JIS B 7440-3:2003 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第３部：ロータリテーブル付き座標測定機

                                                                      B 7440-3 (ISO 10360-3 : 2000)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準
原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大
臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 10360-3:2000,Geometrical Product
Specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines(CMM)-Part 3: CMMs
with the axis of a rotary table as the fourth axisを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7440-3には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考)中間点検
    附属書B(参考)GPS マトリックス
  JIS B 7440の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7440-1 第1部 : 用語
    JIS B 7440-2 第2部 : 寸法測定
    JIS B 7440-3 第3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-4 第4部 : スキャン測定
    JIS B 7440-5 第5部 : マルチスタイラス測定(予定)
    JIS B 7440-6 第6部 : ソフトウェア検査(予定)

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS B 7440-3 pdf 1] ―――――

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B7740-3:2003(ISO 10360-3 : 2000)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 測定特性に対する要求・・・・[2]
•  4.1 指示誤差・・・・[2]
•  4.2 環境条件・・・・[2]
•  4.3 ロータリテーブル・・・・[2]
•  4.4 スタイラスシステム・・・・[2]
•  4.5 操作条件・・・・[2]
•  5. 受入検査及び定期検査・・・・[3]
•  5.1 評価原理・・・・[3]
•  5.2 評価器具・・・・[3]
•  5.2.1 検査用標準球・・・・[3]
•  5.3 評価方法・・・・[3]
•  5.4 回転軸誤差の求め方・・・・[5]
•  6. 仕様との適合・・・・[7]
•  6.1 受入検査・・・・[7]
•  6.2 定期検査・・・・[8]
•  7. 適用事例・・・・[8]
•  7.1 受入検査・・・・[8]
•  7.2 定期検査・・・・[8]
•  7.3 中間点検・・・・[8]
•  附属書A(参考)中間点検・・・・[9]
•  附属書B(参考)GPS マトリックス・・・・[10]
•  参考文献・・・・[11]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7440-3 : 2003
                                                                         (ISO 10360-3 : 2000)

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第3部 : ロータリテーブル付き座標測定機

Geometrical Product Specifications(GPS)-Acceptance and reverificationtests for coordinate measuring machines(CMM)-Part 3: CMM's with the axisof a rotary table as the fourth axis

序文

 この規格は,2000年に第1版として発行されたISO 10360-3,Geometrical Product
Specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines(CMM)-Part 3: CMMs
with the axis of a rotary table as the fourth axisを翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作
成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
  この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)規格の一つであり,GPS基本規格(TR B 0007参照)として取り扱
う。この規格は,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムに関する規格チェー
ンのリンク番号5に関係する。
  この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの間の詳細な関係は,附属書Bを参照。
  この規格で指定する検査は,ロータリテーブルを固定して実施するJIS B 7440-2の検査に加えて実施す
る。この規格の検査は,ロータリテーブルに固定された座標系における測定誤差を検出する。ロータリテ
ーブル単体の誤差を他の座標測定機の機械的な誤差から分離しても意味がない。

1. 適用範囲

 この規格は,ロータリテーブル付き座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合している
かどうかを検証するための受入検査及び使用者がロータリテーブル付き座標測定機の性能を定期的に検証
するための定期検査について規定する。
  この規格で規定する受入検査及び定期検査は,ロータリテーブル付き座標測定機にだけ適用する。
  この規格は,次の事項を規定する。
− 測定特性に対する要求
− 受入検査及び定期検査
− 仕様との適合
− 適用事例
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21に基づき,IDT(一致している),MOD(修
          正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO 10360-3:2000,Geometrical Product Specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests for

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B7740-3:2003(ISO 10360-3 : 2000)
              coordinate measuring machines(CMM)-Part 3: CMMs with the axis of a rotary table as the fourth
              axis (IDT)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載年の版だけがこの規格の規定を構成
するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その最
新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対す
        る合否判定基準
      備考 ISO 14253-1:1998 Geometrical Product Specifications(GPS)-Inspection by measurement of
             workpiece and measuring equipment-Part1: Decision rules for proving conformance or
             nonconformance with specifications が,この規格と一致している。
    JIS B 7440-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第1部 : 用語
      備考 ISO 10360-1:2000 Geometrical Product Specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests
             for coordinate measuring machines(CMM)-Part 1: Vocabularyが,この規格と一致している。
    (VIM)   International Vocabulary of Basic and General Terms in Metrology, BIPM,IEC, IFCC,ISO,IUPAC,
        IUPAP,OIML,2nd edition,1993

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS B 7440-1,JIS B 0641-1及びVIMによる。

4. 測定特性に対する要求

4.1 指示誤差

 JIS B 7440-1に定義されているように,回転軸の3種類の指示誤差FR,FT,FAは,最大
許容誤差MPEFR,MPEFT,MPEFAを超えてはならない。最大許容誤差は,受入検査の場合には製造業者が
指定し,定期検査の場合には使用者が指定する。
  指示誤差FR,FT,FA及び最大許容誤差MPEFR,MPEFT,MPEFAは, マイクロメートル単位で表示する。

4.2 環境条件

 測定に影響を与える設置場所の温度条件,空気の湿度,振動などの環境条件の許容限界
は,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の場合には使用者が指定する。
  いずれの場合にも,使用者は,許容限界内において自由に環境条件を選ぶことができる。

4.3 ロータリテーブル

 最大許容誤差MPEFR,MPEFT,MPEFAは,指定された範囲内で,座標測定機上
に置かれた許容される任意の荷重,位置及び姿勢のロータリテーブル並びにロータリテーブル上の任意の
位置の検査用標準球に適用する。

4.4 スタイラスシステム

 最大許容誤差MPEFR,MPEFT,MPEFAの指定された値が適用されるスタイラ
スシステム構成に関する限界値は,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の場合には使用者が
指定する。
  いずれの場合にも,使用者は,指定された範囲内において自由にスタイラスシステム構成を選ぶことが
できる。
  スタイラスチップの形状偏差は測定結果に影響するので,仕様との適合を判定するときには十分に考慮
しなければならない。

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                                                                                              3
                                                                B 7440-3 : 2003 (ISO 10360-3 : 2000)

4.5 操作条件

 5.の検査を実施する場合には,製造業者の操作手順書の手順で座標測定機を操作しなけれ
ばならない。通常,このような手順書は,例えば,
a) 機械の起動/暖機サイクル
b) スタイラスシステム構成
c) スタイラスチップ及び校正球の清掃手順
d) プロービングシステムのパラメータ設定
e) ロータリテーブルのセットアップ及びパラメータ設定
などを記述している。
    備考 スタイラスチップ及び校正球は,プロ−ビングシステムのパラメータ設定の前に,測定又は検
          査結果に影響を与え得る油膜を残さないように,清浄しなければならない。

5. 受入検査及び定期検査

5.1 評価原理

 評価の原理は,ロータリテーブルに設置された2個の検査用標準球の測定された中心座
標の変動を求め,座標測定機が指定された最大許容誤差MPEFR,MPEFT,MPEFAの範囲内で測定できるか
どうかを決定することである。
  誤差のない完全な4軸の座標測定機では,ロータリテーブルが回転しても,検査用標準球の測定中心位
置は,測定物座標系において変動しない。
  それぞれの検査用標準球の中心は,3方向(半径方向,接線方向及び軸方向)の座標で表す。それぞれ
の検査用標準球の中心位置は,ロータリテーブルに固定の測定物座標系で表す。
  ロータリテーブルに設置されたそれぞれの検査用標準球の中心を,ロータリテーブルの異なる角度位置
で連続的に測定する。
  3種類の回転軸誤差FR,FT,FAは,3方向のそれぞれに関して測定結果の最大値と最小値との幅として,
それぞれの検査用標準球に関して別々に計算する。
  受入検査では製造業者の仕様及び手順に従って実施し,定期検査では使用者の仕様及び製造業者の手順
に従って実施する。

5.2 評価器具

5.2.1 検査用標準球

 呼び直径10mm以上で30mm以下の2個の球(A及びB)。
  検査用標準球の中心は,3種類の回転軸誤差を決定するために使われるだけなので,2個の検査用標準球
の直径を校正する必要はない。検査用標準球の形状偏差は検査結果に影響を与え,仕様との適合を判定す
る時には十分考慮しなければならないので,検査用標準球の形状は,校正しなければならない。
  検査用標準球は,特にロータリテーブルの回転軸が水平である場合には,変形による影響を避けられる
ように,保持・固定することを推奨する。

5.3 評価方法

 検査用標準球Aを表1に従って,半径rの位置で,できるだけロータリテーブル表面に
近くなるように,ロータリテーブル上に設置する。検査用標準球Bをほぼ同じ半径rで検査用標準球Aの
ほぼ反対の位置に,Aに対してΔhの高さの差をもって設置する(表1及び図1参照)。
  次の条件に従って,ロータリテーブル(図1参照)に(直交)測定物座標系を定義する。
a) 検査用標準球Bの中心(テーブル表面から最も遠い)を原点とする。
b) 軸方向を定義する第1軸(Z軸)は,ロータリテーブルの回転軸に平行とする。
c) 半径方向を定義する第2軸(X軸)は,第1軸と検査用標準球Aの中心とを含む平面内とする。
    備考 第3軸(Y軸)は,接線方向を定義する。

――――― [JIS B 7440-3 pdf 5] ―――――

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