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JIS B 7184:2021 規格概要
この規格 B7184は、投影レンズ,スクリーン,照明装置,精密十字動テーブル及びこれらを保持する本体からなり,被測定物の光学像を直接スクリーンに拡大投影することによって,長さ,角度及び輪郭を測定する測定投影機について規定。
JISB7184 規格全文情報
- 規格番号
- JIS B7184
- 規格名称
- 測定投影機
- 規格名称英語訳
- Profile projectors
- 制定年月日
- 1954年3月15日
- 最新改正日
- 2021年3月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- 国際規格分類
ICS
- 17.040.01
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 1954-03-15 制定日, 1957-03-15 改正日, 1959-12-01 確認日, 1962-12-01 確認日, 1965-06-01 改正日, 1968-03-01 確認日, 1971-02-01 確認日, 1972-03-01 改正日, 1975-03-01 確認日, 1978-02-01 確認日, 1983-07-01 確認日, 1988-09-01 確認日, 1994-02-01 確認日, 1999-03-20 改正日, 2005-03-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認日, 2021-03-22 改正
- ページ
- JIS B 7184:2021 PDF [15]
B 7184 : 2021
pdf 目 次
ページ
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[1]
- 3 用語及び定義・・・・[1]
- 4 仕様・・・・[2]
- 4.1 一般・・・・[2]
- 4.2 構成及び主要部名称・・・・[2]
- 4.3 投影レンズの透過照明による倍率誤差・・・・[4]
- 4.4 投影レンズの反射照明による倍率誤差・・・・[5]
- 4.5 投影レンズの透過照明による解像力・・・・[5]
- 4.6 投影レンズの反射照明による解像力・・・・[5]
- 4.7 回転スクリーン十字線の同心誤差・・・・[5]
- 4.8 回転スクリーンの角度測定誤差・・・・[5]
- 4.9 スクリーン十字線の角度誤差・・・・[6]
- 4.10 倍率変換による像移動・・・・[6]
- 4.11 精密十字動テーブルのX軸移動方向とY軸移動方向との直角度・・・・[6]
- 4.12 精密十字動テーブルの測定誤差・・・・[6]
- 4.13 性能保証する被測定物の質量・・・・[6]
- 5 各性能の測定方法・・・・[6]
- 5.1 一般・・・・[6]
- 5.2 測定温度・・・・[6]
- 5.3 投影レンズの透過照明による倍率誤差の測定方法・・・・[6]
- 5.4 投影レンズの反射照明による倍率誤差の測定方法・・・・[7]
- 5.5 投影レンズの透過照明による解像力の測定方法・・・・[8]
- 5.6 投影レンズの反射照明による解像力の測定方法・・・・[8]
- 5.7 回転スクリーン十字線の同心誤差の測定方法・・・・[9]
- 5.8 回転スクリーンの角度測定誤差の測定方法・・・・[9]
- 5.9 スクリーン十字線の角度誤差の測定方法・・・・[10]
- 5.10 倍率変換による像移動の測定方法・・・・[11]
- 5.11 精密十字動テーブルのX軸移動方向とY軸移動方向との直角度の測定方法・・・・[11]
- 5.12 精密十字動テーブルの測定誤差の測定方法・・・・[12]
- 6 情報提供・・・・[13]
- 6.1 本体及び投影レンズの表示・・・・[13]
- 6.2 使用者への情報提供・・・・[13]
- 7 仕様への適合の検証・・・・[13]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS B 7184 pdf 1] ―――――
B 7184 : 2021
まえがき
この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,日本光学測定
機工業会(JOMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を
改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本産業規格で
ある。これによって,JIS B 7184:1999は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS B 7184 pdf 2] ―――――
日本産業規格 JIS
B 7184 : 2021
測定投影機
Profile projectors
1 適用範囲
この規格は,投影レンズ,スクリーン,照明装置,精密十字動テーブル及びこれらを保持する本体から
なり,被測定物の光学像を直接スクリーンに拡大投影することによって,長さ,角度及び輪郭を測定する
測定投影機について規定する。
2 引用規格
次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
する合否判定基準
JIS B 0680 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
JIS B 7526 直角定規
JIS B 7536 電気マイクロメータ
JIS B 7541 標準尺
JIS R 6001-2 研削といし用研削材の粒度−第2部 : 微粉
JIS Z 8120 光学用語
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS Z 8120による。
3.1
スクリーン
測定対象の投影像を表示するガラス製の画面
注釈1 回転機構及び回転角度の読取機構を備えるスクリーンを回転スクリーンと称する。
3.2
投影レンズ
精密十字動テーブル上の被測定物の拡大像を,像面位置に設置したスクリーンに,指定した倍率で投影
するレンズ
――――― [JIS B 7184 pdf 3] ―――――
2
B 7184 : 2021
3.3
精密十字動テーブル
X軸方向(スクリーンの左右)及びY軸方向(スクリーンの上下)に投影像を移動し,位置決めを行
うための台
3.4
倍率誤差
投影レンズの呼び倍率に対する,標準器の長さと反射又は透過照明によるスクリーン上の投影像の長さ
とから求めた倍率の誤差(%)
3.5
解像力
投影レンズの性能を表す量で,図票の投影像のうち見分けられる黒白一対の最小幅(mm)の逆数
(LP/mm)
4 仕様
4.1 一般
測定投影機の,主な形式,構成及び主要部名称並びに性能を次に示す。
4.2 構成及び主要部名称
測定投影機の主な形式には,図1に示す縦形測定投影機光軸上向き形,図2に示す縦形測定投影機光軸
下向き形,図3に示す横形測定投影機光軸横向き形などがある。形式ごとの構成及び主要部名称は,各図
を参照する。
――――― [JIS B 7184 pdf 4] ―――――
3
B 7184 : 2021
注記 この図は説明図であり,構造又は形状を示すものではない。
図1−縦形測定投影機光軸上向き形の例
――――― [JIS B 7184 pdf 5] ―――――
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JIS B 7184:2021の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.01 : 線及び角度の測定一般
JIS B 7184:2021の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB0680:2007
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
- JISB7526:1995
- 直角定規
- JISB7536:1982
- 電気マイクロメータ
- JISB7541:2001
- 標準尺
- JISR6001-2:2017
- 研削といし用研削材の粒度―第2部:微粉
- JISZ8120:2001
- 光学用語