JIS H 1682:2002 (W) タンタル　―　けい素定量方法

JIS H 1682:2002 廃止 移動先 規格概要

この規格 H1682は、タンタル中のけい素定量方法について規定。

規格 番号

JIS H1682 

規格 名称

タンタル ― けい素定量方法

規格 名称 英語訳

Tantalum -- Method for determination of silicon

制定 年月日

1966-03-01

廃止 年月日

2006-09-20

引用 JIS 規格

JISH1680,JISK0050,JISK0115

対応国際 規格 ISO

-

国際規格 分類 ICS

77.120.99

改訂 履歴

1966-03-01 制定日, 1969-03-01 確認日, 1972-07-01 確認日, 1975-07-01 確認日, 1976-11-01 改正日, 1980-02-01 確認日, 1986-02-01 確認日, 1991-08-01 確認日, 1996-06-01 確認日, 2000-09-20 確認日, 2002-01-20 改正 2006-09-20 廃止日

公示の種類

廃止

廃止の理由

他規格へ統合

移行先(移動先)

JIS H 1699:2006 タンタルのICP発光分光分析方法

JISハンドブック

金属分析 II 2019

規格番号

規格名称

JISH1680:2002

タンタル―分析方法通則

JISK0050:2019

化学分析方法通則

JISK0115:2004

吸光光度分析通則

JISK0115:2020

吸光光度分析通則