JIS X 6305-6:2013 識別カードの試験方法―第６部：非接触（外部端子なし）ＩＣカード―近接型

                                                            X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語,定義,略語及び記号・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 略語及び記号・・・・[3]
•  4 試験における一般適用条件・・・・[5]
•  4.1 試験環境・・・・[5]
•  4.2 試験前の状態・・・・[5]
•  4.3 許容誤差・・・・[5]
•  4.4 寄生インダクタンス・・・・[6]
•  4.5 総合的測定の不確かさ・・・・[6]
•  5 JIS X 6322-1:2011及びJIS X 6322-2:2011のパラメタの試験用ジグ及び回路・・・・[6]
•  5.1 測定器に関する最小要求事項・・・・[6]
•  5.2 校正用コイル・・・・[6]
•  5.3 PCD試験アセンブリの構成・・・・[7]
•  5.4 基準PICC・・・・[9]
•  6 JIS X 6322-1:2011のパラメタに関する試験・・・・[11]
•  6.1 PCDの試験・・・・[11]
•  6.2 PICCの試験・・・・[12]
•  7 JIS X 6322-2:2011のパラメタに関する試験・・・・[14]
•  7.1 PCDの試験・・・・[14]
•  7.2 PICCの試験・・・・[17]
•  8 JIS X 6322-3:2011及びJIS X 6322-4:2011のパラメタ試験・・・・[21]
•  8.1 PCDの試験・・・・[21]
•  8.2 PICCの試験・・・・[21]
•  附属書A(規定)PCD試験アンテナ・・・・[22]
•  附属書B(参考)PCD試験アンテナの調整・・・・[28]
•  附属書C(規定)センスコイル・・・・[30]
•  附属書D(規定)基準PICCのアンテナ配置・・・・[32]
•  附属書E(規定)変調度及び波形の解析方法・・・・[33]
•  附属書F(参考)周波数特性の評価用プログラム・・・・[97]
•  附属書G(規定)追加のPICC試験方法・・・・[105]
•  附属書H(規定)追加のPCD試験方法・・・・[159]
•  附属書I(規定)PCD用高速伝送選択の試験方法・・・・[194]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 6305-6 pdf 1] ―――――

X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)

pdf 目次

ページ

•  参考文献・・・・[205]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS X 6305-6 pdf 2] ―――――

                                                            X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
ICカードシステム利用促進協議会(JICSAP)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案
を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が
改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS X 6305-6:2010は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS X 6305の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS X 6305-1 第1部 : 一般的特性
    JIS X 6305-2 第2部 : 磁気ストライプ付きカード
    JIS X 6305-3 第3部 : 外部端子付きICカード及び接続装置
    JIS X 6305-5 第5部 : 光メモリカード
    JIS X 6305-6 第6部 : 非接触(外部端子なし)ICカード−近接型
    JIS X 6305-7 第7部 : 非接触(外部端子なし)ICカード−近傍型

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS X 6305-6 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           X 6305-6 : 2013
                                                                     (ISO/IEC 10373-6 : 2011)

識別カードの試験方法−第6部 : 非接触(外部端子なし)ICカード−近接型

Identification cards-Test methods-Part 6: Proximity cards

序文

  この規格は,2011年に第2版として発行されたISO/IEC 10373-6を基に,技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  また,この規格は,JIS X 6301に定義された識別カードのパラメタ及び国際流通用としてのこの識別カ
ードの使用方法のうち,外部端子のない近接型のICカード,及びこれと結合する結合機器を規定する規格
群(JIS X 6322)に関連し,その試験方法について規定する。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,JIS X 6301:2005に基づく識別カードの特性評価試験方法について規定する。各試験方法は,
一つ以上の基本規格と相互に関連をもつ。基本規格とは,例えば,JIS X 6301,又は識別カードを使用し
た情報記憶技術に関する一つ以上の追加規格などである。
    注記1 許容値の基準は,この規格の中にはなく,ほかの規格の中に規定されているものがある。
    注記2 この規格で規定する試験方法は,項目別に実施される。供試されたカードについて,全ての
            項目を順番に試験する必要はない。
    注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
             ISO/IEC 10373-6:2011,Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。
  JIS X 6305の一部であるこの規格の試験方法は,JIS X 6322-1,JIS X 6322-2,JIS X 6322-3及びJIS X
6322-4で規定されている近接型ICカード(PICC)に関して適用する。
  JIS X 6305-1は,複数のICカード技術に共通の試験方法を定義し,その他の各部がそれぞれの技術に特
有の試験について扱う。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
             measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT)

――――― [JIS X 6305-6 pdf 4] ―――――

2
X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)
    JIS X 6301:2005 識別カード−物理的特性
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 7810:2003,Identification cards−Physical characteristics(IDT)
    JIS X 6322-1:2011 識別カード−非接触(外部端子なし)ICカード−近接型−第1部 : 物理的特性
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 14443-1:2008,Identification cards−Contactless integrated circuit cards
             −Proximity cards−Part 1: Physical characteristics(IDT)
    JIS X 6322-2:2011 識別カード−非接触(外部端子なし)ICカード−近接型−第2部 : 電力伝送及び
        信号インタフェース
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 14443-2:2010,Identification cards−Contactless integrated circuit cards
             −Proximity cards−Part 2: Radio frequency power and signal interface(IDT)
    JIS X 6322-3:2011 識別カード−非接触(外部端子なし)ICカード−近接型−第3部 : 初期化及び衝
        突防止
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 14443-3:2011,Identification cards−Contactless integrated circuit cards
             −Proximity cards−Part 3: Initialization and anticollision(IDT)
    JIS X 6322-4:2011 識別カード−非接触(外部端子なし)ICカード−近接型−第4部 : 伝送プロトコ
        ル
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 14443-4:2008,Identification cards−Contactless integrated circuit cards
             −Proximity cards−Part 4: Transmission protocol(IDT)

3 用語,定義,略語及び記号

  この規格で用いる主な用語,定義,略語及び記号は,JIS X 6322-1:2011,JIS X 6322-2:2011,JIS X
6322-3:2011及びJIS X 6322-4:2011によるほか,次による。

3.1 用語及び定義

3.1.1
基本規格
  この試験方法を実施するに当たって,参照として使用される規格。
3.1.2
カスケードレベル数(CascadeLevels)
  PICCのカスケードレベルの総数。
3.1.3
“Class 1” PICC
  JIS X 6322-1:2011に規定するようにアンテナを配置し,7.2.4に規定する“Class 1” PICCの最大負荷影響
試験を満足するPICC。
3.1.4
コマンドセット(Command Set)
  初期応答及び衝突防止処理中に使用するPICCコマンドの集合。
    注記 A型については,JIS X 6322-3:2011の6.4を参照。B型については,JIS X 6322-3:2011の7.5 を
          参照。
3.1.5
無応答(Mute)
  規定するタイムアウト(例 FWTの期間終了)までに応答がないこと。

――――― [JIS X 6305-6 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6