JIS B 7440-5:2022 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定
接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検 [...]
日本産業規格 線及び角度の測定を 1ページ あたりに 20規格 表示中:総数 128
接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検 [...]
例えば,マイクロメータ,ノギス,ブロックゲージ,真円度測定機などのGP [...]
指示測定器の適合性検査において,当事者によって合意された検査要領に従っ [...]
JIS B 0625:2021の規格概要 「JISB0625」は一般機 [...]
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JIS B 0601:2013の規格概要 「JISB0601」は輪郭曲 [...]
JIS B 0701:1987の規格概要 「JISB0701」は切削加 [...]
JIS B 7510:1993の規格概要 「JISB7510」は一辺の [...]
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JIS B 0681-6:2014の規格概要 「JISB0681-6」 [...]
JIS B 0024:2019の規格概要 「JISB0024」は寸法, [...]
JIS B 0610:2001の規格概要 「JISB0610」は工業製 [...]
JIS B 0703:1987の規格概要 「JISB0703」は砂型( [...]
JIS B 7512:2018の規格概要 「JISB7512」は呼び寸 [...]
JIS B 7535:1982の規格概要 「JISB7535」は流量式 [...]
JIS B 0420-1:2016の規格概要 「JISB0420-1」 [...]