JIS X 6305-3:2012 識別カードの試験方法―第３部：外部端子付きＩＣカード及び接続装置 | ページ 10

                                                                                             43
                                                            X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
                                    シナリオ19A−IFSC調整
                  IFD                                                IFD試験装置
      I(0,0) (INF =“00 B0 00 00 02”)      →
                                             ←                        I(0,0)
                 I(1,0)                     →
                                             ←                      S(IFS request)
                IFD応答                      →
d)   FDの動作を記録する。
8.3.8.3  試験成績書
  IFDの動作を試験成績書に記載する。
8.3.9  ICカードによるブロック連鎖打切り
  この試験の目的は,ブロック連鎖打切り(JIS X 6320-3参照)を確認することである。
8.3.9.1  試験装置
  4.7.2に示す。
8.3.9.2  試験手順
  IFDをIFD試験装置に接続する。
a)   FD試験装置を初期化する。
b)   FDは,IFD試験装置のエミュレータがサポートしているコマンド(オフセットなしで36バイト読む
    READ BINARYコマンド,JIS X 6320-4参照)を含むINFで,IFD試験装置へIブロックを送信する。
c)   FD試験装置は,ブロック連鎖の1番目のブロックI(0,1)を送信する。IFDはR(1)で応答しなければ
    ならない。
d)   FDへ打切り要求を送信する。
                         シナリオ20−ICカードによるブロック連鎖打切り
                  IFD                                                IFD試験装置
      I(0,0) (INF =“00 B0 00 00 24”)      →
                                             ←                I(0,1) (INF =“31 32 .. 50”)
            R(1) (PCB =“90”)               →
                                             ←                    S(ABORT request)
                IFD応答                      →
e)   FDの応答の有無及びその内容を記録する。
8.3.9.3  試験成績書
  IFDの応答の有無及びその内容を試験成績書に記載する。

8.4 不正なPCBに対するIFDの応答

  この試験の目的は,不正なPCBに対するIFDの動作を分析することである(JIS X 6320-3の11.6.3.1参
照)。
8.4.1  試験装置
  4.7.2に示す。
8.4.2  試験手順
a)   FD試験装置を初期化する。

――――― [JIS X 6305-3 pdf 46] ―――――

44
X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
b)   FDは,IFD試験装置がサポートしているコマンド(オフセットなしで2バイトを読み出すREAD
    BINARYコマンド,JIS X 6320-4参照)を含むINFでIFD試験装置にブロックI(0,0)を送る。
c) 不正なPCB(未定義の符号化)をもつ誤りを含むブロックをIFDに送る。ただし,このブロックのパ
    リティ及びEDCは正しい値である。
                           シナリオ21−IFDの不正なPCBに対する動作
                  IFD                                                IFD試験装置
      I(0,0) (INF =“00 B0 00 00 02”)      →
                                             ←                PCB=“FF”をもつブロック
                IFD応答                      →
d)   FDからの応答の有無及び内容を記録する。
8.4.3  試験成績書
  IFDからの応答の有無及び内容を試験成績書に記載する。
参考文献 JIS X 6305-1 識別カードの試験方法−第1部 : 一般的特性
          JIS X 6320-2 識別カード−ICカード−第2部 : 外部端子付きICカードの端子の寸法及び位置