JIS B 7440-5:2022 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第５部：シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定

                                                                                 B 7440-5 : 2022

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 記号・・・・[9]
•  5 定格動作条件・・・・[11]
•  5.1 環境条件・・・・[11]
•  5.2 操作条件・・・・[12]
•  6 受入検査及び定期検査・・・・[12]
•  6.1 一般・・・・[12]
•  6.2 評価器具・・・・[13]
•  6.3 シングルスタイラスプロービング検査・・・・[15]
•  6.4 スキャニングモード検査・・・・[17]
•  6.5 マルチスタイラス検査 : 固定マルチプローブ及びマルチスタイラスプロービングシステム・・・・[20]
•  6.6 マルチスタイラス検査 : 回転式プロービングシステム・・・・[24]
•  6.7 マルチスタイラス検査のデータ解析・・・・[27]
•  7 仕様への適合 : 受入検査及び定期検査・・・・[28]
•  8 適用事例・・・・[29]
•  8.1 受入検査・・・・[29]
•  8.2 定期検査・・・・[29]
•  8.3 中間点検・・・・[29]
•  附属書A(参考)リングゲージ検査・・・・[31]
•  附属書B(参考)JIS B 7440-2の検査に先立つプロービングシステムの検査・・・・[35]
•  附属書C(参考)マルチスタイラス検査結果の解釈・・・・[36]
•  附属書D(規定)最大許容誤差及び最大許容限界の仕様の表現方法・・・・[38]
•  附属書E(参考)測定物の影響・・・・[40]
•  附属書F(規定)小球の検査用標準球による受入検査及び定期検査・・・・[42]
•  附属書G(参考)GPSマトリックス・・・・[43]
•  参考文献・・・・[45]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[46]

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――――― [JIS B 7440 pdf 1] ―――――

           B 7440-5 : 2022

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準
作成機関である一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を改正すべ
きとの申出があり,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。これによって,JIS B 7440-5:2013は改
正され,この規格に置き換えられ,また,JIS B 7440-4:2003は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認に
ついて,責任はもたない。
  JIS B 7440規格群[製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検
査]は,次に示す部で構成する。
    JIS B 7440-1 用語
    JIS B 7440-2 長さ測定
    JIS B 7440-3 ロータリテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-5 シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャ
        ニング測定
    JIS B 7440-6 ソフトウェア検査
    JIS B 7440-7 画像プローブシステム付き座標測定機
    JIS B 7440-8 光学式距離センサ付き座標測定機
    JIS B 7440-9 マルチセンサシステム付き座標測定機
    JIS B 7440-12 多関節アーム座標測定機(CMM)

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――――― [JIS B 7440 pdf 2] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                           B 7440-5 : 2022

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査−第5部 : シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定

Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance and reverificationtests for coordinate measuring systems (CMS)-Part 5: Coordinatemeasuring machines (CMMs) using single and multiple stylus contactingprobing systems using discrete point and/or scanning measuring mode

序文

  この規格は,2020年に第3版として発行されたISO 10360-5を基とし,技術的内容を変更して作成した
日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。技術的差
異の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。
  この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの詳細な関係は,附属書Gを参照。

1 適用範囲

  この規格は,接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査について規
定する。なお,次のものを使用したCMMにだけに適用する。
− あらゆる種類の接触プロービングシステム
− 球又は半球スタイラスチップ
  注記1 検査用標準球などの小さなアーティファクトの測定であっても,プロービングシステムの性能
          をCMMの性能から分離することが実現不可能であるため,CMMのプロービングシステムの
          性能は,最大許容誤差(MPE)によって規定される。
  この規格は,次のいずれかが附属する手動及び自動CMMに適用される。
− シングルスタイラスプロービングシステム
− 一つのプロービングシステムに取り付けた,固定したマルチスタイラスを用いたマルチスタイラスプ
    ロービングシステム(例えば,スタースタイラス)
− それぞれのプローブにスタイラスが一つ取り付けられたような,マルチプロービングシステム
− 回転式プロービングシステム

――――― [JIS B 7440 pdf 3] ―――――

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B 7440-5 : 2022
− スタイラス又はプローブ交換システム
− 手動及び自動CMM
− スキャニングプローブを含む,スキャニング測定が可能である装置
  この規格は,異なる検査手順を必要とする非接触プロービングシステムには適用しない。
  “マルチスタイラス寸法誤差”などの用語は,“CMMと組み合わせたマルチスタイラスプロービングシ
ステム寸法誤差”などと厳密に記載するのが望ましいが,簡便のため,一部省略し“マルチスタイラス寸
法誤差”などのように用いる。
  実用的な範囲で,できる限りプロービングシステムの性能を分離することによって,CMMによる影響
を低減可能である。更なる情報については,附属書Cを参照。
  注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 10360-5:2020,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and reverification tests for
              coordinate measuring systems (CMS)−Part 5: Coordinate measuring machines (CMMs) using single
              and multiple stylus contacting probing systems using discrete point and/or scanning measuring mode
              (MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格のうち,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その
後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)
を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
        する合否判定基準
      注記 対応国際規格における引用規格 : ISO 14253-1,Geometrical product specifications (GPS)−
            Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for
             verifying conformity or nonconformity with specifications
    JIS B 7440-1:2003 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
        1部 : 用語
      注記 対応国際規格における引用規格 : ISO 10360-1,Geometrical Product Specifications (GPS)−
            Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 1: Vocabulary
    JIS B 7440-2 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第2部 : 
        長さ測定
      注記 対応国際規格における引用規格 : ISO 10360-2,Geometrical product specifications (GPS)−
             Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 2: CMMs used
             for measuring linear dimensions
    JIS Z 8103:2019 計測用語
      注記1 対応国際規格における引用規格 : ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−
              Basic and general concepts and associated terms (VIM)
      注記2 対応国際規格における引用規格の引用事項に相当する内容を規定しているJISに置き換え

――――― [JIS B 7440 pdf 4] ―――――

                                                                                             3
                                                                                 B 7440-5 : 2022
              た。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS B 0641-1,JIS B 7440-1:2003及びJIS Z
8103:2019による。
  注記1 この箇条には,JIS B 7440-1:2003の9.の18個の類似定義を置き換える15の定義(3.73.9,
          3.113.15,3.193.21,3.23及び3.253.27)が含まれている。これらの改訂された定義の幾つ
          かは,曖昧さを避けるために必要とされる。他の定義は,使用された記号の明確化のために改
          訂され,拡張されているので,JIS B 7440-1:2003の9.3,9.4及び9.11から9.26は置き換えられ
          る。
  注記2 この規格で使用されている全ての記号は箇条4による。
  注記3 この箇条の定義は,用語の意味を簡潔に表すことを目的としている。数値をもつ計測特性につ
          いては,箇条6の手順の完全な記載及び検査結果の導出方法による。
  注記4 この規格の全ての定義及び評価では,形状誤差及び位置誤差がないと仮定する。つまり,検査
          用標準球は完全形状で位置誤差がないと仮定する。検査用標準球の形状の校正値の制限につい
          ては,6.2.1を参照。
3.1
定格動作条件(rated operating condition)
  測定装置又は測定システムが設計どおりに動作するために,測定中に満たさなければならない動作条件
  注釈1 一般に,定格動作条件は,測定する量及び測定に影響する量の値の範囲を規定する。
  注釈2 この規格群の中で,“設計どおりに”という用語は,MPEによって規定されていることを意味
          する。
  注釈3 あるMPE仕様を関数(異なる条件に対して異なるMPE値が与えられ得るケース)として考え
          る場合,定格動作条件は,その関数の定義域を規定する。
  (JIS Z 8103:2019の3.7の716番を変更,注釈2及び注釈3を追加。)
3.2
推定によるパラメータ設定(inferred qualification)
  実測によるパラメータ設定(3.3)によって得られるパラメータと異なり,幾つかの角度位置に対する
実測から,内挿,外挿,又は他の適切なモデルを使って,回転式システムに取り付けたそれぞれのプロー
ビングシステムのパラメータを設定する方法
3.3
実測によるパラメータ設定(empirical qualification)
  回転式システムに取り付けたそれぞれのプロービングシステムに対して,パラメータの決定のために,
使用するそれぞれの角度位置において校正球の測定を行うことによってパラメータを設定する方法
  注釈1 “校正球”は,“マスターボール”と呼ばれることがある。
3.4
実効チップ直径(effective diameter)
  補正前測定点を補正後測定点に変換するためのチップ補正ベクトルで使用される,スタイラスの直径
  注釈1 チップ補正ベクトルの位置については,JIS B 7440-1:2003の図4を参照。

――――― [JIS B 7440 pdf 5] ―――――

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