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B 6228-2 : 2012
単位 mm
検査事項
P3
数値制御による立てフライスヘッド運動又はクイル(ラム)(Z軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000
軸が2 000 mm以下の場合
軸の両方向位置決めの正確さ,A 0.020 0.025
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 0.008 0.010
軸の反転値,B 0.010 0.013
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.016 0.020
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.010 0.013
測定器
リニアスケール又はレーザ測定器
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
工具位置と工作物位置との間の相対測定を行うのが望ましい。レーザ測定器を使用する場合は,反射鏡は,立て
フライスヘッド(工具位置)に取り付け,干渉計はテーブル上に定置する。
リニアスケールを使用する場合は,スケール読取り装置が工具位置にくるようにして,テーブル上にZ軸と平行
に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
測定開始点は,記録する。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 31] ―――――
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B 6228-2 : 2012
単位 mm
検査事項
P4
数値制御による横フライスヘッドサドル運動(W軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸が2 000 mm以下の場合
軸の両方向位置決めの正確さ,A 0.020 0.025 0.032
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 0.008 0.010 0.013
軸の反転値,B 0.010 0.013 0.016
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.016 0.020 0.025
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.010 0.013 0.016
軸が2 000 mmを超える場合
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.025に1 000増すごとに0.005を加える
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
軸の反転値,B 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
測定器
リニアスケール又はレーザ測定器
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
工具位置と工作物位置との間の相対測定を行うのが望ましい。レーザ測定器を使用する場合は,反射鏡は,横フ
ライスヘッド(工具位置)に取り付け,干渉計はテーブル上に定置する。
リニアスケールを使用する場合は,スケール読取り装置が工具位置にくるようにして,テーブル上にZ軸と平行
に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
測定開始点は,記録する。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 32] ―――――
31
B 6228-2 : 2012
単位 mm
検査事項 P5
数値制御による横フライスヘッド又はクイル(ラム)運動(V軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000
軸が2 000 mm以下の場合
軸の両方向位置決めの正確さ,A 0.020 0.025
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 0.008 0.010
軸の反転値,B 0.010 0.013
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.016 0.020
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.010 0.013
測定器
リニアスケール又はレーザ測定器
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
工具位置と工作物位置との間の相対測定を行うのが望ましい。レーザ測定器を使用する場合は,反射鏡は,横フ
ライスヘッド(工具位置)に取り付け,干渉計はテーブル上に定置する。
リニアスケールを使用する場合は,スケール読取り装置が工具位置にくるようにして,テーブル上にY軸と平行
に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
測定開始点は,記録する。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 33] ―――――
32
B 6228-2 : 2012
単位 mm
検査事項 P6
数値制御によるクロスレール運動(R軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸が2 000 mm以下の場合
軸の両方向位置決めの正確さ,A 0.020 0.025 0.032
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 0.008 0.010 0.013
軸の反転値,B 0.010 0.013 0.016
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.016 0.020 0.025
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.010 0.013 0.016
軸が2 000 mmを超える場合
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.025に1 000増すごとに0.005を加える
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
軸の反転値,B 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
測定器
リニアスケール又はレーザ測定器
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
工具位置と工作物位置との間の相対測定を行うのが望ましい。レーザ測定器を使用する場合は,反射鏡は,立て
フライスヘッド(工具位置)に取り付け,干渉計はテーブル上に定置する。
リニアスケールを使用する場合は,スケール読取り装置が工具位置にくるようにして,テーブル上にZ軸と平行
に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
測定開始点は,記録する。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 34] ―――――
33
B 6228-2 : 2012
9.2 旋回軸
検査事項
P7
数値制御による旋回形立てフライスヘッド運動(A軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 基準割出盤
2 オートコリメータ
3 反射鏡
4 ビームベンダ
許容値 測定角度 測定値
(″) ≦90° ≦180°
軸の両方向位置決めの正確さ,A 12″ 16″
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 5″ 6″
軸の反転値,B 10″ 13″
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 6″ 8″
測定器
オートコリメータ及び多面鏡,反射鏡付き割出盤及びオートコリメータ,又は割出盤付きレーザ角度干渉計
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
基準割出盤を用いる場合は,基準割出盤の回転軸が,旋回ヘッドの旋回軸と平行になるように旋回ヘッド上に基
準割出盤を取り付ける。
1) 所定の割出角度だけ旋回ヘッドを回転させる。
2) 反射鏡が初期の位置に戻るように基準割出盤を旋回させて戻したとき角度偏差を測定する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
注記 この検査項目は,1)の手順を行った後,引き続き2)の手順を行う。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 35] ―――――
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JIS B 6228-2:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 8636-2:2007(MOD)
JIS B 6228-2:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.080 : 工作機械 > 25.080.20 : 中ぐり盤及びフライス盤
JIS B 6228-2:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称