この規格ページの目次
24
B 6228-2 : 2012
単位 mm
検査事項 G18
横フライス主軸中心線とコラム運動(X軸)との直角度
注記 横フライス主軸をもつ横フライスヘッドだけに適用する。この検査は,取外し可能な横フライスヘ
ッドには適用しない。
測定方法図
許容値 測定値
0.03/500 2)
注2) 500は,変位計を当てる2点間の距離
測定器
直定規,変位計及び支持アーム
測定手順及びJIS B 6191の引用細分箇条番号
5.512.32
直定規の使用面は,コラム運動(X軸)に平行にテーブルの中央に定置する。
コラムは,可能な場合には,動きの中央で固定する。
横フライスヘッドは,低い位置に置き,可能な場合には固定する。
クイル又はラムは,移動量の1/3だけ横フライスヘッドから繰り出す。
変位計は,横フライス主軸に取り付け,その変位計の測定子を直定規に当てて,読みを取る。
次に,主軸を180°回して,読みを取る。二つの読みの差を2点間の距離で除した値を直角度の偏差とする。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 26] ―――――
25
B 6228-2 : 2012
8 工作精度検査
8.1 平フライス仕上げ面の平面度
単位 mm
検査事項 M1
2 000 mm以下のテーブル長に対するX軸に平行に置いた4個の工作物のフライス削り
2 000 mmを超えるテーブル長については,6個(又は8個)の工作物を,図に示すように並べて用いて
もよい。
測定方法図
記号
1 工作物 bl =hl =150
ll テーブル長 b2=h2=110
l2 複数の工作物の両端の距離 l1−l2 =600又は受渡当事者間で協定した(l1−l2 )の値
検査条件
加工は,立てフライス主軸に取り付けたインサートカッタを使って行う。
全ての他の条件(工具の品質及び寸法,切削速度,送り速度,工具の切込み深さ,並びに工作物材料)は,製造
業者が指定する。
全ての工作物は,同じ硬さとする。
許容値 測定値
a) 各工作物の面Bの平面度 0.02 a)
b)
b) 各工作物の高さhlは,一つの工作物に対して一定であるか,又は次の条件
とする。
l2≦2 000 0.03
2 0005 000 測定器
直定規及びブロックゲージ,又は変位計及び精密定盤,若しくはマイクロメータ
測定手順及びJIS B 6191の引用細分箇条番号
3.1,3.22,4.1,4.2,5.321及び5.412.2
試験を始める前に,
− 面Aが平面であることを確かめる。
− 工作物の向きがテーブルの運動(X軸)に平行である。
フライス主軸に取り付けたフライス工具を用いたとき,次の許容値を推奨する。
振れ ≦0.02
軸方向の周期的な動き ≦0.03
――――― [JIS B 6228-2 pdf 27] ―――――
26
B 6228-2 : 2012
8.2 側面フライス削り
単位 mm
検査事項 M2
2個又は3個の工作物をテーブルのX軸方向に置き,工作物の一つの側面のフライス削りを行う。
面Bに直角な一つの面は,右又は左コラム面で案内される工具(横フライスヘッド)で加工する。
この検査は,横フライスヘッドを備えている場合に行う。
この検査は,M1検査の後に続けて行う。
測定方法図
記号
ll テーブル長 l1−l2=600又は受渡当事者間で協定した(l1−l2 )の値
l2 複数の工作物の両端の距離
検査条件
全ての他の条件(工具の品質及び寸法,切削速度及び送り速度,並びに工作物の材料)は,製造業者が指定する。
工作物は,M1と同じ工作物を使用する。
許容値 測定値
側面Cと面Bとの直角度
全ての工作物の直角度の偏差 : 測定長さ300について0.02
測定器
精密水準器(平形及び角形)及び定盤
測定手順及びJIS B 6191の引用細分箇条番号
3.1,3.22,4.1,4.2,5.321及び5.412.2
工作物は,テーブルのX軸方向運動と平行にする。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 28] ―――――
27
B 6228-2 : 2012
9 数値制御による位置決め精度検査
9.1 直進軸
単位 mm
検査事項
P1
数値制御によるコラム運動(X軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 レーザヘッド 4 スケール
2 干渉計 5 スケール読取り装置
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸が2 000 mm以下の場合
軸の両方向位置決めの正確さ,A 0.020 0.025 0.032
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 0.008 0.010 0.013
軸の反転値,B 0.010 0.013 0.016
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.016 0.020 0.025
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.010 0.013 0.016
軸が2 000 mmを超える場合
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.025に1 000増すごとに0.005を加える
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
軸の反転値,B 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
測定器
リニアスケール又はレーザ測定器
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
工具位置と工作物位置との間の相対測定を行うのが望ましい。レーザ測定器を使用する場合は,反射鏡は,立て
フライスヘッド(工具位置)に取り付け,干渉計はテーブル上に定置する。
リニアスケールを使用する場合は,スケール読取り装置が工具位置にくるようにして,テーブル上にX軸と平行
に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
測定開始点は,記録する。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 29] ―――――
28
B 6228-2 : 2012
単位 mm
検査事項
P2
数値制御による立てフライスヘッドサドル運動(Y軸)の位置決め精度
測定方法図
記号
1 レーザヘッド 4 スケール
2 干渉計 5 スケール読取り装置
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸が2 000 mm以下の場合
軸の両方向位置決めの正確さ,A 0.020 0.025 0.032
軸の一方向位置決めの繰返し性,R↑又はR↓ 0.008 0.010 0.013
軸の反転値,B 0.010 0.013 0.016
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.016 0.020 0.025
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.010 0.013 0.016
軸が2 000 mmを超える場合
軸の両方向位置決めの系統偏差,E 0.025に1 000増すごとに0.005を加える
軸の平均両方向位置決め偏差の範囲,M 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
軸の反転値,B 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
測定器
リニアスケール又はレーザ測定器
測定手順及びJIS B 6190-2の引用
工具位置と工作物位置との間の相対測定を行うのが望ましい。レーザ測定器を使用する場合は,反射鏡は,立て
フライスヘッド(工具位置)に取り付け,干渉計はテーブル上又はその延長上に定置する。
リニアスケールを使用する場合は,スケール読取り装置が工具位置にくるようにして,テーブル上にY軸と平行
に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6190-2の箇条3,箇条4及び箇条7による。
測定開始点は,記録する。
――――― [JIS B 6228-2 pdf 30] ―――――
次のページ PDF 31
JIS B 6228-2:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 8636-2:2007(MOD)
JIS B 6228-2:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.080 : 工作機械 > 25.080.20 : 中ぐり盤及びフライス盤
JIS B 6228-2:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称