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X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
3.7
試験シナリオ(test scenario)
この規格で規定する試験方法で使用される代表的なプロトコル及びアプリケーション固有通信。
3.8
代表的プロトコル及びアプリケーション固有通信(typical protocol and application specific communication)
DUTと試験装置との間の通信であって,DUTに実装されたプロトコル及びアプリケーションに基づき,
かつ,通常使用に対応した通信。
4 試験方法における一般適用条件
4.1 試験環境
別途指定のない限り,試験環境は,23 ℃±3 ℃,相対湿度40 %60 %とする。
4.2 準備
試験方法で要求される場合,試験対象カードは,別途指定のない限り,試験開始の24時間前から,試験
環境条件を満足する場所に置かなければならない。
4.3 試験方法の選択
試験方法は,関連した基本規格(4.8参照)によって定義されるカードの特質を試験するために,必要に
応じて適用しなければならない。
4.4 許容誤差
別途指定のない限り,試験装置の性能(例えば,直線性)及び試験仕様(例えば,試験装置の調整)を
規定する数値に対する許容誤差は,±5 %以内でなければならない。
4.5 総合的測定の不確かさ
この試験方法によって測定された各値の不確かさを,試験成績書の中に記載しなければならない。
4.6 電気計測の規則
電位差は,ICカードのGND端子を基準に定義され,ICカードへ流れる電流を正とする。
4.7 試験装置
4.7.1 外部端子付きICカードを試験するための装置(ICカード試験装置)
4.7.1.1 VCC端子電圧(UCC)及びタイミングの生成
表1−VCC端子電圧及びタイミング
パラメタ 動作クラス 範囲 精度
UCC クラスA,B,C −1 V6 V ±20 mV
tR,tF クラスA,B,C 0 μs500 μs ±100 μs
4.7.1.2 ICCの測定
表2−ICCパラメタ
特性 モード 範囲 精度 分解能
スパイク電流測定時 0 mA200 mA ±2 mA 20 ns
ICC 活性化状態 0 mA100 mA ±1 mA 1 ms間以上の平均
クロック停止時 0 μA200 μA ±10 μA 1 ms間以上の平均
――――― [JIS X 6305-3 pdf 6] ―――――
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X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
4.7.1.3 SPU(C6)端子電圧の生成
5.5及びJIS X 6320-3による。
4.7.1.4 RST端子電圧及びタイミングの生成
表3−RST端子電圧及びタイミング
パラメタ 動作クラス 範囲 精度
UIH,UIL クラスA,B −1 V6 V ±20 mV
UIH クラスC −1 V2 V ±20 mV
UIL クラスC −1 V1 V ±20 mV
tR,tF 0 μs2 μs ±20 ns
注記 tR及びtFは,VH minとVL maxとで決まる信号振幅の10 %90 %の間の遷移(立上
がり及び立下がり)時間を示す。
注記 表3の内容は,試験を実施するための基本条件であり,試験装置設定値の可変範囲を示してい
る。試験を実施するに当たっては,動作クラス別に電気的特性を規定したJIS X 6320-3を参照
することが望ましい。
4.7.1.5 RST端子電流の測定
表4−RST端子電流
特性 モード 範囲 精度 分解能
IIH 活性化状態 −30 μA200 μA ±10 μA 100 ns
IIL 活性化状態 −200 μA30 μA ±10 μA 100 ns
4.7.1.6 ICカードの受信モードにおけるI/O端子電圧及びタイミングの生成
表5−I/O端子電圧及びタイミング
パラメタ モード 動作クラス 範囲 精度
UIH,UIL ICカード : 受信モード クラスA,B −1 V6 V ±20 mV
試験装置 : 送信モード
UIH ICカード : 受信モード クラスC −1 V2 V ±20 mV
試験装置 : 送信モード
UIL ICカード : 受信モード クラスC −1 V1 V ±20 mV
試験装置 : 送信モード
tR,tF ICカード : 受信モード 0 μs2 μs ±100 ns
試験装置 : 送信モード
注記 tR及びtFは,VH minとVL maxとで決まる信号振幅の10 %90 %の間の遷移(立上がり及び立下がり)時間
を示す。
4.7.1.7 ICカードの受信モードにおけるI/O端子電流の測定
――――― [JIS X 6305-3 pdf 7] ―――――
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X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
表6−I/O端子電流(受信モード)
パラメタ モード 範囲 精度 分解能
IIH ICカード : 受信モード −300 μA30 μA ±10 μA 100 ns
試験装置 : 送信モード
IIL ICカード : 受信モード −1.5 mA−0.2 mA ±50 μA 100 ns
試験装置 : 送信モード
ICカード : 受信モード −200 μA30 μA ±10 μA 100 ns
試験装置 : 送信モード
4.7.1.8 I/O端子電流の生成
表7−I/O端子電流
パラメタ モード 範囲 精度 レベルに達した後の
安定化時間
IOH ICカード : 送信モード VCCに20 k 地杣 続 ±200 圀
試験装置 : 受信モード 又は同等の回路
IOL ICカード : 送信モード 0 mA1.5 mA ±50 μA 100 ns未満
試験装置 : 受信モード
4.7.1.9 I/O端子電圧及びタイミングの測定
表8−I/O端子電圧及びタイミング
特性 動作クラス 範囲 精度 分解能
UIH,UIL クラスA,B,C −1 V6 V ±20 mV 20 ns
tR,tF 0 μs2 μs ±20 ns
注記 tR及びtFは,VH minとVL maxとで決まる信号振幅の10 %90 %の間の遷移(立上がり及び立下がり)時間
を示す。
4.7.1.10 CLK端子電圧の生成
表9−CLK端子電圧
特性 動作クラス 範囲 精度 分解能
UIH,UIL クラスA,B −1 V6 V ±20 mV 20 ns
UIH クラスC −1 V2 V ±20 mV 20 ns
UIL クラスC −1 V2 V ±20 mV 20 ns
4.7.1.11 CLK端子の波形の生成(一周期の測定)
――――― [JIS X 6305-3 pdf 8] ―――――
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X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
表10−CLK端子の波形
特性 範囲 精度
デューティサイクル 周期の35 %65 % ±5 ns
周波数 0.5 MHz5.5 MHz ±5 kHz
周波数 5 MHz20.5 MHz ±50 kHz
tR,tF 周期の1 %10 % ±5 ns
注記 tR及びtFは,VH minとVL maxとで決まる信号振幅の10 %90 %の間の遷移(立上がり及び立下がり)時間
を示す。
4.7.1.12 CLK端子電流の測定
表11−CLK端子電流
特性 動作クラス 範囲 精度 分解能
IIH 活性化状態 −30 μA150 μA ±10 μA 20 ns
IIL 活性化状態 −150 μA30 μA ±10 μA 20 ns
4.7.1.13 RST,CLK及びI/O端子の静電容量の測定
表12−外部端子の静電容量
特性 範囲 精度
C 0 pF50 pF ±5 pF
注記 外部端子の負荷容量は,外部端子とGND端子との間で測定する。
4.7.1.14 外部端子の連続した活性化及び非活性化の生成
表13−活性化及び非活性化
信号切替え時間の範囲 精度
0 s1 s ±200 ns(又は1クロック周期のいずれか小さい値)
4.7.1.15 プロトコルのエミュレート
ICカード試験装置は,代表的なアプリケーション固有の通信を実行するときに要求されるプロトコル
T=0,T=1及びIFDのアプリケーションをエミュレートできなければならない。
注記 特定の機能がICカードに実装されていない場合には,ICカード試験装置に,対応する試験能
力を備えていることを要求しない(例えば,ICカードで実装されないT=0プロトコル)。
4.7.1.16 ICカードの受信モードにおけるI/Oキャラクタの生成タイミング
ICカード試験装置は,JIS X 6320-3に従い,I/O端子にビット列を生成できなければならない。
開始ビットの長さ,保護時間,誤り信号などの全てのタイミングパラメタを,設定できなければならな
い。
表14−I/Oキャラクタの生成タイミングの精度(受信モード)
記号 意味 精度
攀 全てのタイミングパラメタ ±4クロック周期
――――― [JIS X 6305-3 pdf 9] ―――――
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X 6305-3 : 2012 (ISO/IEC 10373-3 : 2010)
4.7.1.17 I/Oプロトコルの測定及び監視
ICカード試験装置は,CLK周波数に関係してI/O端子の論理的な“低”レベル状態及び“高”レベル状
態のタイミングを測定し,監視することができなければならない。
表15−タイミング特性
特性 精度
全てのタイミングパラメタ ±2クロック周期
4.7.1.18 プロトコル分析
ICカード試験装置は,JIS X 6320-3に適合したT=0プロトコル及びT=1プロトコルに一致するビット列
の分析のため,並びに上位のプロトコル及びアプリケーションの確認のために論理的なデータフローを抽
出できなければならない。
注記 特定の機能がICカードに実装されていない場合には,ICカード試験装置に,対応する試験能
力を備えていることを要求しない(例えば,ICカードで実装されないT=0プロトコル)。また,
試験装置は拡張された能力をもっていてもよい。例えば,ICカードが標準のREAD BINARYコ
マンドをサポートしていない場合,ケース2のいずれかのコマンド(JIS X 6320-4参照)を生
成してもよい。
4.7.2 接続装置を試験するための装置(IFD試験装置)
4.7.2.1 VCC端子電流(ICC)の生成
表16−VCC端子電流
パラメタ モード 範囲 精度 レベルに達した後の
安定化時間
ICC スパイク生成状態 0 mA120 mA ±2 mA b) < 100 ns
活性化状態 0 mA70 mA ±1 mA < 100 ns
クロック停止状態 0 mA1.2 mA ±10 μA < 100 ns
非活性化状態a) −1.2 mA0 mA ±10 μA < 100 ns
tR,tF 100 ns ±50 ns
パルス長 100 ns500 ns ±50 ns
停止状態の長さ 100 ns1 000 ns ±50 ns
(周期的)
停止状態の長さ 10 μs2 000 μs ±1 μs
(ランダム)
注a) 最大出力電圧は,5 Vに制限しなければならない。
b) スパイク生成のための動的条件。
4.7.2.2 VCC端子電圧(UCC)及びタイミングの測定
表17−VCC端子電圧及びタイミング
特性 動作クラス 範囲 精度 分解能
UCC クラスA,B,C −1 V6 V ±20 mV 10 ns
――――― [JIS X 6305-3 pdf 10] ―――――
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JIS X 6305-3:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 10373-3:2010(IDT)
JIS X 6305-3:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.15 : IDカード及び関連装備
JIS X 6305-3:2012の関連規格と引用規格一覧
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