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Z 4752-3-1 : 2004
附属書C(参考)低コントラスト試験具の例
例1. UAB低コントラスト試験器具(UAB : University of Alabama at Birmingham,USA) この試験
器具は,1枚の銅の減弱板(例えば,2 mm)及び2枚の厚さ6.1 mmのアルミニウムの測定板
で構成される。それぞれの測定板には,直径1.1 cmの異なる減弱の円盤又は穴が順に並んでい
る。測定板の外形寸法は,15.2 cm×15.2 cmである。その板には,三つの測定部が3列あり,
同じ列の隣り合う測定部間で,約3 %のコントラスト増分となっている。二つの外側の列は,
コントラストを増加させる並びの測定部からなり,そして中央の列は,これを補うような減少
させる並びである。0.5 %の分解能で低コントラスト解像度を得るためには,2枚の試験板を使
う。1枚目は,測定部のコントラスト範囲が約19 %(整数試験器具)のもの,2枚目は,0.5
8.5 %(半整数試験器具)のものであり,両方とも1 %のコントラスト増分である。これら
の試験被写体を用い,透視装置の自動露出率制御を通常用いられる値,例えば,約7080 kV
で動作させてよい。低コントラスト解像度は,2枚の試験板を交互に用いて得た低いほうの値
を選ぶことによって,0.5 %の精度で決定可能である。参考文献によるとコントラスト測定限
界は,管電圧と無関係である。さらに詳しい情報は,附属書Eの参考文献[12]参照。
例2. DIN規格低コントラスト試験器具 減弱板(例えば,厚さ25 mmのアルミニウム)及び被測定
部[例えば,被測定部付ポリメチルメタクリレート(PMMA)板]で構成するファントムにお
いて,一つのコントラストステップが作られている。このファントムを用いて管電圧約70 kV
の条件で,このコントラストステップは,4 %のX線コントラストを作らなければならない。
さらに詳しい情報は,附属書Eの参考文献[4]参照。
例3. Leeds撮影/透視システム用X線試験被写体 低コントラスト感度専用試験被写体は,おのおの
11 mmの直径をもつ19の低コントラスト円盤の環状列からなる。X線コントラストの範囲は,
0.160.007である。外形寸法は,直径180 mmである。さらに詳しい情報は,附属書Eの参考
文献[6]参照。
例4. IEC規格低コントラスト試験器具 この低コントラスト試験器具は,少なくとも1 cmの直径を
もつ減弱物質の円盤からなる。その試験器具は,ファントムによってX線ビームを硬くして用
いるなら,それらの円盤は,X線コントラストが120 %で次のような増加傾向で変化するよ
うに作られている。
1.0 %, 1.4 %, 1.8 %, 2.3 %, 2.7 %, 3.3 %, 3.9 %, 4.5 %, 5.5 %, 6.6 %, 7.6 %, 8.6 %, 10.8 %, 12.3 %,
14.5 %, 16.0 %, 18.0 %, 20.0 %。
備考 これらすべてのステップを撮影用フィルム上で測定するわけではないが,その試験器具は,通
常の医療業務において用いる線質では,理論的にこれらの値を与えるように作ることが望まし
い。さらに詳しい情報は,IEC 61223-2-9参照。
――――― [JIS Z 4752-3-1 pdf 31] ―――――
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C.1 参照文書
IEC 61223-2-9, 医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法―第2-9部 : 不変性試験―間接
X線透視撮影装置(刊行予定)
Evaluation and routine testing in medical imaging departments-Part2-9: Constancy tests -Equipment for indirect
radioscopy and indirect radiography
――――― [JIS Z 4752-3-1 pdf 32] ―――――
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附属書D(参考)実際のJIS規格又は現技術水準に基づく要求事項
(精度,許容差,不一致)の例
5.2 管電圧 JIS Z 4702の7.a)及び7.b)参照。 ±10%
5.3 総ろ過 JIS Z 4701の8.1.5のx線装置の総ろ過を参照 2.5 mmAl以上
又はX線装置の価層の表3参照。 80 kVで2.3 mmAl
5.4 X線管の焦点
附属書D表 1 公称焦点値に対する焦点寸法の代表値(JIS Z 4704参照)
公称焦点値 焦点寸法の許容差
mm
f 幅 長さ
0.25 0.25~0.38 0.25~0.38
0.3 0.30~0.45 0.45~0.65
0.4 0.40~0.60 0.60~0.85
0.5 0.50~0.75 0.70~1.10
0.6 0.60~0.90 0.90~1.30
0.7 0.70~1.10 1.00~1.50
0.8 0.80~1.20 1.10~1.60
0.9 0.90~1.30 1.30~1.80
1.0 1.00~1.40 1.34~2.00
1.1 1.10~1.50 1.60~2.20
1.2 1.20~1.70 1.70~2.40
1.3 1.30~1.80 1.90~2.60
1.4 1.40~1.90 2.00~2.80
1.5 1.50~2.00 2.10~3.00
1.6 1.60~2.10 2.30~3.10
1.7 1.70~2.20 2.40~3.20
5.5 X線ビーム範囲の制限及び表示 JIS Z 4701の8.2.9及び8.3.4参照。
附属書D表 2 JIS Z 4701による不一致パラメータX,Y及びZの値
不一致パラメータ 不一致の値[(1)参照]
%
X 2
Y[(2)参照] 3
Z[(3)参照] 4
注(1) IS Z 4701による不一致の要求事項。
(2) 受像面の2方向それぞれにおいてX線照射野範囲と対応する受像面範囲の不一致の合計
は,受像器面が基準軸を垂線とするとき,焦点受像器間距離の3 %を超えてはならない。
(3) 2方向の不一致の合計は,表示された焦点受像器器距離の4 %を超えてはならない。
5.6 透過カーマの直線性及び再現性 JIS Z 4702参照。
7.a) 6) 直線性 ≦0.2
7.a) 5) 再現性 ≦0.05
――――― [JIS Z 4752-3-1 pdf 33] ―――――
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附属書D表 3 透過(空気)カーマ指標TKiの代表値
透過(空気)カ 管電圧 kV
ーマ指標 定電圧12ピーク,12 平滑回路付6ピー 平滑回路なし6 2ピーク装置
TKi ピーク相当又はイン ク又は6ピーク相 ピーク装置
mAs)-1 バータ装置 当装置
0.6 62 63 67 71
0.9 66 68 72 76
1.3 71 73 77 82
1.6 74 75 81 86
2.0 77 79 85 91
2.3 79 81 88 94
2.8 82 85 92 99
3.5 89 89 97 104
注* タングステン-レニウム陽極及び2.5 mmAl線質等価ろ過の総ろ過で,焦点放射線検出器間
距離を100 cmにして,散乱X線の影響がない状態で,25 mmAl減弱板の後面で測定。さ
らに詳しい情報は,附属書Eの文献[4]参照。
5.7 患者X線受像器間の器具の減弱比
附属書D表 4 患者X線受像器間の器具の減弱比代表値
器具(X線装置の構成品) 減弱比*
患者支持器 1.25
フィルムチェンジャの前面パネル 1.25
散乱X線除去用グリッド 1.43
自動露出制御(AEC)の検出器 1.11
注* 測定パラメータは,80 kV及び25 mmAl減弱板。さらに詳しい情報は,附属書Eの文献
[4]参照。
5.8 自動露出制御(AEC)
5.8.2 自動露出制御の作動 JIS Z 4702には,次の値*が記述されている。
管電圧及び被写体厚さの変化による光学的濃度の不変性。|D|<0.2
注* この濃度許容差を平均階調度約3.0に対して適用する。
5.10 面積空気カーマ積表示 IEC 60580の6.4参照。全精度±25 %
6.8 透視X線I.I.入射面空気カーマ率 標準値は存在していない。この規格で記述した試験方法による実
測値。0.21.0 一
6.10 シネ撮影又は間接撮影システム(ディジタルシステムは除く。)用X線I.I.入射面空気カーマ 標準
値は存在していない。ここで記述した試験方法による実測値。次の間接撮影システム
25 cmX線I.I. <2.0
シネ撮影1画像当たり <0.2
6.12 シネ撮影又は間接撮影システム(ディジタルシステムは除く。)用X線I.I.透視のラインペア解像度
標準値は存在していない。この規格で記述した試験方法b)(減弱板を用いる)による実測値。
透視
25 cmX線I.I. : 0.91.4 lp/mm
45 cmX線I.I. : 0.50.8 lp/mm
(映像帯域幅による。)
間接撮影
――――― [JIS Z 4752-3-1 pdf 34] ―――――
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25 cmX線I.I. : 2.0 lp/mm
1画像当たりのシネ撮影
25 cmX線I.I. : 1.6 lp/mm
(これらの値は,X線I.I.の公称入射面視野寸法直径の3分の2の中心内で,ラインペア試験器具をX線
I.I.入射面に近づけた状態では有効である。)
6.13 シネ撮影又は,間接撮影システム(ディジタルシステムは除く。)用X線I.I.透視の定コントラスト
解像度 標準値は存在していない。実測値は,指定した試験方法による。
7.1 要求事項 標準値は存在していない。この規格で記述した試験方法による実測値。
断層軌道形状 : 仕様書参照
高さ表示 : 断層面の光表示と高さ表示器との偏差は±5 mm以下が望ましい
最少ラインペア解像度 : 1.8 lp/mm
――――― [JIS Z 4752-3-1 pdf 35] ―――――
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JIS Z 4752-3-1:2004の引用国際規格 ISO 一覧
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JIS Z 4752-3-1:2004の国際規格 ICS 分類一覧
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