]
•  17.1 イニシャルゾーン・・・・[54]
•  17.2 インナーディスクテストゾーン・・・・[54]
•  17.3 カウントゾーンランイン・・・・[54]

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――――― [JIS X 6251 pdf 2] ―――――

                                                           X 6251 : 2009 (ISO/IEC 17344 : 2006)

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•  17.4 インナーディスクカウントゾーン・・・・[54]
•  17.5 インナーディスク管理ゾーン・・・・[54]
•  17.6 目次情報(TOC)ゾーン・・・・[55]
•  18 リードインゾーン・・・・[58]
•  18.1 ガードゾーン1・・・・[59]
•  18.2 予約ゾーン1・・・・[59]
•  18.3 予約ゾーン2・・・・[59]
•  18.4 インナーディスク識別ゾーン・・・・[59]
•  18.5 予約ゾーン3・・・・[59]
•  18.6 リファレンスコードゾーン・・・・[60]
•  18.7 バッファゾーン1・・・・[60]
•  18.8 制御データゾーン・・・・[60]
•  18.9 バッファゾーン2・・・・[62]
•  19 データゾーン・・・・[62]
•  20 リードアウトゾーン・・・・[62]
•  20.1 バッファゾーン3・・・・[63]
•  20.2 アウターディスク識別ゾーン・・・・[63]
•  20.3 ガードゾーン2・・・・[63]
•  21 アウタードライブ領域・・・・[63]
•  21.1 アウターディスク管理ゾーン・・・・[64]
•  21.2 アウターディスクカウントゾーン・・・・[64]
•  21.3 アウターディスクテストゾーン・・・・[64]
•  21.4 ガードゾーン3・・・・[64]
•  22 マルチセションレイアウト・・・・[64]
•  22.1 イントロ・・・・[65]
•  22.2 データゾーン・・・・[66]
•  22.3 クロージャ・・・・[66]
•  23 フラグメントの連続記録・・・・[66]
•  23.1 セションの開始・・・・[66]
•  23.2 セションの終了・・・・[68]
•  23.3 ディスクのファイナライズ・・・・[69]
•  24 論理セクタ番号の割当て (LSN)・・・・[69]
•  25 ディスク制御ブロック・・・・[69]
•  25.1 ディスク制御ブロックのフォーマット・・・・[69]
•  25.2 セションDCB(SDCB)のフォーマット・・・・[71]
•  第5章 グルーブの特性・・・・[74]
•  26 概要・・・・[74]
•  27 試験方法・・・・[74]
•  27.1 環境・・・・[74]

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――――― [JIS X 6251 pdf 3] ―――――

X 6251 : 2009 (ISO/IEC 17344 : 2006)

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•  27.2 基準測定装置・・・・[74]
•  27.3 信号の定義・・・・[75]
•  28 グルーブ信号の特性・・・・[75]
•  28.1 位相深さ・・・・[75]
•  28.2 プッシュプル信号・・・・[75]
•  28.3 クロストラック信号・・・・[76]
•  28.4 正規化ウォブル信号・・・・[76]
•  28.5 ウォブルの特性・・・・[76]
•  第6章 記録層の特性・・・・[76]
•  29 試験方法・・・・[76]
•  29.1 環境・・・・[77]
•  29.2 基準測定装置・・・・[77]
•  29.3 記録条件・・・・[77]
•  29.4 測定条件・・・・[79]
•  30 記録済み信号の特性・・・・[79]
•  30.1 チャネルビット長・・・・[80]
•  30.2 信号の定義・・・・[80]
•  30.3 読取りの安定性・・・・[81]
•  31 追加試験の条件・・・・[81]
•  31.1 試験環境・・・・[81]
•  31.2 信号の定義・・・・[82]
•  32 記録層の品質・・・・[84]
•  32.1 欠陥・・・・[84]
•  32.2 データエラー・・・・[84]
•  第7章 ユーザデータの特性・・・・[84]
•  33 試験方法・・・・[84]
•  33.1 環境・・・・[85]
•  33.2 基準測定装置・・・・[85]
•  34 記録ユニットの最低品質・・・・[85]
•  34.1 トラッキング・・・・[85]
•  34.2 ユーザ記録データ・・・・[85]
•  附属書A(規定)80 mm+Rディスク・・・・[86]
•  附属書B(規定)データゾーンの拡張フォーマット情報の構造・・・・[89]
•  附属書C(規定)光反射の測定・・・・[90]
•  附属書D(規定)複屈折の測定・・・・[92]
•  附属書E(規定)ジッタの測定・・・・[94]
•  附属書F(規定)位相差トラッキングエラー信号の測定・・・・[97]
•  附属書G(規定)テスト用記録パルス波形・・・・[101]
•  附属書H(規定)8-16変調・・・・[108]

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――――― [JIS X 6251 pdf 4] ―――――

                                                           X 6251 : 2009 (ISO/IEC 17344 : 2006)

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•  附属書I(規定)最適パワー制御及び記録条件・・・・[116]
•  附属書J(参考)逐次実行形OPC・・・・[119]
•  附属書K(参考)波長依存性・・・・[120]
•  附属書L(参考)基準サーボの使用法・・・・[124]
•  附属書M(参考)グルーブウォブル振幅の測定・・・・[130]
•  附属書N(参考)ディスクの耐光性・・・・[132]
•  附属書O(参考)輸送・・・・[133]
•  附属書P(参考)ビデオコンテンツプロテクション・・・・[134]
•  附属書Q(参考)ADIPの物理フォーマット情報の使い方・・・・[135]
•  附属書R(参考)現行及び将来の仕様で使用する値・・・・[137]

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS X 6251 pdf 5] ―――――

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