JIS B 7440-4:2003 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第４部：スキャニング測定 | ページ 2

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B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)
− 表面粗さは,Raで0.05          下
− 硬さは,HV800以上
  検査用標準球の形状偏差は検査結果に影響を与え,仕様との適合を判定するときには十分に考慮しなけ
ればならないので,検査用標準球の形状及び直径は校正しなければならない。
  検査用標準球は,プロービングシステムのパラメータ設定に使用する校正球と異なるべきであり,そし
て使用者が校正球をセットする位置以外の任意な位置にセットしなければならない。
  検査用標準球は,測定又は検査結果に影響を与え得る油膜を残さないように清浄しなければならない。
  検査用標準球は,たわみによる影響を最小限に抑えるためしっかりと固定しなければならない。

5.4 評価方法

 図1に示すように4種類の目標スキャン面でスキャニング測定を実施し,補正後スキャ
ン線上の点を記録する。
                                                        α
                   A 目標スキャン面1
                   B 目標スキャン面2
                   C 目標スキャン面3
                   D 目標スキャン面4
                   E ラムの軸
                 備考1. 目標スキャン面1は,赤道面に設定する。
                     2. 目標スキャン面1と目標スキャン面2とは平行に8mm間隔で設定す
                        る。
                     3. 目標スキャン面2,3及び4は,お互いに直角に設定する。
                     4. 目標スキャン面3は,赤道に対する極を通るように設定する。
                     5. 目標スキャン面4は,極から8mm離れた面で設定する。
                     6. スタイラスシャフトの傾き角度α,スタイラスシャフトとラムの傾
                        き角度である。
                     7. 標準球の頂点と赤道面は,スタイラスシャフトの軸の角度によって
                        定義される。角度αの値は,約45度が望ましい。
                           図 1 検査用標準球の四つの目標スキャン面

――――― [JIS B 7440-4 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)
   スキャン点間の距離は,表1による。
            表 1 スキャン点間の推奨距離及び 目標スキャン面からの最大ずれ量の推奨値
                                                                             単位 mm
                                  スキャン点間の距離
                                                          目標スキャン面からの最大ずれ量
                                  (スキャンピッチ)
          HP及びHNの場合                 0.1                           0.2
           LP及びLNの場合                 1                            0.2
  4種類のスキャンシーケンスは,各々検査用標準球から最小10mm離れた中間点から始めなければなら
ない。開始位置から,スタイラスは指定された移動速度で検査用標準球の面法線方向に向かってアプロー
チすることが望ましい。そして,4種類のスキャンシーケンスは,各々検査用標準球から最小10mm離れ
た中間点で終了しなければならない。
  最初のスキャンシーケンスでの開始中間点から4番目のスキャンシーケンスでの終わりの中間点までの
スキャニング検査時間τijを記録する。
    備考 通常のアルゴリズム及びパラメータを使用し,付加的なフィルタ及び他の最適化手法は使用し
          てはならない。

5.5 スキャニングプロービング誤差の求め方

 4種類のスキャニング測定から求めたスキャン点を用い
て最小二乗法で球の中心を計算する。各々の測定されたスキャン点から,球の中心からの距離Rを計算す
る。その最小二乗中心からの距離Rの範囲を算出し,それをスキャニングプロービング誤差Tijとする。
それぞれの距離Rと検査用標準球の校正された直径値の半分との差の絶対値を計算し,その最大値を求め
る。

6. 仕様との適合

6.1 受入検査

 次の条件が満たされた場合,スキャニング測定が可能な座標測定機の性能は,仕様に適
合すると判定する。
a)   IS B 0641-1に従う測定の不確かさを考慮に入れて,スキャニングプロービング誤差 Tijが,製造業者
    によって指定された最大許容スキャニングプロービング誤差 MPETij以下である。
b)   IS B 0641-1に従う測定の不確かさを考慮に入れて,最小二乗球の中心からの距離Rと検査用標準球
    の校正された直径値の半分との差の絶対値の範囲が,製造業者によって指定された最大許容スキャニ
    ングプロービング誤差MPETij以下である。
c)   IS B 0641-1に従う測定の不確かさを考慮に入れて,スキャニング検査時間τijが製造業者によって指
    定された最大許容スキャニング検査時間MPTτij以下である。
        備考 多くの球状の寸法標準器は半径でなく直径で値付けられているため,b)は寸法測定におけ
              る座標測定機の指示誤差E(JIS B 7440-1参照)に対する追加された定義として確立してい
              ない。しかし,校正された直径値の半分と比較することで,寸法測定における系統的な誤
              差に対する有効な限界を与えることができる。
     もし、この検査で仕様に適合すると判定されなかった場合は,スタイラスチップ及び検査用標準球の
    ごみ又は汚れが測定結果に影響していないかを調べる。その場合は,スタイラスチップ及び検査用標
    準球を洗浄して,プロービングシステムのパラメータ設定から始めて,もう一度だけ検査を実施する。
        参考 ここでは,JIS B 0641-1に従う測定の不確かさとして,検査用標準球の形状偏差(5.3.1参照)
              を考慮する。

――――― [JIS B 7440-4 pdf 7] ―――――

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B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)

6.2 定期検査

  次の条件が満たされた場合,スキャニング測定が可能な座標測定機の性能は,仕様に適
合すると判定する。
a)   IS B 0641-1に従う測定の不確かさを考慮に入れて,スキャニングプロービング誤差 Tijが,使用者に
    よって指定された最大許容スキャニングプロービング誤差 MPETij以下である。
b)   IS B 0641-1に従う測定の不確かさを考慮に入れて,最小二乗球の中心からの距離Rと検査用標準球
    の校正された直径値の半分との差の絶対値の範囲が,使用者によって指定された最大許容スキャニン
    グプロービング誤差MPETij以下である。
c)   IS B 0641-1に従う測定の不確かさを考慮に入れて,スキャニング検査時間τijが使用者によって指定
    された最大許容スキャニング検査時間MPTτij以下である。
        備考 多くの球状の寸法標準器は半径でなく直径で値付けられているため,b)は寸法測定におけ
              る座標測定機の指示誤差E(JIS B 7440-1参照)に対する追加された定義として確立してい
              ない。しかし,校正された直径値の半分と比較することで,寸法測定における系統的な誤
              差に対する有効な限界を与えることができる。
     もし、この検査で仕様に適合すると判定されなかった場合は,スタイラスチップ及び検査用標準球の
    ごみ又は汚れが測定結果に影響していないかを調べる。その場合は,スタイラスチップ及び検査用標
    準球を清浄して,プロービングシステムのパラメータ設定から始めて,もう一度だけ検査を実施する。
        参考 ここでは,JIS B 0641-1に従う測定の不確かさとして,検査用標準球の形状偏差(5.3.1参照)
              を考慮する。

7. 適用事例

7.1 受入検査

− 購入契約
− 保守契約
− 修理契約
− 仕様変更契約,など
に記述されるような製造業者と使用者との契約状況において,この規格で規定する受入検査は,製造業者
と使用者の合意によって指定された最大許容スキャニングプロービング誤差MPETij及び最大許容スキャニ
ング検査時間MPTτijに従って,スキャニング測定が可能な座標測定機が仕様に適合すると判定する。
  もし製造業者が指定しなかった場合は,最大許容スキャニングプロービング誤差MPETij及び最大許容ス
キャニング検査時間MPTτijは,座標測定機の検査用標準球の任意の位置及び姿勢並びにスタイラスの任意
の姿勢に適用する。

7.2 定期検査

 組織内の品質保証システムにおいて,この規格で規定する定期検査は,詳細な適用限界
のもとで,使用者によって指定された最大許容スキャニングプロービング誤差MPETij及び最大許容スキャ
ニング検査時間MPTτijに従って,スキャニング測定が可能な座標測定機の性能を検証する検査として使用
できる。

7.3 中間点検

 組織内の品質保証システムにおいて,最大許容スキャニングプロービング誤差MPETij及
び最大許容スキャニング検査時間MPTτij以下であることを確認するために,簡便な検査を定期的にしても
よい。
  中間点検では,表1のスキャン点数を減らしてもよい。

――――― [JIS B 7440-4 pdf 8] ―――――

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                                                                B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)
                               附属書A(参考)中間点検
  この附属書は、参考として示すもので、規定の一部ではない。
  スキャニング測定が可能な座標測定機の場合,定期検査の間にも日常的に検査することが望ましい。
  検査用標準球に加えて標準器の特徴量を測定しておくことが推奨される。その測定は,座標測定機の定
期検査の後すぐ行われ,アーティファクトの位置及び姿勢が記録され,その後,繰り返される。

――――― [JIS B 7440-4 pdf 9] ―――――

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B 7440-4 : 2003 (ISO 10360-4 : 2000)
                            附属書B(参考)測定物の影響
  この附属書は、参考として示すもので、規定の一部ではない。
  規格本体5.で記述した検査は,システムの動的応答によるすべての誤差を定量化できるとは限らない。
例えば,測定物の表面の角又は隅の不連続性,表面粗さ,摩擦特性が原因となる誤差がある。
  座標測定機の使用者は,特定の測定機能に対するスキャニング測定の性能を検査するために,追加の検
査を実施してもよい。この検査は,多くの場合,同じ測定物をスキャニング測定した場合の測定結果と,
離散点プロービングによる測定した場合の測定結果の比較によって行われる。この測定結果の違いは,製
造業者と使用者との合意によってあらかじめ定められた許容値よりも小さくなることが望ましい。
  スキャニング測定でのパラメータ(例えば,スキャニング速度,測定密度,フィルター)は,あらかじ
め定められたものと一致することが望ましい。もしも実際の測定で生じると予想される場合,不連続なス
キャニング測定(例えば,隅)の測定を含んだ検査をすることが極めて重要である。

――――― [JIS B 7440-4 pdf 10] ―――――

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