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B 6210-3 : 2010
M3(続き)
検査事項 許容値 測定値 測定器 測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
R1,R2及びR3を通 測定長さ テストバー,3.1,3.22,4.1,4.2,5.321及び5.325
る垂直面と穴d1及 L=1 000につい 変位計又は
びd2の中心線との て ブロックゲ この検査の実施に当たって,工作物は取付
等距離度(距離l1 a) 0.06 ージ,ハイトジグから外してはならない。工作物を組み付
=l2) b) 0.1 ゲージ,三次けた取付ジグは定盤上に置いてもよい。
c) 0.15 元座標測定 検査を開始する前に,テーブルに取り付け
機 る取付ジグの面が平らであり,工作物を支持
するための穴の中心線及び心出し穴Cの中心
線は三つの基準ブロックR1,R2及びR3で決
定される垂直基準面から等距離にあること
を確かめる。
取付ジグをテーブル上に取り付ける前に,
テーブルの回転中心線が正確に中ぐり主軸
中心線を通る垂直面内にあることを確かめ
て,回転テーブルを固定する。
取付ジグの心出し穴Cは,可能な場合はプ
ラグMを使って,テーブルの回転中心と正確
に一致するようにテーブル上に載せた取付
具を調整する。
中ぐり主軸中心線を通る垂直面内で基準ブ
ロックR1及びR2を取り付けて,テーブル上
で取付具を回転させる。
テーブル上に取付ジグを固定し,図に示す
ように工作物を組み込む。
最初の工作物を直径dまで中ぐりする。
次に,テーブルを180°回転させて,次の
工作物を同様に中ぐりする。
――――― [JIS B 6210-3 pdf 41] ―――――
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B 6210-3 : 2010
9 数値制御による位置決め精度検査
この検査は,直進及び旋回軸の位置決めを数値制御で行う横中ぐりフライス盤だけに適用する。
この検査を実施するときには,特に環境条件,機械の暖機運転,測定方法,評価方法及び結果の表示方
法は,JIS B 6190-2を参照する。
検査事項 P1
数値制御によるテーブル運動(X軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値 500L≦500
1 000 2 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.014 0.020 0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓ 0.007 0.009 0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.011 0.014 0.017
軸の平均反転値 B 0.005 0.006 0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.008 0.011 0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.003 0.005 0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-3 pdf 42] ―――――
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B 6210-3 : 2010
検査事項 P2
数値制御による主軸頭運動(Y軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値 500L≦500
1 000 2 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.014 0.020 0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓ 0.007 0.009 0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.011 0.014 0.017
軸の平均反転値 B 0.005 0.006 0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.008 0.011 0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.003 0.005 0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-3 pdf 43] ―――――
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B 6210-3 : 2010
検査事項 P3
数値制御によるコラムベース運動(W軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値 500<L≦ 1 000<L≦
L≦500
1 000 2 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.014 0.020 0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓ 0.007 0.009 0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.011 0.014 0.017
軸の平均反転値 B 0.005 0.006 0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.008 0.011 0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.003 0.005 0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-3 pdf 44] ―――――
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B 6210-3 : 2010
検査事項 P4
数値制御による中ぐり主軸又はラム運動(Z軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値
L≦500 500軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.017 0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓ 0.007 0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.014 0.017
軸の平均反転値 B 0.006 0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.010 0.012
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.004 0.005
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-3 pdf 45] ―――――
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JIS B 6210-3:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 3070-3:2007(MOD)
JIS B 6210-3:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.080 : 工作機械 > 25.080.20 : 中ぐり盤及びフライス盤
JIS B 6210-3:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称