JIS Z 8792:2011 ホログラムの記録特性測定方法 | ページ 3

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                                                                                   Z 8792 : 2011
  2)   IS Z 8791の5.5(回折効率の測定方法)に規定する測定方法のうち,どの方法(一つ又は複数)に
      基づいて測定されたか。
  3) 回折効率の測定時の照明波の入射角度[度(°)又はrad]
  4) 照明波の波長(μm)[回折効率の測定にJIS Z 8791の5.5.2(絶対回折効率の測定方法),又は5.5.3
      (相対回折効率の測定方法)を用いたときは,使用レーザの波長。JIS Z 8791の5.5.4(分光透過回
      折効率の測定方法)を用いたときは,透過率が最小となる位置の波長。JIS Z 8791の5.5.5(分光反
      射回折効率の測定方法)を用いたときは,反射率が最大となる位置の波長。]
c) 半値露光量の記載に当たっては,次の情報についても併せて記載する。
  1) 回折効率の最大値(%)
  2)   IS Z 8791の5.5(回折効率の測定方法)に規定する測定方法のうち,どの方法(一つ又は複数)に
      基づいて測定されたか。

6.4 R値の測定結果の記載

  R値の測定結果の記載は,次による。
a)   値は,5.7によって測定された値をもって示す。
b)   値の記載に当たっては,次の情報についても併せて記載する。
  1) 測定対象が,透過型ホログラム又は反射型ホログラムのいずれであるか。
  2) ホログラムの記録時の物体波及び参照波の入射角度[度(°)又はrad]
  3) ホログラムの記録時の露光量(μJ/cm2又はmJ/cm2)
  4)   IS Z 8791の5.5(回折効率の測定方法)に規定する測定方法のうち,どの方法(一つ又は複数)に
      基づいて測定されたか。
  5) 回折効率の測定時の照明波の入射角度[度(°)又はrad]
  6) 照明波の波長(μm)[回折効率の測定にJIS Z 8791の5.5.2(絶対回折効率の測定方法),又は5.5.3
      (相対回折効率の測定方法)を用いたときは,使用レーザの波長。JIS Z 8791の5.5.4(分光透過回
      折効率の測定方法)を用いたときは,透過率が最小となる位置の波長。JIS Z 8791の5.5.5(分光反
      射回折効率の測定方法)を用いたときは,反射率が最大となる位置の波長。]

6.5 屈折率変調量の測定結果の記載

  屈折率変調量の測定結果の記録は,次による。
a) 屈折率変調量は,5.8に基づいて算出された値をもって示す。
b) 屈折率変調量の記載に当たっては,次の情報についても併せて記載する。
  1) ホログラムの記録時の物体波及び参照波の入射角度[度(°)又はrad]
  2) 回折効率の測定時の照明波の入射角度[度(°)又はrad]
  3) 照明波の波長(μm)[JIS Z 8791の5.5.4(分光透過回折効率の測定方法)に規定する分光透過回折
      効率において,透過率が最小となる位置の波長。]
  4) ホログラムの平均屈折率の測定又は算出(推定を含む。)の方法

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Z 8792 : 2011
                                      表1−報告事項の一覧
       項目                                   記載情報                             記載の必要性
  a) 測定対象に関 ・記録材料の名称(例 : 商品名,開発コード番号など識別できる情報) 必須
  する情報        ・露光前の記録材料の厚さ(基板,支持体部分などは,含めない。)(μm)
                  ・基板(又は支持体部分)の種類(ガラス,ポリマーフィルムなどの区別)
                  ・ホログラムの記録時に使用したレーザ光の特徴[波長(μm),及び連続発振
                    レーザか,又はパルス発振レーザかの区別]
                  ・現像,漂白などの記録時に行った処理方法(該当の場合)。他者が再現可能
                    な情報を最低限報告しなければならない。
  b) 露光特性曲線 ・露光特性曲線(η−E特性曲線)のグラフ                          必須a)
                  ・ホログラムの記録時の物体波及び参照波の入射角度[度(°)又はrad]
                  ・回折効率の測定方法(JIS Z 8791の5.5.25.5.5のうちのいずれか,又は複
                    数)
                  ・回折効率の測定時の照明波の入射角度[度(°)又はrad]
                  ・照明波の波長(μm)(回折効率の測定方法がJIS Z 8791の5.5.2又は5.5.3
                    のときは,使用レーザの波長。JIS Z 8791の5.5.4のときは,透過率が最小
                    となる位置の波長。JIS Z 8791の5.5.5のときは,反射率が最大となる位置
                    の波長。)
  c) 半値露光量   ・半値露光量の値(μJ/cm2又はmJ/cm2)                            必須a)
                  ・回折効率の最大値(%)
                  ・回折効率の測定方法(JIS Z 8791の5.5.25.5.5のうちのいずれか,又は複
                    数)
  d)   値          ・R値                                                            任意
                  ・測定対象が,透過型ホログラム又は反射型ホログラムのいずれであるか。
                  ・ホログラムの記録時の物体波及び参照波の入射角度[度(°)又はrad]
                  ・回折効率の測定方法(JIS Z 8791の5.5.25.5.5のうちのいずれか,又は複
                    数)
                  ・回折効率の測定時の照明波の入射角度[度(°)又はrad]
                  ・照明波の波長(μm)(回折効率の測定方法がJIS Z 8791の5.5.2又は5.5.3
                    のときは,使用レーザの波長。JIS Z 8791の5.5.4のときは,透過率が最小
                    となる位置の波長。JIS Z 8791の5.5.5のときは,反射率が最大となる位置
                    の波長。)
  e) 屈折率変調量 ・屈折率変調量                                                   任意
                  ・ホログラムの記録時の物体波及び参照波の入射角度[度(°)又はrad]
                  ・回折効率の測定時の照明波の入射角度[度(°)又はrad]
                  ・照明波の波長(μm)(JIS Z 8791の5.5.4に規定する分光透過回折効率にお
                    いて,透過率が最小となる位置の波長。)
                  ・ホログラムの平均屈折率の測定又は算出(推定を含む。)の方法
  注記 それぞれの項目の記載情報が同一であるときは,参照関係を示した上で,記載を省略してもよい。また,測
       定年月日,測定環境,測定者,規格番号などを記載することが望ましい。
  注a) 報告事項の項目のうち,b) 又はc) のうち少なくとも一方を必須とする。

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                                          附属書A
                                          (参考)
   二光束干渉によるホログラムの記録光学系の組立手順及び安定性の確認
A.1 ホログラムの記録光学系の組立手順
  推奨されるホログラムの記録光学系(図1)の組立手順は,次による。
a) 光学系の基準高さの設定 レーザビームが光学定盤面に対して水平になるようにレーザ本体のレベル
    を調整することが望ましい。光学定盤面から,このビームの高さを光学系の基準高さとすることが望
    ましい。レーザビームの高さを合わせるには,例えば,細線で十字マークを付けたガラス板を用意し,
    それをスタンドに着けて十字マークの中心を基準高さに合わせる“基準高さとするスタンド”などを
    用いると容易になる。
b) 光学系の設定 対物レンズ,ピンホール,コリメータレンズを入れない状態で,レーザビームをミラ
    ー,ハーフミラー,試験片ホルダなどの光学系に通す。“基準高さとするスタンド”を順次,それぞれ
    の部品の間に挿入し,それぞれのミラーの回転,あおり機構などを使って,それぞれの光路間のビー
    ム高さが基準高さに一致するように調整することが望ましい。最終的に試験片ホルダ面で2ビームを
    基準高さで合致させることが望ましい。
c) 角度の設定 ミラー,ハーフミラーの反射角度及び試験片ホルダ面への入射角度の設定は,b) と同時
    に行い,次のように行うことが望ましい。
  1) それぞれのミラー類にレーザビームを入射させるとき,その手前に“基準高さとするスタンド”を
      置いて,十字線の中心をビームの中心に合わせておく。ビームがミラーに入射している状態で,ミ
      ラーを回転し,その反射ビームが元に戻るように,すなわち,反射ビームの中心が十字線の中心に
      合うようにミラーを調整し,角度を設定する基準とする。
  2) 図1のハーフミラーは,ミラー1からの光束をミラー2の方向にそのまま透過させるとともに,ミラ
      ー3の方向に反射させる役目をもっている。ハーフミラーの角度設定は,ミラー1とハーフミラーと
      の間に“基準高さとするスタンド”を置いて,上記のビームを元に戻す調整を行い,次にハーフミ
      ラーを45゜回転させることによって,角度設定を行う。他のミラーに関しても同様の調整を行う。
  3) 試験片ホルダの材料面に対するビームの入射角度の設定及び測定は,次のように行う。
        試験片と同サイズのガラス板をホルダにセットし,試験片ホルダとミラー2との間,及び試験片
      ホルダとミラー3との間に“基準高さとするスタンド”を置き,それぞれ十字線の中心とビームの
      中心とを合わせておく。
        まず,ホルダにセットしたガラス板面で2ビームが一致するようにホルダを前後に動かして位置
      調整をする。
        次に,ミラー2からのビームをガラス板で反射させて,元に戻るようにホルダを回転して,角度
      のゼロ点合わせを行う。さらに,この反射ビームが試験片ホルダとミラー3との間に置かれた十字
      線に合うようにホルダを回転させる。この回転角が図1 a) に示すθ1角に相当する。
d) コリメータレンズの設定 コリメータレンズの設定において重要なことは,レーザビームをコリメー
    タレンズの中心部(光軸)に通すこと,及びコリメータレンズの中心部のレンズ面に垂直に入射させ
    ることである。
  1) 中心部を通っているかどうかの確認は,コリメータレンズを置く場所から,ミラー1の方向にその

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Z 8792 : 2011
      焦点距離だけ離れたところに“基準高さとするスタンド”を置き,十字線の中心をビームの中心に
      合わせる。
  2) コリメータレンズを規定の場所に置き,コリメータレンズによって収束されるビームのスポットが
      十字線の中心に合うようにコリメータレンズの高さ,横ずれなどを調整する。
  3) レンズ面に垂直に入射しているかどうかの確認は,“基準高さとするスタンド”をレーザ側にコリメ
      ータレンズの焦点距離のところに置き,十字線の中心をビームの中心に合わせる。次に,コリメー
      タレンズ中心部から反射される光線の中心部分が十字線の中心に合うように,コリメータレンズの
      回転,あおり機構などで調整することによってコリメータレンズの向きを調整する。
e) 対物レンズ及びピンホールの設定 対物レンズとピンホールとを一体化した部品(スペイシャルフィ
    ルターユニット)があるのでそれを利用することが望ましい。この部品のピンホール位置がコリメー
    タレンズの前側焦点距離のところにくるように置く。ピンホールを抜いて,ビームと対物レンズとの
    光軸合わせを行い,きれいな球面波が出ていることを確認するとともに,その球面波の中心がコリメ
    ータレンズの中心にくるように調整する。その後,ピンホールを入れ,ピンホールを前後上下左右に
    微動して,対物レンズで収束される光がピンホールを完全に通るように調整する。
f)  参照波と物体波との放射照度比の確認 光検出器を用いて参照波と物体波の放射照度とを別々に測定
    し,それぞれが等しくなっていることを確認することが望ましい。もし,等しくないときは,a)   e) の
    手順を再度見直す。
      なお,ここでは定盤上に一般的な光学部品を用いてホログラムの記録光学系を構築する手順の例を
    示したが,十分に調整され,かつ,安定した平面波同士の二光束干渉によって作製するホログラムの
    記録光学系であれば,この限りでない。
A.2 光学系の安定性の確認
  光学系でマッハツェンダー干渉計を構成し,かつ,光学系の安定性を確認することが望ましい。具体的
には,図1 b) の試験片ホルダの替わりにハーフミラー2を置き,ミラー2からきた光のハーフミラー2に
よる反射光と,ミラー3からきた光のハーフミラー2による透過光との干渉光をスクリーン上に投影し,ス
クリーンに映った干渉じまを観察する。想定される露光時間中,干渉じまの動きが十分に少なければ光学
系は安定していると判断できる。光学系が安定していないと,記録材料中に記録される干渉じまのコント
ラストが低くなり,ホログラムの回折効率が低下するので,ホログラムの記録前に,光学系の安定性を確
認することを推奨する。

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                                           附属書B
                                          (参考)
                                  ホログラムの記録手順
B.1 ホログラムの記録手順
  ホログラムの記録手順は,次による。
a) 暗室内に設置した図1の光学系に,記録材料を固定し,露光を行う。
b) 露光時の暗室の照明は,完全に消灯するか,又は記録材料が感度をもたない波長の光とする。
c) 露光を行うときの記録材料面での放射照度,露光時間などを記録する。
d) 露光量を変化させながら,複数のホログラムを記録することで,5.5及び5.6によってホログラムの記
    録材料の記録特性を測定することができる。
e) 記録材料によっては,露光前,露光中及び露光後に処理が必要なものがあるため,記録材料の処方に
    従って実施する。
      なお,露光中にホログラムの記録装置に振動が生じないようにする。これらの振動は,シャッター
    の開閉時の動作,音,空気の揺らぎ,熱変形などによっても生じることがあるので,十分な注意が必
    要である。

――――― [JIS Z 8792 pdf 15] ―――――

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