JIS X 6292:1998 １２０　ｍｍ／６５０　ＭＢ光ディスクカートリッジ（相変化光記録，ＰＤフォーマット）

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
  JIS X 6292には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) 端部のひずみ試験方法
    附属書B(規定) 可とう性試験方法
    附属書C(規定) IDフィールドのCRC
    附属書D(規定) セクタ中のデータフィールドのフォーマット
    附属書E(規定) 制御ゾーンの内容
    附属書F(規定) オーバライトパルスの定義
    附属書G(規定) 空気清浄度クラス100 000
    附属書H(規定) カートリッジの基準面
    附属書J(規定) 各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和
    附属書K(参考) トラックの振れ量の測定方法
    附属書L(参考) セクタの交替に関するガイドライン
    附属書M(参考) 使用環境条件の導出方法
    附属書N(参考) 輸送環境
    附属書P(参考) オフィス環境
    附属書Q(参考) 複屈折の測定
    附属書(参考) ISO/IEC 15485 : 1997 (Information technology−Data interchange on 120mm optical disk
                      cartridges using phase change PD format−Capacity : 650Mbytes per cartridge)

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS X 6292 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             X6292 : 1998
                                                                       (ISO/IEC 15485 : 1997)
                                   120mm/650MB
                           光ディスクカートリッジ
                (相変化光記録,PDフォーマット)

Information technology−Data interchange on 120mm optical disk cartridgesusing phase change PD format−Capacity : 650Mbytes per cartridge

序文 この規格は,1997年に第1版として発行されたISO/IEC 15485, Information technology−Data
interchange on 120mm optical disk cartridges using phase change PD format−Capacity : 650Mbytes per cartridge
について,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)であり,1.から6.までは,原国際規格の
同項目を全文翻訳し,7.以降については,原国際規格の同項目の内容を引用するものとした。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,説明のために追加したものであり,原国際規格にはな
い事項である。
                                        第1章 一般事項
1. 適用範囲 この規格は,相変化PDフォーマットの650メガバイトの記憶容量をもつ120mm光ディス
クカートリッジの特性を規定する。この規格は,次の2種の光ディスクカートリッジについて規定する。
  タイプR/W         相変化記録再生方式を利用して,ディスクの記録領域全体にわたってデータの記録,
                    再生及びオーバライトを繰返しできる。
  タイプWORM        相変化記録再生方式を利用して,ディスクの記録領域全体にわたって一度だけデー
                    タの記録ができ,記録されたデータは何度でも再生ができる。
  タイプR/W及びWORMは,それぞれ“書換形”及び“追記形”とも呼ばれる。
  この規格は,次の事項について規定する。
− 適用試験の条件及び基準駆動装置
− 光ディスクカートリッジの使用環境及び保存環境
− データ処理システム間の機械的互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物
    理的特性
− トラックとセクタの物理的な配置,誤り訂正符号及び使用される変調方式を含むPDフォーマットと
    して知られているディスク上の情報フォーマット
− ディスクのエンボス情報の特性
− データ処理システムがディスクにデータを記録可能にするためのディスクの相変化記録特性

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X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)
− データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするためのディスク上のユーザ記録データの
    最低品質
  この規格は,光ディスク駆動装置間での互換性を与えるものである。
  なお,別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって,データ処理システム間
の完全な互換性を与えるものである。
2. 適合性
2.1   光ディスクカートリッジ 光ディスクカートリッジがそのタイプについて,規定するすべての要求
事項を満足するならば,その光ディスクカートリッジは,この規格に適合とする。
2.2   ジェネレーティングシステム ジェネレーティングシステムがジェネレートする光ディスクカート
リッジが2.1に従っているならば,そのジェネレーティングシステムはこの規格に適合とする。
2.3   レシービングシステム レシービングシステムが2.1に従って光ディスクカートリッジを取り扱う
ことができれば,そのレシービングシステムはこの規格に適合とする。
2.4   適合性表示 この規格に適合するジェネレーティングシステム及びレシービングシステムは,サポ
ートする他の規格のリストを記述しなければならない。この記述には,次の事項を含んでいなければなら
ない。
a) サポートする規格番号
b) サポートする光ディスクカートリッジのタイプ
c) 再生だけをサポートするのか,記録及び再生ともにサポートするのかの情報
3. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。こ
の規格が制定された時点では,次の規格が最新規格であるが,改正されることもあるので,この規格を使
う当事者は,最新版を適用できるかどうか検討することが望ましい。現在有効な国際規格の登録維持は,
IEC及びISOの構成員が行っている。
    IEC 60950 : 1991 Safety of information technology equipment
4. 定義 この規格では,次の定義を用いる。
4.1   アドレッサブルトラック (addressable track) セクタ番号0から始まりそれぞれのセクタがリニア
にアドレスされた64セクタの連続したグループ。
4.2   バンド (band) 所定数の連続する物理トラックからなるデータゾーンの一部。
4.3   ケース (case) 光ディスクを保護するとともに,ディスクの互換を容易にするための入れ物。
4.4   チャネルビット (Channel bit) 2値の “0” 及び “1” をディスク上のスペース又はマークで表す要素。
    備考 2チャネルビットで1ユーザビットを表す。
4.5   クランプゾーン (Clamping Zone)  クランプ装置からのクランプ力が印加されるディスクの環状部
分。
4.6   制御情報トラック (control track)媒体パラメータ並びに光ディスクに記録及び再生するために必
要なフォーマットの情報を含むトラック。
4.7   巡回冗長検査 (CRC)   Cyclic Redundancy Check (CRC)   ]  データの誤り検出方法の一つ。伝送単位ご
とにビット列を2進数の多項式とみなし,あらかじめ定めた多項式で除算した余りをチェックビットとし
て伝送単位の最後に付加する方式。

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                                                                                              3
                                                                 X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)
4.8   欠陥管理 (defect management)   ディスク上の欠陥領域を取り扱う方法。
4.9   ディスクの基準面 (disk reference plane)回転軸に対して垂直で,かつ,理想スピンドルによってク
ランプされる完全にフラットな環状表面によって規定される面。
4.10 エンボスマーク (embossed mark)  光学的手段によって変更できないように形成されたマーク。
4.11 入射面 (entrance surface) 光ビームが最初に入射するディスクの表面。
4.12 誤り訂正符号 (ECC)   Error Correction Code (ECC)   ]   データ中のある種の誤りを訂正するように設
計された誤り検出符号の一つ。
                      1セクタの中で,分割されまとまった区分を表す領域。
4.13 フィールド (field)
4.14 フォーマット (format)ディスク上の情報の配置。
                               バーストエラーによって影響を受けないように,連続するデータ群を
4.15 インタリーブ (interleaving)
物理的に分散して配置するプロセス。
4.16 ランド及びグルーブ (land and groove)情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト
ラック位置を明らかにするために用いられる。グルーブは,それと一対でトラックを構成するランドより
も入射面に近い方に位置する。
4.17 マーク (mark) 非晶質スポット,結晶スポット,ピット,その他光学的に検出できる形態をもった
記録層の造作。マークのパターンが,ディスクのデータを表す。
    備考 セクタマーク.アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は,ここでいうマ
          ークとは異なる。
4.18 ワンビームオーバライト (one-beam overwrite)  事前に消去することなく1本のレーザビームを使
ってオーバライトすることで情報を記録する方法。
                            記録層にマークの形で情報が記録かつ保持され,光ビームで再生可能な
4.19 光ディスク (optical disk)
ディスク。
                                                         光ディスクが収納されたケースからなるデ
4.20 光ディスクカートリッジ [optical disk cartridge (ODC)   ]
バイス。
4.21 相変化 (PC)   phase change (PC)   ] レーザビームが照射された記録膜領域が,熱せられて非晶質状態
から結晶状態又はその逆に可逆的に変化する物理的効果。
4.22 物理トラック (physical track)ディスクが1回転する間に光ビームの焦点がたどる経路。
                  隣接する物理トラックの中心線の半径方向の間隔。
4.23 ピッチ (pitch)
                       光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状態。光ビームの偏光
4.24 偏光 (polarization)
方向は,光ビームの電気ベクトルの方向である。
    備考 偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝搬方向から見て電
          気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。
4.25 再生パワー (read power) 再生時のディスクの入射面での光パワー。
4.26 記録層 (recording layer)ディスクを構成する層の一つ。製造時及び/又は使用時に,その層の上又
は中にデータが記録される。
4.27 リードソロモン符号 (Reed-Solomon code)  バースト誤り又は高い相関をもつ誤りの訂正に適して
いる,誤り検出符号及び/又は誤り訂正符号。符号系列を一定長のブロックに分割したとき,このバイト
単位で発生する誤りに対する代表的な訂正符号。
                                      規定された領域のデータが,光ビームによって書換可能である
4.28 書換形光ディスク (rewritable disk)
光ディスク。

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X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)
4.29 セクタ (sector)ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で,アドレス指定可能な最小領域。
                        駆動装置の一部で,ディスク及び/又はハブと接合し回転する部分。
4.30 スピンドル (spindle)
4.31 基板 (substrate)記録層を機械的に支える透明な円盤状の基体。光ビームはこの基体を通して記録
層に照射される。
4.32 追記形光ディスク (write once disk)決められた領域にデータが非可逆的に記録され,かつ,そのデ
ータは光ビームで多数回読み取ることができる光ディスク。
4.33 ZCAV (ZCAV)     角速度一定方式として使用するためのゾーン化されたディスクフォーマット。
4.34 ゾーン (zone)  ディスクの環状領域。
5. 規定及び表記法 数値表示及び特殊名称の表記について規定する。
5.1   数値表示
                                                                                  +.001
                                                                                       という規定
− 測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。すなわち,26
                                                                              .1  .002
    値は,1.235以上1.275未満の測定値を許容する。
− 16進数は, ( ) でくくり表記する。
− ビットの値は,0及び1とする。
− 2進数及びビットの組合せの数値は,0及び1で表す。
− 2進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。
− 2進数の負の値は,2の補数で表す。
− 各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト0)を最初に記録する。8ビットで構成する各バイト
    では,最下位ビット(0番目)を最後に記録し,最上位ビット(7番目)を最初に記録する。この規定
    は,誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。
− 特に明記されていない限り,すべてのトラック番号はアドレッサブルトラックで表す。
6. 略語 略語について規定する。
     AM          Address Mark                               アドレスマーク
     CRC         Cyclic Redundancy Check                    巡回冗長検査
     DC          Direct Current (d.c.)                      直流
     DDS         Disk Definition Structure                  ディスク定義構造
     DMA         Defect Management Area                     欠陥管理領域
     DMS         Defect Management Sector                   欠陥管理セクタ
     ECC         Error Correction Code                      誤り訂正符号
     ID          Identifier                                 識別子
     LSB         Least Significant Byte                     最下位バイト
     MSB         Most Significant Byte                      最上位バイト
     ODC         Optical Disk Cartridge                     光ディスクカートリッジ
     ODF         Offset Detection Field                     オフセット検出フィールド
     PA          Postamble                                  ポストアンブル
     PC          Phase Change                               相変化
     PDL         Primary Defect List                        1次欠陥管理表
     RLL (2, 7)  Run Length Limited (code)                  (2, 7) ランレングス制限符号
     R/W         rewritable                                 書換形
     SDL         Secondary Defect List                      2次欠陥管理表
     SM          Sector Mark                                セクタマーク
     VFO         Variable Frequency Oscillator              VFO信号

――――― [JIS X 6292 pdf 5] ―――――

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