JIS Z 4916:1997 規格概要
この規格 Z4916は、X線装置及びX線映像装置の解像力を判定するときに用いるX線吸収体を材料とするX線用解像力テストチャートについて規定。
JISZ4916 規格全文情報
- 規格番号
- JIS Z4916
- 規格名称
- X線用解像力テストチャート
- 規格名称英語訳
- Test charts for resolution characteristics of X-ray equipment
- 制定年月日
- 1974年6月1日
- 最新改正日
- 2018年10月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- 国際規格分類
ICS
- 11.040.50
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 1974-06-01 制定日, 1977-07-01 確認日, 1983-11-01 確認日, 1989-03-01 確認日, 1995-01-01 確認日, 1997-07-20 改正日, 2008-10-01 確認日, 2013-10-21 確認日, 2018-10-22 確認
- ページ
- JIS Z 4916:1997 PDF [7]
日本工業規格(日本産業規格) JIS
Z 4916-1997
X線用解像力テストチャート
Test charts for resolution characteristics of X-ray equipment
1. 適用範囲 この規格は,X線装置及びX線映像装置の解像力を測定するときに用いるX線吸収体(以
下,吸収体という。)を材料とするX線用解像力テストチャート(以下,テストチャートという。)につい
て規定する。
備考 この規格の引用規格を,次に示す。
JIS B 7502 マイクロメータ
JIS B 7507 ノギス
JIS K 6718 メタクリル樹脂板
2. 用語の定義 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
(1) 解像力 (resolution) X線写真やX線映像装置などの画像の描写能力を表す量。等しい幅をもつ明暗
の線対の像において,分解していると認められる最小線対の幅の逆数で表す。単位は,一般にLP/mm
を用いる。
像又は物体を構成する周期的な構造の細かさを表す量。単位長さ当
(2) 空間周波数 (spatial frequency)
たりの周期の数で表す。単位は,一般にLP/mmを用いる。
3. 種類及び用途 テストチャートの種類は,吸収体の材質及び厚さ並びに形状,寸法及び配列によって
表1のとおりとする。空間周波数の変化は,等比数列を原則とする。
――――― [JIS Z 4916 pdf 1] ―――――
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Z 4916-1997
表1 テストチャートの種類及び用途
種類 空間周波数範囲 公比 用途
LP/mm
R-1W100 0.55.0 1.25 一般用
R-1Pb100
R-2W50 2.010.0 1.25 高解像力用
R-2Pb50
R-4W100 1.04.0 1.25 間接撮影用
R-4Pb100
R-5W50 0.55.0 連続的 焦点確認用
R-5Pb50
備考 表1に示す種類は,次の意味をもつ文字と数字との組合せで示
す。
1項 2項 3項 4項
“アルファベット文字”−“数字” “材料の記号” “数字”
(1) 1項は,解像力測定用を示すアルファベット文字,R
(2) 2項は,用途を示す数字で次による。
1 : 一般用
2 : 高解像力用
3 : 欠番とする。
4 : 間接撮影用
5 : 焦点確認用
(3) 3項は,吸収体の材料を示す記号(表2参照)
(4) 4項は,吸収体の厚さを示す数字(単位
例 用途が一般用(1)で,吸収体の材料がタングステン,その厚さが
100 湘 : R-1W100
4. 材料・構造及び形状・寸法
4.1 材料・構造 材料及び構造は,次による。
(1) 吸収体の材料は,表2を用い,通常の取扱いで破損しないように,図1に示す2枚の透明な保護板で
挟んだ構造とする。保護板の厚さ (t) は1mm以下とし,図1のa及びbは,特に指定しない限り10mm
以下とする。
なお,接着剤を使用する場合には,解像力の測定結果に影響を与えないようにする。
表2 吸収体の材料
記号 材料
W タングステン(純度99.5%以上)
Pb 鉛 (純度99.5%以上)
――――― [JIS Z 4916 pdf 2] ―――――
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Z 4916-1997
図1 テストチャートの構造
(2) 保護板は,JIS K 6718に規定する無色透明なメタクリル樹脂板とする。
4.2 形状・寸法 吸収体の形状及び寸法は,図25に示すとおりとし、各空間周波数の吸収体の線数は
焦点確認用を除き,すべて3本とする。
空間周波数の表示値に対する許容差は,±8%,吸収体の厚さ及び外形寸法の許容差は±10%とする。
備考1. 吸収体の厚さの測定は,JIS B 7502によるマイクロメータ,寸法測定には,JIS B 7507による
ノギス又はこれらと同等以上の精度をもつ測定器を用いる。
2. 空間周波数の測定は,テストチャートを寸法確認用スケールとともに,拡大鏡で見るか,又
は拡大投影機で観察して,規定の許容差内にあるかどうかを調べる。
図2 R-1W100,R-1Pb100(一般用)
――――― [JIS Z 4916 pdf 3] ―――――
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Z 4916-1997
図3 R-2W50,R2Pb50(高解像力用)
図4 R-4W100,R-4Pb100(間接撮影用)
備考 保護板外周の目盛線は,テストチャート
の縦及び横方向に一致するよう90°等
分割の位置に置く。
――――― [JIS Z 4916 pdf 4] ―――――
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Z 4916-1997
図5 R-5W50,R-5Pb50(焦点確認用)
備考 目盛なしで,全周をパターンで埋めたものも可とする。
参考 直径57.3mmの場合,円周が約180mmとなり,角度2°の弧の長さが約1mmとなる。
5. 空間周波数 空間周波数は,表3による。
なお,空間周波数と線幅及び線間の関係は,次の式に示すとおりである。
1
u
2d
ここに, u : 空間周波数 (LP/mm)
d : 線幅及び線間の寸法 (mm)
――――― [JIS Z 4916 pdf 5] ―――――
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