JIS B 7440-5:2022 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第５部：シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定

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JIS B 7440-5:2022の関連規格と引用規格一覧

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B 7440-5 : 2022
  注釈2 実効チップ直径は,プロービングシステムのパラメータ設定によって決定されるパラメータで
          あることもある。
3.5
マルチスタイラスプロービングシステム(multi-stylus probing system)
  スタースタイラスを搭載する方向固定のシングルプローブ,又はスタイラスの交換によってスタースタ
イラスと同等にスタイラスの向きを変更することが可能である方向固定のシングルプローブ
  注釈1 図6を参照。
3.6
マルチプローブシステム(multi-probe system)
  異なった方向に固定された複数のプローブをもつシステム
  注釈1 図7を参照。
3.7
マルチスタイラス形状誤差(multi-stylus form error)
PForm.Sph.5×25:j:Tact
  一つの検査用標準球を五つの異なるスタイラスで,それぞれ25点を離散点プロービング測定すること
で得られる検査用標準球の形状誤差
  注釈1 JIS B 7440-1:2003の図15を参照。
  注釈2 PForm.Sph.5×25:j:Tactの記号Pはプロービングシステムの性能に関連する誤差であることを示す。添
          字Formは形状誤差を意味し,添字Sphは,球をアーティファクトとして使用して実行される
          ことを示す。添字Tactは,プロービングシステムが接触式であることを意味している。したが
          って,PForm.Sph.5×25:j:*のアスタリスク(*)に異なる文字を使用することによって明確に識別され
          たあらゆる種類のプロービングシステムでも使用可能である。
  注釈3 プロービングシステム及び動作方法によって,四つのマルチスタイラス形状誤差がある。それ
          らは,次のとおりである。
          − j = MS,固定マルチスタイラスプロービングシステム(3.5)
          − j = MP,固定マルチプローブシステム(3.6)
          − j = Emp,実測によるパラメータ設定(3.3)を用いた回転式プロービングシステム
          − j = Inf,推定によるパラメータ設定(3.2)を用いた回転式プロービングシステム
3.8
マルチスタイラス寸法誤差(multi-stylus size error)
PSize.Sph.5×25:j:Tact
  一つの検査用標準球を五つの異なるスタイラスで,それぞれ25点を離散点プロービング測定すること
で得られる検査用標準球の直径の指示誤差
  注釈1 PSize.Sph.5×25:j:Tactの添字Sizeは,寸法誤差であることを示す。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.9
マルチスタイラス位置誤差(multi-stylus location error)
LDia.5×25:j:Tact

――――― [JIS B 7440 pdf 6] ―――――

                                                                                             5
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  一つの検査用標準球を五つの異なる方向から離散点プロービング測定することで得られる検査用標準球
の位置の指示誤差
  注釈1 LDia.5×25:j:Tactの記号Lは位置誤差であることを示す。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.10
球面対向スタイラス投影位置誤差(opposing-styli projected location error on a sphere)
LDia.Proj.Sph.2×25:j:Tact
  向き合った方向から離散点プロービング測定によって得られる検査用標準球の位置の指示誤差
  注釈1 例えば,向き合った方向からスタイラスを使用して,クランクシャフトジャーナルの同軸度を
          測定するときの,性能に関する指標を与える。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.11
シングルスタイラス形状誤差(single-stylus form error)
PForm.Sph.1×25:SS:Tact
  一つの検査用標準球を一つのスタイラスで,25点を離散点プロービング測定することで得られる検査
用標準球の形状誤差
  注釈1 JIS B 7440-1:2003の図15を参照。
  注釈2 PForm.Sph.1×25:SS:Tactの添字SSはシングルスタイラスの使用を示す。
3.12
シングルスタイラス寸法誤差(single-stylus size error)
PSize.Sph.1×25:SS:Tact
  一つの検査用標準球を一つのスタイラスで,25点を離散点プロービング測定することで得られる検査
用標準球の直径の指示誤差
3.13
球面スキャニング形状誤差(scanning mode form error on a sphere)
PForm.Sph.Scan:k:Tact
  一つの検査用標準球を一つのスタイラスで,スキャニング測定することで得られる検査用標準球の形状
誤差
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
3.14
球面スキャニング寸法誤差(scanning mode size error on a sphere)
PSize.Sph.Scan:k:Tact
  一つの検査用標準球を一つのスタイラスで,スキャニング測定することで得られる検査用標準球の直径
の指示誤差
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。

――――― [JIS B 7440 pdf 7] ―――――

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B 7440-5 : 2022
3.15
スキャニング検査時間(scanning mode time)
τSph.Scan:k:Tact
  スキャニング検査の実行にかかる時間
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
  注釈2 時間の単位は秒で表記する。
3.16
リングゲージスキャニング形状誤差(scanning mode form error on a ring gauge)
PForm.Cir.Scan:k.lo:Tact
  lo=0 mmの場合はラム軸に位置合わせされた一つのスタイラス,又は既定としてlo=150 mmの場合
は,ラム軸に直交する一つのスタイラスでスキャニング測定することで得られるリングゲージの形状誤差
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
  注釈2 loは,製造業者の仕様において,関連するラム軸スタイラスオフセットの長さで置き換えられ
          る。
  注釈3 このオプション検査の定義については,附属書Aを参照。
  注釈4 この規格におけるラム軸スタイラスオフセットloは,通常,JIS B 7440-2で使用されるラム軸
          スタイラスオフセットLと同等である。異なる例として,回転式ヘッドを垂直に取り付けたホ
          リゾンタルアーム形CMMがある。
3.17
リングゲージスキャニング寸法誤差(scanning mode size error on a ring gauge)
PSize.Cir.Scan:k.lo:Tact
  lo=0 mmの場合はラム軸に位置合わせされた一つのスタイラス,又は既定としてlo=150 mmの場合
は,ラム軸に直交する一つのスタイラスでスキャニング測定することで得られるリングゲージの直径の指
示誤差
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
  注釈2 loは,製造業者の規定において,関連するラム軸スタイラスオフセットの長さで置き換えられ
          る。
  注釈3 このオプション検査の定義については,附属書Aを参照。
3.18
リングゲージ対向スタイラス投影位置誤差(opposing-styli projected location error on a ring gauge)
LDia.Proj.Cir.Scan:j:Tact
  向き合った方向からスキャニング測定することで得られるリングゲージの位置の指示誤差
  注釈1 例えば,対向方向からスタイラスを使用してクランクシャフトジャーナルの同軸度を測定する
          ときの,性能に関する指標を与える。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
  注釈3 リングゲージの中心位置をスキャニング測定する場合,スキャニングのパスは,重要ではない。
          一方,プロービングシステム及び動作方法の影響は受ける。そのため,スキャニングパスを示

――――― [JIS B 7440 pdf 8] ―――――

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          す記号kを使用せず,プロービングシステム及び動作方法を示す記号jを使用している。
3.19
最大許容マルチスタイラス形状誤差(maximum permissible multi-stylus form error)
PForm.Sph.5×25:j:Tact,MPE
  仕様で許容するマルチスタイラス形状誤差(3.7)の限界値
  注釈1 このMPEをどのように表現するかは,附属書Dを参照。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.20
最大許容マルチスタイラス寸法誤差(maximum permissible multi-stylus size error)
PSize.Sph.5×25:j:Tact,MPE
  仕様で許容するマルチスタイラス寸法誤差(3.8)の限界値
  注釈1 このMPEをどのように表現するかは,附属書Dを参照。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.21
最大許容マルチスタイラス位置誤差(maximum permissible multi-stylus location error)
LDia.5×25:j:Tact,MPE
  仕様で許容するマルチスタイラス位置誤差(3.9)の限界値
  注釈1 このMPEをどのように表現するかは,附属書Dを参照。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.22
最大許容球面対向スタイラス投影位置誤差(maximum permissible opposing-styli projected location error on a
sphere)
LDia.Proj.Sph.2×25:j:Tact,MPE
  仕様で許容する球面対向スタイラス投影位置誤差(3.10)の限界値
  注釈1 このMPEをどのように表現するかは,附属書Dを参照。
  注釈2 jは,MS,MP,Emp又はInfのいずれかの該当するものに置き換えられる。
3.23
最大許容シングルスタイラス形状誤差(maximum permissible single-stylus form error)
PForm.Sph.1×25:SS:Tact,MPE
  仕様で許容するシングルスタイラス形状誤差(3.11)の限界値
  注釈1 JIS B 7440-1:2003の図15を参照。
  注釈2 PForm.sph.1×25:SS:Tact,MPEはプローブ及びスタイラスの構成が明確に記載されるように規定されてい
          る。
3.24
最大許容シングルスタイラス寸法誤差(maximum permissible single-stylus size error)
PSize.Sph.1×25:SS:Tact,MPE
  仕様で許容するシングルスタイラス寸法誤差(3.12)の限界値
  注釈1 PSize.sph.1×25:SS:Tact,MPEはプローブ及びスタイラスの構成が明確に記載されるように規定されてい

――――― [JIS B 7440 pdf 9] ―――――

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B 7440-5 : 2022
          る。
3.25
最大許容球面スキャニング形状誤差(maximum permissible scanning mode form error on a sphere)
PForm.Sph.Scan:k:Tact,MPE
  仕様で許容する球面スキャニング形状誤差(3.13)の限界値
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
3.26
最大許容球面スキャニング寸法誤差(maximum permissible scanning mode size error on a sphere)
PSize.Sph.Scan:k:Tact,MPE
  仕様で許容する球面スキャニング寸法誤差(3.14)の限界値
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
3.27
最大許容スキャニング検査時間(maximum permissible scanning mode time)
τSph.Scan:k:Tact,MPL
  仕様で許容するスキャニング検査時間(3.15)の限界値
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
  注釈2 最大許容スキャニング検査時間は秒で表記する。
3.28
最大許容リングゲージスキャニング形状誤差(maximum permissible scanning mode form error on a ring
gauge)
PForm.Cir.Scan:k.lo:Tact,MPE
  仕様で許容するリングゲージスキャニング形状誤差(3.16)の限界値
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
  注釈2 loは,製造業者の仕様において,関連するラム軸スタイラスオフセットの長さで置き換えられ
          る。
  注釈3 このオプション検査の定義については,附属書Aを参照。
3.29
最大許容リングゲージスキャニング寸法誤差(maximum permissible scanning mode size error on a ring
gauge)
PSize.Cir.Scan:k.lo:Tact,MPE
  仕様で許容するリングゲージスキャニング寸法誤差(3.17)の限界値
  注釈1 kは既定経路スキャニングの場合はPP,未定経路スキャニングの場合はNPPで置き換えられ
          る。
  注釈2 loは,製造業者の仕様において,関連するラム軸スタイラスオフセットの長さで置き換えられ
          る。

――――― [JIS B 7440 pdf 10] ―――――

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ISO 10360-5:2020(MOD)

JIS B 7440-5:2022の国際規格 ICS 分類一覧

17 : 度量衡及び測定.物理的現象　>　17.040 : 線及び角度の測定　>　17.040.30 : 測定機器

JIS B 7440-5:2022の関連規格と引用規格一覧

規格番号: 規格名称
JISB0641-1:2020: 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準