JIS B 7440-5:2022 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定
接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検 [...]
日本産業規格 測定機器を 1ページ あたりに 20規格 表示中:総数 64
接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検 [...]
例えば,マイクロメータ,ノギス,ブロックゲージ,真円度測定機などのGP [...]
JIS B 7563:2021の規格概要 「JISB7563」は最小表 [...]
JIS B 7506:2004の規格概要 「JISB7506」は呼び寸 [...]
JIS B 7544:1994の規格概要 「JISB7544」は目量0 [...]
JIS B 7440-1:2003の規格概要 「JISB7440-1」 [...]
JIS B 8577-2:2019の規格概要 「JISB8577-2」 [...]
JIS B 7507:2016の規格概要 「JISB7507」はバーニ [...]
JIS B 7545:2015の規格概要 「JISB7545」は主とし [...]
JIS B 7440-2:2013の規格概要 「JISB7440-2」 [...]
JIS B 7440-12:2019の規格概要 「JISB7440-1 [...]
JIS B 0251:2008の規格概要 「JISB0251」はJIS [...]
JIS B 7510:1993の規格概要 「JISB7510」は一辺の [...]
JIS B 7440-3:2003の規格概要 「JISB7440-3」 [...]
JIS B 0254:2011の規格概要 「JISB0254」はJIS [...]
JIS B 7513:1992の規格概要 「JISB7513」は使用面 [...]
JIS B 8571:2015の規格概要 「JISB8571」はエネル [...]
JIS B 7440-4:2003の規格概要 「JISB7440-4」 [...]
JIS B 0271:2018の規格概要 「JISB0271」はねじ測 [...]
JIS B 7515:1982の規格概要 「JISB7515」は測定範 [...]