111
X 6270 : 2011 (ISO/IEC 22533 : 2005)
附属書T
(参考)
交替セクタを使用するときのガイドライン
次に示す欠陥セクタを最大値まで(箇条19参照)の交替セクタに置き換えることができる。
a) 一つのセクタ内からIDが読み取れない。
b) 一つのセクタ内の二つのIDのうち,一つだけが読み取れ,先行するセクタと矛盾する。
c) 一つのセクタ内で,80バイトを超える長さの一つの欠陥が検出される。
d) 一つのセクタ内で,欠陥バイトの総数が,80バイトを超えるか,又はセクタの一つのECCインタリ
ーブで4バイトを超える。
――――― [JIS X 6270 pdf 116] ―――――
112
X 6270 : 2011 (ISO/IEC 22533 : 2005)
附属書U
(参考)
メディアの感度評価のためのレーザパワー校正方法
U.1 試験条件の変化
24.3.4で規定するメディアの感度の測定に当たっては,メディアの感度Cの値が基準駆動装置に許容さ
れる各種条件に影響されるため,メディア評価装置のレーザパワーを注意深く校正する必要がある。磁性
層のレーザスポットプロファイルは,9.2で規定する基準駆動装置に許容される光学的条件で変わる。記録
パワー感度の観点からの,基準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件を表U.1に示す。最悪条件の
温度のピークは,最良条件の温度のピークから21 %低くなると見積もられる。そのため,メディアの感度
Cは,注意深く評価する必要がある。
表U.1−標準駆動装置に許容される最良及び最悪条件
最良条件 最悪条件
波長(λ) 675 nm 695 nm
λ/NA 1.227 μm 1.263 μm
D/W 0.8 0.9
光ヘッドの波面収差 0 0.033 λrms
ディスクのチルト 0 4.8 mrad(半径方向)
ディスクの厚さ変動 0 50 μm
U.2 パワーの校正
評価装置のレーザパワーの校正は,次の手順で行う。正確な校正には,高速フロントパワーモニタを使
用する。
ステップ1
パワーメータによって高速フロントパワーモニタを校正する(図U.1)。
・ 校正は,直流パワーメータを用いて,直流レーザ操作で行うことができる。
・ 記録パルスの波形観測には,高速(>100 MHz)フロントパワーモニタを用いる。
――――― [JIS X 6270 pdf 117] ―――――
113
X 6270 : 2011 (ISO/IEC 22533 : 2005)
光パワーメータ
.mW
高速フロントパワーモニタ
(>100 MHz)
MO信号及び
サーボ信号検出器
半導体レーザ オシロスコープ
図U.1−フロントパワーモニタの校正
ステップ2
記録パルスの形状を直接観測する(図U.2)。
・ 集光状態でのパルスパワーは,半導体レーザの戻り光の影響によって,非集光状態でのパルスパ
ワーとは異なる。
・ 実際の測定条件では,パルスパワー,パルス幅及びアシストパワーレベルを注意深く観測する。
・ 2Tマークの孤立パルス及び4Tマークの補助パルスが同一波形であり,4Tマークの二つの記録パ
ルスの立上がり及び立下がりが補助パルスと同一であるかどうかを確認する。同一でない場合は,
C及びEthの測定誤差が大きくなる。
高速フロントパワーモニタ
(>100 MHz)
MO信号及び
サーボ信号検出器
半導体レーザ オシロスコープ
図U.2−パルス強度及びパルス幅の測定
――――― [JIS X 6270 pdf 118] ―――――
114
X 6270 : 2011 (ISO/IEC 22533 : 2005)
ステップ3
適切なフィルタを用いて,記録パルスパワー及びパルス幅を測定する。
・カットオフ周波数80 MHzで,(ガウシアン)ローパスフィルタによってリンギングを除去するこ
とができる(図U.3a)。
・パルスエネルギーを正確に測定するため,高速フロントパワーモニタを利用できない場合は,平
均パワーレベル測定を推奨する(図U.3b)。
測定に関する備考
・ アシストパワーレベル
アシストパワーレベルPaの測定における誤りが,Cの測定値の重大な誤りを招くことになるた
め,Paの測定は注意深く(±0.05 mWの精度で)行う。
・ ディスクの温度
ディスクの温度は,25 ℃±1 ℃に保つ。評価装置が密閉している場合,内部温度が上昇する場
合がある。
・ 迷光
光ヘッド内の迷光が対物レンズに入射し,迷光のスポットを形成することもある。光ビームス
ポットにおける温度上昇が小さくても,対物レンズを通した光パワーの測定値は大きい場合があ
る。
・ 光部品(特に対物レンズ)の汚れ
光がちり(塵)などで吸収される場合,対物レンズを通過後の光パワーは減少する。これはパ
ワーメータで測定することができるため,混乱は生じない。光を散乱させる場合は,対物レンズ
を通過した全ての光パワーが,メディアの温度上昇に対して有効なわけではない。定期的に清掃
を行う必要がある。
・ ビームスポットの大きさ
記録メディアの感度の測定の前に,評価装置のビームプロファイルを光ナイフエッジ法で検査
するのが望ましい。測定したスポットの直径が,基準駆動装置の最良の直径である1.08 μmから
かけ離れていない場合,ディスクの傾斜などの上記の条件を注意深く調整するのが望ましい。
図U.3a−ローパスフィルタによるリンギングの除去
図U.3−平均パワーレベルからパルスパワーを正確に決定する方法
――――― [JIS X 6270 pdf 119] ―――――
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X 6270 : 2011 (ISO/IEC 22533 : 2005)
Tp 1周期 Pw=(Pa−Pb)×(1周期)/Tp + Pb
ローパスフィルタ
(~100 kHz) 平均パワーレベル
Pw
b
a
P
P
Pb
図U.3b−平均パワーレベルからのパルスパワー決定
図U.3−平均パワーレベルからパルスパワーを正確に決定する方法(続き)
JIS X 6270:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 22533:2005(IDT)