JIS X 6305-6:2013 識別カードの試験方法―第６部：非接触（外部端子なし）ＩＣカード―近接型 | ページ 42

                                                                                            203
                                                            X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)
                           表I.2−ATQB後のPCDの正しい状態(続き)
                 許容伝送速度            Param 2を設定する有効なパラメタa)
                                                                       b"0000xxxx"
                                                                       b"0100xxxx"
                  b"01110000"
                                                                       b"1000xxxx"
                                                                        b"1100xxxx"
                                                             b"0001xxxx", b"0000xxxx"
                                                             b"0101xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110001"
                                                             b"1001xxxx", b"1000xxxx"
                                                             b"1101xxxx", b"1100xxxx"
                                                             b"0010xxxx", b"0000xxxx"
                                                             b"0110xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110010"
                                                             b"1010xxxx", b"1000xxxx"
                                                             b"1110xxxx", b"1100xxxx"
                                                  b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"
                                                  b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110011"
                                                  b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1000xxxx"
                                                  b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1100xxxx"
                                                             b"0011xxxx", b"0000xxxx"
                                                             b"0111xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110100"
                                                             b"1011xxxx", b"1000xxxx"
                                                             b"1111xxxx", b"1100xxxx"
                                                  b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"
                                                  b"0101xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110101"
                                                  b"1001xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"
                                                  b"1101xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"
                                                  b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"
                                                  b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110110"
                                                  b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"
                                                  b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"
                                        b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"
                                        b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"
                  b"01110111"
                                        b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"
                                        b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"
              注a)   aram 2の下位4ビットは,PCDが受信できる最大フレームサイズを符号化
                   するために利用する。

――――― [JIS X 6305-6 pdf 206] ―――――

204
X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)
                            シナリオI.2−高速伝送選択 B型,手順2
                      PCD                                         PCD試験装置
    REQB                                     →
    (“05 00 00” CRCB)
                                             ←     表I.2に基づく許容伝送速度,ATQB
    表I.2に基づくParam 2,ATTRIB コマンド    →
                                             ←     ATTRIB コマンドの応答
                                                    (伝送速度 fc/128使用)
    I(0)0                                    →
    (選択された伝送速度使用)
                                             ←     I(0)0
                                                    (選択された伝送速度使用)
    S(DESELECT)                              →
     要求
                                             ←     S(DESELECT) 応答
                                                    (選択された伝送速度使用)
    WUPB                                     →
    (伝送速度 fc/128使用)
                                             ←     ATQB
                                                    (伝送速度 fc/128使用)
I.2.2.1  期待される結果
  PCDは,72の各試験項目において,シナリオI.2に示されるように動作しなければならない。
I.2.2.2  試験成績書
  PCDが72の各試験項目において,シナリオI.2のように正しく動作する場合,この試験は,合格とする。
試験成績書は,72の各試験項目に,PCDが選択した伝送速度を記述することが望ましい。

――――― [JIS X 6305-6 pdf 207] ―――――

                                                                                            205
                                                            X 6305-6 : 2013 (ISO/IEC 10373-6 : 2011)
                                          参考文献
[1] TS Z 0033:2012 測定における不確かさの表現のガイド
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the
            expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)(IDT)
[2] ISO/IEC 9646-1:1994,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 1: General concepts
[3] ISO/IEC 9646-2:1994,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 2: Abstract Test Suite specification
[4] ISO/IEC 9646-3:1998,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 3: The Tree and Tabular Combined Notation (TTCN)
[5] ISO/IEC 9646-4:1994,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 4: Test realization
[6] ISO/IEC 9646-5:1994,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 5: Requirements on test laboratories and clients for the conformance
    assessment process
[7] ISO/IEC 9646-6:1994,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 6: Protocol profile test specification
[8] ISO/IEC 9646-7:1995,Information technology−Open Systems Interconnection−Conformance testing
    methodology and framework−Part 7: Implementation Conformance Statements