JIS B 7440-4:2003 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第４部：スキャニング測定

                                                                  B7440-4:2003(ISO 10360-4 : 2000)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準
原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大
臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 10360-4:2000,Geometrical Product
Specifications (GPS) - Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) - Part 4 :
CMMs used in scanning measuring modeを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7440-4には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考)中間点検
    附属書B(参考)測定物の影響
    附属書C(参考)GPSマトリックス
  JIS B 7440の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7440-1 第1部 : 用語
    JIS B 7440-2 第2部 : 寸法測定
    JIS B 7440-3 第3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-4 第4部 : スキャニング測定
    JIS B 7440-5 第5部 : マルチスタイラス測定(予定)
    JIS B 7440-6 第6部 : ソフトウェア検査(予定)

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B7440-4:2003 (ISO 10360-4 : 2000)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 測定特性に対する要求・・・・[2]
•  4.1 指示誤差・・・・[2]
•  4.2 スキャニング検査時間・・・・[2]
•  4.3 環境条件・・・・[2]
•  4.4 スタイラスシステム・・・・[2]
•  4.5 操作条件・・・・[3]
•  5. 受入検査及び定期検査・・・・[3]
•  5.1 スキャニング測定の種類・・・・[3]
•  5.2 評価原理・・・・[3]
•  5.3 評価器具・・・・[3]
•  5.4 評価方法・・・・[4]
•  5.5 スキャニングプロービング誤差の求め方・・・・[5]
•  6. 仕様との適合・・・・[5]
•  6.1 受入検査・・・・[5]
•  6.2 定期検査・・・・[6]
•  7. 適用事例・・・・[6]
•  7.1 受入検査・・・・[6]
•  7.2 定期検査・・・・[6]
•  7.3 中間点検・・・・[6]
•  附属書A(参考)中間点検・・・・[8]
•  附属書B(参考)測定物の影響・・・・[9]
•  附属書C(参考)GPSマトリックス・・・・[10]
•  参考文献・・・・[11]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7440-4 : 2003
                                                                         (ISO 10360-4 : 2000)

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第4部 : スキャニング測定

Geometrical Product Specifications (GPS) - Acceptance and reverificationtests for coordinate measuring machines (CMM) - Part 4 : CMMs used inscanning measuring mode

序文

 この規格は,2000年に第1版として発行されたISO 10360-4:2000,Geometrical Product Specifications
(GPS) - Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) - Part 4 : CMMs used in
scanning measuring modeを翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規
格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
  この規格は製品の幾何特性仕様(GPS)規格の一つであり,GPS基本規格(TR B 0007参照)として取り扱う。
この規格は,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムに関する規格チェーンの
リンク番号5に関係する。
 この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの詳細な関係は、附属書Cを参照。
  この規格の受入検査及び定期検査は,スキャニング測定機能をもつ座標測定機にだけ適用される。
  この規格の検査は,スキャニング測定なしで実施されるJIS B 7440-2の検査に加えて実施する。この規
格は,スキャニング測定機能をもつ座標測定機の測定誤差を検出する。スキャニングプローブの誤差を他
の座標測定機の誤差から分離しても意味がない。

1. 適用範囲

 この規格は,スキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合し
ているかどうかを検証する受入検査及び使用者がスキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能を定期的
に検証するための定期検査について規定する。
  この規格に規定する受入検査及び定期検査は,接触プロービングシステムでスキャニング測定が可能な
座標測定機にだけ適用できる。
  この規格は,次の事項を規定する。
− 測定特性に対する要求
− 受入検査及び定期検査
− 仕様との適合
− 適用事例
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21に基づき,IDT(一致している),MOD(修

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2
B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)
          正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO 10360-4:2000,Geometrical Product Specifications (GPS) - Acceptance and reverification tests for
              coordinate measuring machines (CMM) - Part 4 : CMMs used in scanning measuring mode (IDT)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載年の版だけがこの規格の規定を構成
するものであって,その後の改正版・追補は適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その最新
版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置による検査−第1部 : 仕様に対する合
        否判定基準
      備考 ISO 14253-1:1998 Geometrical Product Specifications (GPS) - Inspection by measurement of
             workpiece and measuring equipment Part 1 : Decision rules for proving conformance or
             nonconformance with specificationsが,この規格と一致している。
    JIS B 7440-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機の受入検査及び定期検査−第1部 : 用語
      備考 ISO 10360-1:2000 Geometrical Product Specifications (GPS) - Acceptance and reverification tests
             for coordinate measuring machines (CMM) - Part 1 : Vocabularyが,この規格と一致している。
    (VIM)   International Vocabulary of Basic and General Terms in Metrology, BIPM,IEC, IFCC,ISO,IUPAC,
        IUPAP,OIML,2nd edition,1993

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS B 7440-1,JIS B 0641-1及びVIMによる。

4. 測定特性に対する要求

4.1 指示誤差

 スキャニングプロービング誤差Tijは,最大許容スキャニングプロービング誤差MPETij
を超えてはならない。最大許容スキャニングプロービング誤差は,受入検査の場合には製造業者が指定し,
定期検査の場合には使用者が指定する。
 スキャニングプロービング誤差Tij及び最大許容スキャニングプロービング誤差MPETijは,マイクロメ
ートル単位で表示する。

4.2 スキャニング検査時間

 スキャニング検査時間τijは,最大許容スキャニング検査時間 MPTτijを超
えてはならない。最大許容スキャニング検査時間は,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の
場合には使用者が指定する。スキャニング検査時間τij及び最大許容スキャニング検査時間MPTτijは,秒
単位で表示する。

4.3 環境条件

 測定に影響を与える設置場所の温度条件,空気の湿度,振動などの環境条件の許容限界
は,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の場合には使用者が指定する。
  いずれの場合にも,使用者は許容限界内において自由に環境条件を選ぶことができる。

4.4 スタイラスシステム

 スキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能検査に使用されるスタイラス
チップの直径は,標準で3mmとする。MPETijの指定された値が適用されるスタイラスシステム構成に関す
る限界値は, 受入検査の場合には製造業者が指定し, 定期検査の場合には使用者が指定する。
  いずれの場合にも,使用者は,指定された範囲内において自由にスタイラスシステム構成を選ぶことが
できる。
  スタイラスチップの形状偏差は,測定結果に影響するので,仕様との適合を判定するときには十分に考

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                                                                B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)
慮しなければならない。
    備考 スキャニング測定を実行する場合,プローブ及び座標測定機のすべての軸が確実に動作するよ
          うなスタイラスの姿勢を選定する。

4.5 操作条件

 5.の検査を実施する場合には,製造業者の操作手順書の手順で座標測定機を操作しなけれ
ばならない。通常,このような手順書は,例えば
a) 機械の起動/暖機サイクル
b) スタイラスシステム構成
c) スタイラスチップ及び校正球の清浄手順
d) プロ−ビングシステムのパラメータ設定
などを記述している。
    備考 スタイラスチップ及び校正球は,プロ−ビングシステムのパラメータ設定の前に,測定又は検
          査結果に影響を与え得る油膜を残さないように,清浄しなければならない。

5. 受入検査及び定期検査

5.1 スキャニング測定の種類

 検査は,次のスキャニング測定について行われる。
a) 既定経路による高密度スキャニング測定(HP)
b) 既定経路による低密度スキャニング測定(LP)
c) 未定経路による高密度スキャニング測定(HN)
d) 未定経路による低密度スキャニング測定(LN)
    備考1. 高密度スキャニング測定は,主に形状測定に適している。低密度スキャニング測定は,適正
            速度で当てはめ形体をスキャニング測定する場合に適している。いずれの場合においても,
            この検査は,座標測定機の性能を完全に決定することはできない。
         2. 座標測定機が特別な形状測定(例えば,真円度測定)で使用する場合,その測定項目に対す
            る標準化された検査を行うことが推奨される。
         3. スタイラス及び測定物の表面の欠損,滑らかさ並びに表面粗さは倣い精度に影響を与える。
            この検査においては,これらのパラメータが,影響しないように考慮してある(附属書Bを
            参照)。

5.2 評価原理

 評価の原理は,検査用標準球の半径Rの値の範囲及びスキャニング検査時間τijを求め,
座標測定機が指定された最大許容スキャニングプロービング誤差MPETij及び最大許容スキャニング検査時
間MPTτijの範囲内で測定できるかどうかを確定することである。
  検査用標準球の半径及び中心位置は,4種類の断面で検査用標準球をスキャニング測定することによっ
て求める。
  スキャニングプロービング誤差Tijは,最小二乗法で求めた球中心とすべてのスキャン点との距離の範
囲,つまり最大距離と最小距離との差の絶対値として計算される。
  受入検査は,製造業者の仕様及び手順に従って実施し,定期検査は,使用者の仕様及び製造業者の手順
に従って実施する。

5.3 評価器具

5.3.1  検査用標準球(鋼製)
− 呼び直径は,25mm

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