JIS B 7080-1:2015 光学及びフォトニクス―光学コーティング―第１部：用語

                                                                 B 7080-1 : 2015 (ISO 9211-1 : 2010)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 基本的用語の定義・・・・[1]
•  2.1 光学コーティング・・・・[1]
•  2.2 コーティング面の光学的性質・・・・[2]
•  2.3 測色パラメータ・・・・[3]
•  2.4 偏光・・・・[3]
•  2.5 位相関係・・・・[4]
•  3 機能別コーティングに関する用語の定義・・・・[4]
•  4 一般的なコーティング欠陥に関する用語の定義・・・・[5]
•  4.1 点状欠陥・・・・[5]
•  4.2 線状欠陥・・・・[6]
•  4.3 面状欠陥・・・・[6]
•  4.4 体積欠陥・・・・[6]
•  5 その他の用語・・・・[7]
•  附属書A(参考)典型的な光学コーティング欠陥の顕微鏡写真・・・・[8]

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B 7080-1 : 2015 (ISO 9211-1 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本光学硝子工業会(JOGMA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7080の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7080-1 第1部 : 用語
    JIS B 7080-2 第2部 : 分光光学特性
    JIS B 7080-3 第3部 : 環境耐久性試験方法
    JIS B 7080-4 第4部 : 特定試験方法

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7080-1 : 2015
                                                                           (ISO 9211-1 : 2010)

光学及びフォトニクス−光学コーティング−第1部 : 用語

Optics and photonics-Optical coatings-Part 1: Definitions

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたISO 9211-1を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  JIS B 7080の規格群は,光学コーティングによる光学部品及び光学基板(眼鏡レンズを除く。)(以下,
部品及び基板という。)の表面処理の性質を明らかにし,仕様書のための標準書式について規定している。
必要に応じて,一般的特性,試験方法及び測定方法を示すが,製造工程を限定するものではない。
  この規格は,光学コーティング関係の用語及び定義について規定する。用語は,基本的用語の定義(箇
条2),機能別コーティングに関する用語の定義(箇条3),一般的なコーティング欠陥に関する用語の定義
(箇条4)及びその他の用語(箇条5)に分類する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 9211-1:2010,Optics and photonics−Optical coatings−Part 1: Definitions(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 基本的用語の定義

  この規格で用いる基本的用語の定義は,次による。

2.1 光学コーティング

2.1.1
部品及び基板の表面処理(surface treatment of components and substrates)
  部品及び基板に施す表面処理。
  部品及び基板の表面が本来もっている光学的,物理的又は化学的な特性を変えるために行う。
    注記 基板は,幾何学的に完全な形状で,光学的に均質とみなす。実際には,基板とコーティングと
          を組み合わせたもの(結合部品)を一つの実体として,実験によって性質を明らかにし,測定
          を行う。
2.1.2
入射媒質(incident medium)
  電磁放射がコーティングに入ってくる側の媒質。

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2
B 7080-1 : 2015 (ISO 9211-1 : 2010)
2.1.3
出射媒質(emergent medium)
  電磁放射がコーティングから出て行く側の媒質。
    注記 機械的支持の働きをするほかに,物理的にコーティングを保持している基板は,入射媒質及び
          /又は出射媒質として扱うことができる。

2.2 コーティング面の光学的性質

2.2.1  一般
  分光測光値は,コーティング面の光学的特性を表す。これらの値は,電磁波が輸送する放射エネルギー
(放射量又は視感量)と関係があり,また波長(注記2参照),入射角,偏光状態,及び散乱のような拡
散による入射放射の空間的再配分(方向)の関数として変化する。
    注記1 機能的な波長依存性は,通常,符号の一部として括弧に波長(λ)を書くことによって示す。
    注記2 波長(λ)は,波数(σ)又は光子のエネルギー(hν)で置き換えてもよい。ここに,hはプ
            ランク定数,νは周波数である。推奨単位は,波長に対してはナノメートル(nm)又はマイ
            クロメートル(μm),波数に対してはcmの逆数(cm−1),及び光子のエネルギーに対しては
            電子ボルト(eV)である。
2.2.2
分光透過率,τ(λ)(spectral transmittance)
  透過放射束(又は光束)の分光強度と入射放射束の分光強度との比。
  JIS Z 8000-7の定義7-22.3参照。
    注記 分光透過率は,公式τ(λ)=10−D(λ)によって光学濃度D(λ)と関連付けることができる。
2.2.3
分光反射率,ρ(λ)(spectral reflectance)
  反射放射束(又は光束)の分光強度と入射放射束の分光強度との比。
  JIS Z 8000-7の定義7-22.2参照。
2.2.4
分光吸収率,α(λ)(spectral absorptance)
  吸収放射束(又は光束)の分光強度と入射放射束の分光強度との比。
  JIS Z 8000-7の定義7-22.1参照。
2.2.5
分光散乱(spectral scattering)
  放射束が表面又は媒質によって多方向に偏向又は散乱するときの放射束の空間分布変化。ただし,放射
を構成する単色光成分は周波数変化を伴わない。
    注記1 2.2.12.2.4で定義される量は,次のように表す。
                        1=τ(λ)+ρ(λ)+α(λ)
                      ここに, τ(λ)=τr(λ)+τd(λ)
                                ρ(λ)=ρr(λ)+ρd(λ)
                                 τr(λ) :  直進透過率(鏡面)
                                ρr(λ) :  正反射率(鏡面)
                                τd(λ) :  拡散透過率
                                ρd(λ) :  拡散反射率
    注記2 必要な場合,これらの値を次のように波長範囲λ1λ2の平均値として表してもよい。

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                                                                                              3
                                                                 B 7080-1 : 2015 (ISO 9211-1 : 2010)
                                               m          m
                                     λ2
                                      τ(λ)   dλ             τ(λi )
                                                 τ(λi Δ)λ
                                    λ1       i1          i1
                         τave λ1λ2
                                     λ2 λ1    λ2λ1      m
                      ここに, Δλ=(λ2−λ1)/m
                                  m :  データ数
2.2.6
屈折率,n(λ)(refractive index)
  真空中の電磁放射の伝搬速度と媒質中の電磁放射の伝搬速度との比。
2.2.7
入射角(angle of incidence)
  面法線と入射光線のなす角度。
2.2.8
入射面(plane of incidence)
  面法線と入射光線を含む平面。

2.3 測色パラメータ

  視覚応用のための表面処理の特性は,測色パラメータを用いて表すことができる。これらの値は,使用
した基準参照光源及び被処理面の光学的特性に依存する。

2.4 偏光

2.4.1  一般
  コーティングを入射角0度以外で使うとき,コーティングの特性は入射放射の偏光状態に依存し,また
出射放射の偏光状態に影響する。したがって,入射面に関する電場ベクトルの方位を指示することが必要
である。
2.4.2
直線偏光(linearly polarized radiation)
  電場ベクトルの方位が常に一定な偏光。
    注記1 電場ベクトルが入射面に垂直な直線偏光をs偏光と呼ぶ。
    注記2 電場ベクトルが入射面に平行な直線偏光をp偏光と呼ぶ。
2.4.3
だ(楕)円偏光(elliptically polarized radiation)
  伝搬方向に垂直な平面上への電場ベクトルの射影が精円を描く偏光。
2.4.4
円偏光(circularly polarized radiation)
  伝搬方向に垂直な平面上への電場ベクトルの射影が円を描く偏光。
2.4.5
ランダム偏光(randomly polarized radiation)
  直線偏光の電場ベクトルの方位が,時間とともにランダムに変化する偏光。
2.4.6
非偏光(unpolarized radiation)
  放射を,種々の位相差をもつ任意の一対の直交電場ベクトルに分解した際,二つの直交ベクトルの平均
の大きさが相等しく,その間の位相差が全くランダムに変化する放射。

――――― [JIS B 7080-1 pdf 5] ―――――

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