JIS X 6305-3:2012 識別カードの試験方法―第３部：外部端子付きＩＣカード及び接続装置

                                                            X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)

pdf 目 次

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 試験方法における一般適用条件・・・・[3]
•  4.1 試験環境・・・・[3]
•  4.2 準備・・・・[3]
•  4.3 試験方法の選択・・・・[3]
•  4.4 許容誤差・・・・[3]
•  4.5 総合的測定の不確かさ・・・・[3]
•  4.6 電気計測の規則・・・・[3]
•  4.7 試験装置・・・・[3]
•  4.8 試験方法と基本規格の要求項目との関係・・・・[11]
•  5 外部端子付きICカードの電気的特性の試験方法・・・・[13]
•  5.1 VCC端子・・・・[13]
•  5.2 I/O端子・・・・[14]
•  5.3 CLK端子・・・・[15]
•  5.4 RST端子・・・・[16]
•  5.5 SPU(C6)端子・・・・[17]
•  6 外部端子付きICカードの論理的な操作の試験方法・・・・[17]
•  6.1 リセット応答・・・・[17]
•  6.2 T=0プロトコル・・・・[18]
•  6.3 T=1プロトコル・・・・[20]
•  7 IFDの物理的特性及び電気的特性の試験方法・・・・[28]
•  7.1 外部端子の活性化・・・・[28]
•  7.2 VCC端子・・・・[28]
•  7.3 I/O端子・・・・[30]
•  7.4 CLK端子・・・・[31]
•  7.5 RST端子・・・・[32]
•  7.6 SPU(C6)端子・・・・[34]
•  7.7 外部端子の非活性化・・・・[34]
•  8 IFDの論理的な操作の試験方法・・・・[34]
•  8.1 リセット応答・・・・[34]
•  8.2 T=0プロトコル・・・・[35]
•  8.3 T=1プロトコル・・・・[37]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 6305-3 pdf 1] ―――――

X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)

pdf 目次

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•  8.4 不正なPCBに対するIFDの応答・・・・[43]

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――――― [JIS X 6305-3 pdf 2] ―――――

                                                            X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
ICカードシステム利用促進協議会(JICSAP)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案
を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が
改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS X 6305-3:2002は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS X 6305の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS X 6305-1 第1部 : 一般的特性
    JIS X 6305-2 第2部 : 磁気ストライプ付きカード
    JIS X 6305-3 第3部 : 外部端子付きICカード及び接続装置
    JIS X 6305-5 第5部 : 光メモリカード
    JIS X 6305-6 第6部 : 外部端子なしICカード−近接型
    JIS X 6305-7 第7部 : 非接触(外部端子なし)ICカード−近傍型

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――――― [JIS X 6305-3 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           X 6305-3 : 2012
                                                                     (ISO/IEC 10373-3 : 2010)

識別カードの試験方法−第3部 : 外部端子付きICカード及び接続装置

Identification cards-Test methods- Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたISO/IEC 10373-3を基に,技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  また,この規格は,JIS X 6301に定義されたIDカードのパラメタ及び国際流通用としてのこのIDカー
ドの使用方法のうち,外部端子付きICカードを規定する一連の規格(JIS X 6320-2,JIS X 6320-3及びJIS
X 6320-4)及びこれに関連する接続装置の試験方法について規定する。

1 適用範囲

  この規格は,JIS X 6320規格群の規定に従い,外部端子付きICカード及び関連した接続装置の特性の試
験方法を定義する。
  各々の試験方法は,一つ以上の基本規格を引用して規定する。基本規格は,JIS X 6301又は識別カード
アプリケーションで使用される情報記憶技術を規定する一つ以上の補助規格であってもよい。
    注記 許容性の基準は,この規格には含まれず,参照する規格に存在する。
  JIS X 6305規格群の第3部であるこの規格は,外部端子付きICカード技術に固有な試験方法を扱う。JIS
X 6305規格群の第1部であるJIS X 6305-1は,1種類以上のカード技術に関する共通の試験方法について
扱い,JIS X 6305規格群の他の部は,それぞれのカードの試験技術について扱う。
  この規格で記述される複数の試験方法は,それぞれ別々に独立して実行できるように配慮されている。
被試験のICカードに対し全ての試験を順番に適用することは,要求されていない。この規格で規定される
試験方法は,JIS X 6320-3に基づく。
  ICカード及びIFDのそれぞれがこの規格で定義する試験方法を用いた適合性を満たしていても,実環境
で使用する場合に障害が起こらないことは保証されない。信頼性試験は,この規格の範囲外とする。
  この規格は,ICカードの完全な機能を証明するためのいかなる試験も定義しない。試験方法は,最小限
の機能が確かめられることだけを要求する。最小限の機能は,次に定義する。
− カードの集積回路は,基本規格に適合するリセット応答を返す。
− カードの集積回路につながる外部端子は,基本規格に適合する電気抵抗を保持する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO/IEC 10373-3:2010,Identification cards−Test methods−Part 3: Integrated circuit cards with
              contacts and related interface devices(IDT)

――――― [JIS X 6305-3 pdf 4] ―――――

2
X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS X 6301:2005 識別カード−物理的特性
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 7810:2003,Identification cards−Physical characteristics(IDT)
    JIS X 6320-3:2009 識別カード−ICカード−第3部 : 外部端子付きICカードの電気的インタフェー
        ス及び伝送プロトコル
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 7816-3:2006,Identification cards−Integrated circuit cards−Part 3: Cards
             with contacts−Electrical interface and transmission protocols(IDT)
    JIS X 6320-4:2009 識別カード−ICカード−第4部 : 交換のための構成,セキュリティ及びコマンド
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 7816-4:2005,Identification cards−Integrated circuit cards−Part 4:
             Organization, security and commands for interchange(IDT)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS X 6301及びJIS X 6320-3によるほか,次による。
3.1
ICカード(card)
  JIS X 6320規格群で規定する外部端子付き集積回路カード。
3.2
試験対象品,DUT(DUT,device under test)
  この規格の適用範囲内で試験されるICカード又はIFD。
3.3
ETU因子(etu-factor)
  JIS X 6320-3の6.3.1及び7.1に記載されているように,プロトコル及びパラメタ選択(protocol and
parameters selection, PPS)によって,基本値(negotiated values)が取り決められ(to be negotiated),etuを
決定しているパラメタ群。
3.4
IFD(interface device)
  JIS X 6320-3で規定する外部端子付きICカードに接続する接続装置。
3.5
通常使用(normal use)
  カード技術に適した実装プロセスをもつ識別カード(JIS X 6301の4. 参照)及び装置間で使用される個
人情報の記録媒体としての使用。
3.6
試験方法(test method)
  規格を満たしていることを確認するために,識別カード及び接続する接続装置の特性を試験する方法。

――――― [JIS X 6305-3 pdf 5] ―――――

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