JIS Z 4917:1984 Ｘ線変調度伝達関数測定用テストチャート

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             Z 4917-1984

X線変調度伝達関数測定用テストチャート

Test Charts for Modulation Transfer Function of X-ray Equipment

1. 適用範囲 この規格は,X線装置及び映像装置(X線フィルム,増感紙など)の変調度伝達関数(以
下,MTFという。)を測定するときに用いるX線吸収体(以下,吸収体という。)を材料とするX線MTF
測定用テストチャート(以下,テストチャートという。)について規定する。ただし,このテストチャート
で測定し,得られるのは,方形波MTFであり,正弦波MTFを求めるには換算を必要とする。
  引用規格 : 
    JIS B 7502 外側マイクロメータ
    JIS B 7507 ノギス
    JIS G 4305 冷間圧延ステンレス鋼板
    JIS K 6718 メタクリル樹脂板
関連規格 : JIS Z 4916 X線用解像力テストチャート
2. 用語の意味 この規格で用いる主な用語は,次による。
(1)   TF (modulation transfer function) 像伝達系に正弦波入力を加えるとき,出力像のコントラス及び位相
    が変化するが,この入出力のコントラストの比だけを空間周波数の関数として表したもの。
      方形波MTFと区別するために,正弦波MTFということもある。
      通常,空間周波数ゼロにおける値で1.0に正規化する。
(2) 方形波MTF (square wave MTF) 像伝達系に方形波入力を加えるとき,出力像のコントラストと位相が
    変化するが,この入出力のコントラストの比だけを空間周波数の関数として表したもの。
(3) 空間周波数 (spatial frequency) 単位長さ当たりに存在する等しい幅をもつ明暗の線対の組数。単位は
    通常LP/cm(1cm当たりの線対数)又はLP/mm(1mm当たりの線対数)を用いる。
3. 種類 テストチャートの種類は,吸収体の材質及び厚さ並びに形状,寸法及び配列によって表1のと
おりとする。空間周波数の変化は,等比及び等差の両系列とする。

――――― [JIS Z 4917 pdf 1] ―――――

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Z 4917-1984
                                              表1
                                                            空間周波数の範囲 吸収体の厚さ
        区分      用途                   種類
                                                                 LP/mm             
                           M−1 W 50 R,     M−1 Pb 50 R                         50
              一般用
                           M−1 W 50 D,     M−1 Pb 50 D
         1                                                     0.5 5.0
                           M−1 W 100 R,    M−1 Pb 100 R
              高圧用                                                             100
                           M−1 W 100 D,    M−1 Pb 100 D
                           M−2 SUS 45 R,   M−2 Sn 40 R       1.0 8.0        45又は40
         2    低圧用
                           M−2 SUS 45 D,   M−2 Sn 40 D       0.510.0        45又は40
              X線イメージ
                           M−3 W 100 R,    M−3 Pb 100 R      0.5 6.3
         3    インテンシフ                                                       100
                           M−3 W 100 D,    M−3 Pb 100 D      0.5 6.0
              ァイア用
         4    拡大用       M−4 Au 30 R                        2.0 20            30
    備考 表1に示す種類は,次の意味をもつ文字と数字との組合せで示す。
            1項 2項       3項      4項     5項
            “文字”−“数字” “文字” “数字” “文字”
        (1) 1項は,MTF測定用を示す文字,M
        (2) 2項は,区分を示す数字
        (3) 3項は,吸収体の材料を示す文字記号(表2参照)
        (4) 4項は,吸収体の厚さを示す数字(単位   
        (5) 5項は,空間周波数の変化を示す文字
                R : 空間周波数の変化が等比数列であることを示す。
                D : 空間周波数の変化が等差数列であることを示す。
              テストチャートの記号の記載例 : 区分が1で,吸収体の材料がタングステ
              ン,その厚さが100       空間周波数の変化が等比の場合
                M−1 W 100 R
4. 材料,構造及び形状・寸法
(1) 吸収体は表2に示す材料を用い,図28に示す図形を抜き出す。吸収体は通常の取り扱いで容易に破
    損しないように,図1に示す2枚の透明な保護板で挟んだ構造とする。1枚の保護板の厚さは1mm以
    下,図1のa及びbは10mm以下とする。
                                              表2
                    記号                          材料
                      W     タングステン   (純度 99.5% 以上)
                      Pb    鉛             (純度 99.5% 以上)
                     SUS                   [JIS G 4305(冷間圧延ステンレス鋼板)
                            ステンレス
                                           に規定のSUS 304]
                     Sn     すず           (純度 99.5% 以上)
                     Au     金             (純度 99.5% 以上)

――――― [JIS Z 4917 pdf 2] ―――――

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                                                                                    Z 4917-1984
                                      図1 チャートの構造
      なお,接着剤を使用する場合には,MTFの測定結果に影響を与えないようにする。
(2) 保護板は,JIS K 6718(メタクリル樹脂板)に規定する一般用の無色透明なメタクリル樹脂板とする。
(3) 吸収体の形状及び寸法は,種類別に図28のとおりとする。
      空間周波数の表示値に対する許容差は±8%以下,吸収体の厚さ及び外形寸法の許容差は±10%以下
    とする。また,図28に示すe, fは線群に直角な方向を示すためのものである。eは1mm以下,fは
    2mm以上とする。
      また,マークは左右対称に設ける。
      吸収体の線群の外に設けた角穴は,MTFを正規化するためのものである。
      線群の間隔は2mmとする。ただし,図8に示すものは0.5mmとする。
    備考1. 吸収体の厚さの測定は,JIS B 7502(外側マイクロメータ)によるマイクロメータ,寸法測
            定にはJIS B 7507(ノギス)によるノギスを用いる。
         2. 空間周波数の測定は,テストチャートを拡大鏡で見るか,又は拡大投影機で観察して,規定
            の許容差内にあるかどうかを調べる。
                 図2 M−1 W 50 R・M−1 Pb 50 R・M−1 W 100 R・M−1 Pb 100 R
備考 0.50.8LP/mmの線数は3本,1.05.0LP/mmは5本とする。

――――― [JIS Z 4917 pdf 3] ―――――

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Z 4917-1984
                 図3 M−1 W 50 D・M−1 Pb 50 D・M−1 W 100 D・M−1 Pb 100 D
備考 0.5LP/mmの線数は5本,1.05.0LP/mmは10本とする。
                               図4 M−2 SUS 45 R・M−2 Sn 40 R
備考 線数はすべて5本とする。
                               図5 M−2 SUS 45 D・M−2 Sn 40 D
備考 0.5LP/mmの線数は5本,1.010.0LP/mmは10本とする。

――――― [JIS Z 4917 pdf 4] ―――――

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                                                                                    Z 4917-1984
                               図6 M−3 W 100 R・M−3 Pb 100 R
備考 0.51.6LP/mmの線数は3本,2.06.3LP/mmは5本とする。
                               図7 M−3 W 100 D・M−3 Pb 100 D
備考 0.5LP/mmの線数は3本,0.756.0LP/mmは5本とする。

――――― [JIS Z 4917 pdf 5] ―――――

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