JIS Z 3081:1994 アルミニウム管溶接部の超音波斜角探傷試験方法 | ページ 2

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Z 3081-1994
                                図4 入射点及び探傷屈折角の測定
                                    図5 探傷屈折角の計算図

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                図6 探触子の前面から入射点までの距離A(接近限界長さ)の計算図
(2) 測定範囲の調整 STB-A1又はSTB-A3を用いて,次の要領で測定範囲を調整する。
  (a) 測定範囲が100 mm及び200 mmの場合 STB-A1のR100mm及びSTB-A3のR50mmが,アルミニ
      ウム中でそれぞれ98mm及び49mmに相当するものとして測定範囲を調整する。
  (b) 測定範囲が125mm及び250mmの場合 STB-A1のR100mm及びSTB-A3のR50mmが,アルミニ
      ウム中でそれぞれ97.5mm及び48.75mmに相当するものとして測定範囲を調整する。
                                                 W0 1       み取る。読み取りは,曲線の間隔の51まで
        次に,図7を用いて,Dt及び探傷屈折角       D
      とする。この値にDを乗じた後,1を引いてW0を求める。図4の探触子位置P0におけるエコーの
      立ち上がり位置が,ビーム路程W0の位置になるように零点調整する。

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                                                    W0 1      算図
                               図7 零点調整のための  D
5.2.3  距離振幅特性曲線の作成 距離振幅特性曲線の作成は,次による。
(1) 距離振幅特性曲線の作成には,RB-A7AL及び探傷に使用する探触子を用いる。
(2) 距離振幅特性曲線は,表示器目盛板又はそれを覆う補助目盛板に直接記入する。
     1スキップ距離よりビーム路程の短い範囲は,そのスキップのエコー高さとする。
(3) 4
(4) 距離振幅特性曲線は,きずエコーの評価に用いられるビーム路程の範囲で,その高さが90%以下で,
    かつ,10%以上になるように作成する。
5.2.4  探傷面と走査範囲 表4に示した探触子を使用して,管外面の溶接部の両側から直射法及び一回反
射法によって探傷する。直射法による探傷が困難な場合は,一回反射法及び二回反射法によって探傷する。
  開先面の融合不良を検出する場合は,融合不良の存在が予想される位置に十分に超音波が伝搬するよう
に走査範囲を決定する。
5.3   試験体表面の手入れ 探触子を接触させる面に,超音波の伝達を妨げるような異物が存在する場合
はこれらを除去する。
  また,余盛の形状が試験結果に影響を与える場合には,適度に仕上げを行うものとする。
6. 探傷方法
6.1   評価レベル エコー高さによってきずを評価するため,5.1.3及び5.2.3に規定した距離振幅特性曲線
を基準レベルとして,表5に示すA, B及びCの3種類の評価レベルを設ける。

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                              表5 評価レベルとエコー高さのレベル
                               評価レベルの種類 エコー高さのレベル
                                 A評価レベル        HRL−12dB
                                 B評価レベル        HRL−18dB
                                 C評価レベル        HRL−24dB
6.2   評価レベルの指定 試験の目的に応じて,A評価レベル,B評価レベル又はC評価レベルのいずれ
かを指定する。
6.3   評価の対象とするきずとその区分 最大エコー高さを示す位置及び方向に探触子を置き,その最大
エコー高さが6.2で指定した評価レベルを超える場合は,探触子の位置,ビーム路程,溶接継手の状況な
どから,きずかどうかを判定する。きずと判定されたものを評価の対象とし,表6によってA種,B種又
はC種のいずれかに区分する。
                                  表6 きずの区分とエコー高さ
                        きずの区分               エコー高さ
                          A種       A評価レベルを超えるもの
                          B種       A評価レベル以下でB評価レベルを超えるもの
                          C種       B評価レベル以下でC評価レベルを超えるもの
6.4   きずの位置の表示 きずの位置は,最大エコー高さを示す位置で表示する。
6.5   きずの指示長さの測定 最大エコー高さを示す位置に探触子を置き,左右走査を行う。このとき若
干の前後走査を行うが,首振り走査は行わない。きずからのエコー高さが表7に示すレベルと一致する探
触子位置におけるビーム中心軸上の反射源の位置をきずの端とする。探傷面上でのきずの始端と終端の間
隔を1 mmの単位で測定してきずの指示長さとする。
                               表7 きずの端を決めるためのレベル
                             きずの区分  きずの端を決めるためのレベル
                             A種         HFmax (2)−10dB
                             B種,C種    6.2で指定したレベル
                             注(2)   Fmax : 最大エコー高さ
  異なる屈折角又は異なる探傷面で一つのきずを検出した場合,図8に示すように,それぞれ始端と終端
を求め,それらの間隔の最大長さをきずの指示長さとする。
                                   図8 きずの指示長さの測定
                             (公称屈折角,探傷面によって異なる場合)
7. 試験結果の分類方法 試験結果の分類方法は,附属書による。
8. 記録 試験を行った後,その試験成績書には,次の事項を記載し,その記録と試験体とをいつでも照
合できるようにしておかなければならない。
(1) 試験体に関する事項
(1.1) 施工業者名又は製造業者名

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(1.2) 工事名又は製品名
(1.3) 試験体の外形・寸法,試験箇所の記号又は番号
(1.4) 材質
(1.5) 母材の厚さ
(1.6) 溶接部の形状(継手形状,開先形状など),溶接方法
(2) 試験年月日
(3) 試験技術者の所属,氏名及び資格
(4) 試験条件
(4.1) 使用装置,試験片及び材料
  (a) 探傷器(名称,製造所,製造番号,点検年月日,点検者及び性能)
  (b) 探触子(呼称,製造所,製造番号,点検年月日,点検者及び性能)
  (c) 標準試験片及び対比試験片
  (d) 接触媒質
(4.2) 探傷方法
(4.3) 探傷面及び走査範囲(探傷面の記号,反射回数など)
(4.4) 基準レベル及び評価レベル
  (a) 距離振幅特性曲線
  (b) 指定した評価レベル
(5) 試験結果
(5.1) きず指示の有無
(5.2) きずの位置
(5.3) きずの区分
(5.4) きずの指示長さ
(5.5) きずの分類
(6) その他必要事項
(7) 備考

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