JIS B 7440-5:2013 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス測定 | ページ 7

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B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
GPS GPS共通規格
原理 GPS基本規格マトリックス
規格 リンク番号 1 2 3 4 5 6
サイズ ×
距離 ×
半径 ×
角度 ×
データムに無関係な線の形状 ×
データムに関係する線の形状 ×
データムに無関係な面の形状 ×
データムに関係する面の形状 ×
姿勢 ×
位置 ×
円周振れ ×
全振れ ×
データム ×
粗さ曲線
うねり曲線
断面曲線
表面欠陥
エッジ
図E.1−GPSマトリックスモデル内の位置

――――― [JIS B 7440-5 pdf 31] ―――――

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B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
参考文献
[1] ISO 10360-2:1994,Coordinate metrology−Part 2: Performance assessment of coordinate measuring machines
[2] JIS B 7440-2:2003 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
2部 : 寸法測定
注記 対応国際規格 : ISO 10360-2:2001,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 2: CMMs used for measuring
size(IDT)
[3] JIS B 7440-3:2003 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
注記 対応国際規格 : ISO 10360-3:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 3: CMMs with the axis of a
rotary table as the fourth axis(IDT)
[4] JIS B 7440-4:2003 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
4部 : スキャニング測定
注記 対応国際規格 : ISO 10360-4:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 4: CMMs used in scanning
measuring mode(IDT)
[5] TS Z 0032 国際計量計測用語−基本及び一般概念並びに関連用語(VIM)
[6] ISO 10360-7:2011,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and reverification tests for
coordinate measuring machines (CMM)−Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems
[7] ISO/TR 14638:1995,Geometrical product specification (GPS)−Masterplan
[8] ISO/TS 23165,Geometrical product specifications (GPS)−Guidelines for the evaluation of coordinate
measuring machine (CMM) est uncertainty

JIS B 7440-5:2013の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 10360-5:2010(IDT)

JIS B 7440-5:2013の国際規格 ICS 分類一覧

JIS B 7440-5:2013の関連規格と引用規格一覧