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B 7440-3 : 2003 (ISO 10360-3 : 2000)
附属書A(参考)中間点検
この附属書Aは、参考として示すもので、規定の一部ではない。
ロータリテーブルが座標測定機に固定されている場合は,規格本体5.で記述した検査は座標測定機のす
べての軸の誤差を定量化するのに十分である。FR,FT,FAの結果が仕様と適合する場合,すべての軸が
良好な動作状態にあると考えられ,寸法測定における指示誤差の中間点検は省略できる。
――――― [JIS B 7440-3 pdf 11] ―――――
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B 7440-3 : 2003 (ISO 10360-3 : 2000)
附属書B(参考)GPS マトリックス
この附属書Bは、参考として示すもので、規定の一部ではない。
GPSマトリックスモデル詳細は,TR B 0007を参照。
B.1 規格及びその利用についての情報 この規格は,座標測定機が指定されたMPEと適合することを示
すための検証方法を規定している。この規格の検査は,
− ロータリテーブル付き座標測定機に適用する。
− ロータリテーブルに固定された座標系における測定誤差を検出する。
− ロータリテーブルを固定して実施するJIS B 7440-2の検査に加えて実施する。
B.2 GPSマトリックスにおける位置付け この規格は,附属書B図1に示すGP基本規格マトリックス
におけるサイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムの規格チェーンのリンク番号
5に関係する。
B.3 関連規格 関連規格は,附属書B図1に示す規格チェーンに含まれる規格である。
GPS共通規格
GPS基本規格
リンク番号 1 2 3 4 5 6
サイズ
距離
半径
GPS 角度
原理 データムに無関係な線の形状
規格 データムに関係する線の形状
データムに無関係な面の形状
データムに関係する面の形状
姿勢
位置
円周振れ
全振れ
データム
粗さ曲線
うねり曲線
断面曲線
表面欠陥
くさび
附属書B図1
――――― [JIS B 7440-3 pdf 12] ―――――
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B 7440-3 : 2003 (ISO 10360-3 : 2000)
参考文献
[1] JIS B 7440-2 : 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部 :
寸法測定
備考 ISO 10360-2:2001, Geometrical Product Specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests for
coordinate measuring machines(CMM)-Part 2: CMMs used for measuring sizeが,この規格と一致し
ている。
[2] TR B 0007 : 製品の幾何特性仕様(GPS)−マスタープラン
備考 ISO/TR 14638:1995, Geometrical Product Specifications(GPS)-Masterplanが,この技術情報と一
致している。
JIS B 7440-3:2003の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-3:2000(IDT)
JIS B 7440-3:2003の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-3:2003の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第1部:用語