JIS C 0806-301:2020 自動実装部品の包装―第３０１部：表面実装部品テーピングのカバーテープ引き剥がし時の静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法

                                                                               C 0806-301 : 2020

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[2]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法・・・・[3]
•  4.1 一般事項・・・・[3]
•  4.2 測定装置及び備品・・・・[5]
•  4.3 供試品・・・・[7]
•  4.4 前処理条件及び測定環境条件・・・・[7]
•  4.5 測定条件・・・・[8]
•  4.6 静電気電位の測定方法・・・・[8]
•  4.7 静電気漏えい性能の測定方法・・・・[9]
•  5 試験成績表に記載する事項及び関連規格に規定する事項・・・・[9]
•  5.1 試験成績表に記載する事項・・・・[9]
•  5.2 関連規格に規定する事項・・・・[9]
•  附属書A(規定)試験成績表の記載事項・・・・[10]

附属書B(参考)表面実装部品テーピングのカバーテープ引きがし時の静電気電位及び静電気漏えい
     性能の測定方法における注意事項  12

•  参考文献・・・・[18]

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C 0806-301 : 2020

まえがき

  この規格は,産業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から団体規格(JEITA ET-7104-1:2016及びJEITA ET-7104-2:2018)
を基に作成した産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の
審議を経て,経済産業大臣が制定した日本産業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 0806の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 0806-1 第1部 : アキシャルリード線端子部品の連続テープによる包装
    JIS C 0806-2 第2部 : ラジアルリード線端子部品の連続テープによる包装
    JIS C 0806-3 第3部 : 表面実装部品の連続テープによる包装
    JIS C 0806-301 第301部 : 表面実装部品テーピングのカバーテープ引きがし時の静電気電位及び静
        電気漏えい性能の測定方法
    JIS C 0806-6 第6部 : 表面実装部品用バルクケースによるパッケージング

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                       C 0806-301 : 2020

自動実装部品の包装−第301部 : 表面実装部品テーピングのカバーテープ引きがし時の静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法

Packaging of components for automatic handling-Part 301: Measuringmethods of electrostatic potential and charge decay performance whilecover tape is peeled off from carrier of SMD taping

序文

  表面実装部品(以下,SMDという。)の包装形態には,SMDテーピングが用いられている。SMDを部
品収納部から取り出すには,キャリアテープからカバーテープを引きがす必要がある。キャリアテープ
からカバーテープ引きがし時に,離による静電気が発生する。その静電気によって,次のトラブルが
発生する可能性が大きくなる。
a)   MDが破壊する,及び/又は特性が劣化する。
b)   MDがカバーテープに貼り付き,部品収納部が部品欠落状態となる。
c)   MDがキャリアテープの部品収納部内に貼り付き,実装機における吸着不良となる。
  キャリアテープからカバーテープを引きがす作業によって発生する静電気及びその後の減衰時間は,
次の要因によって異なる。
d)   MDテーピングに採用した包装材料,シール方法などのほか,カバーテープ引きがし作業前後の環
    境条件及び引きがし条件。
e)   MDの寸法及び種類によるSMDテーピングの寸法及び収納方法の違い。
  SMDの包装に関連して発生する静電気電位などの特性を適切に測定する規格がなく,また,表面抵抗を
直接測定できない多層化した包装材料及び微細化した寸法形状をもつ包装の実態と,現物の表面抵抗の測
定値を静電気特性と規定する現存の静電気関連規格との間にかい(乖)離がみられる。このため,SMDの
包装の実態,静電気関連規格の規定内容などを確認した上で,キャリアテープからカバーテープ引きが
し時の静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法を制定する。
  ただし,包装材の静電気対策は,個々の形状,使用環境などの状況を把握して,対策する必要があり,
その対策内容は画一的でないため,各種の測定データを測定しただけでは,解決しないことに留意してお
く必要がある。測定データは,静電気対策を行うための要因解析のツールの一つであることを認識するこ
とが望ましい。

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2
C 0806-301 : 2020

1 適用範囲

  この規格は,SMDテーピングにおいてキャリアテープからカバーテープ引きがし時に発生する静電気
電位の測定方法,及びキャリアテープの長さ方向に働く抵抗値による静電気漏えい性能の測定方法につい
て規定する。
  この規格は,テープ幅が4 mm,8 mm,12 mm 及び16 mmのSMDテーピングに適用する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 0806-3:2014 自動実装部品の包装−第3部 : 表面実装部品の連続テープによる包装
      注記 対応国際規格 : IEC 60286-3:2013,Packaging of components for automatic handling−Part 3:
             Packaging of surface mount components on continuous tapes(IDT)
    JIS C 61340-2-2:2013 静電気−第2-2部 : 測定方法−帯電特性の測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-2-2:2000,Electrostatics−Part 2-2: Measurement methods−
             Measurement of chargeability(MOD)
    JIS C 61340-4-5:2007 静電気−特定応用のための標準的試験方法−人体と組み合わせた履物及び床
        システムの静電気防止性能の評価方法
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-4-5:2004,Electrostatics−Part 4-5: Standard test methods for specific
             applications−Methods for characterizing the electrostatic protection of footwear and flooring in
             combination with a person(IDT)
    JIS C 61340-4-6:2016 静電気−第4-6部 : 特定応用のための標準的試験方法−リストストラップ
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-4-6:2010,Electrostatics−Part 4-6: Standard test methods for specific
             applications−Wrist straps(IDT)
    JIS C 61340-4-7:2011 静電気−第4-7部 : 特定応用のための標準的試験方法−イオナイザ
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-4-7:2010,Electrostatics−Part 4-7: Standard test methods for specific
             applications−Ionization(MOD)
    JIS C 61340-4-9:2018 静電気−第4-9部 : 特定応用のための標準試験方法−衣服
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-4-9:2016,Electrostatics−Part 4-9: Standard test methods for specific
             applications−Garments(IDT)
    JIS G 4304:2012 熱間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯
      注記 対応国際規格 : ISO16143-1:2004,Stainless steels for general purposes−Part 1: Flat products,ISO
             9444-1:2009,Continuously hot-rolled stainless steel−Tolerances on dimensions and form−Part 1:
             Narrow strip and cut lengths,ISO 9444-2:2009,Continuously hot-rolled stainless steel−Tolerances
             on dimensions and form−Part 2: Wide strip and sheet/plate及びISO 18286:2008,Hot-rolled
             stainless steel plates−Tolerances on dimensions and shape(全体評価 : MOD)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS C 0806-3:2014及びJIS C 61340-2-2:2013に
よる。

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                                                                               C 0806-301 : 2020
3.1
SMDテーピング(SMD taping)
  SMDを自動実装機に一定間隔で連続して供給できるように,SMDを固定又は収納する方式。
3.2
キャリアテープ(carrier tape)
  SMDを自動実装機に一定間隔で連続して供給できるように,テーピングの中で部品収納部に用いるテー
プ。
    注記 キャリアテープには,パンチテープ,プレステープ,エンボステープなどがある。
3.3
カバーテープ(cover tape)
  SMDを自動実装機に一定間隔で連続して供給できるように,キャリアテープの部品収納部を覆って部品
が脱落しないために用いるテープ。
    注記 カバーテープは,上面テープだけを示すことが一般的であるが,パンチテープは上面カバーテ
          ープ及び底面カバーテープを用いている。また,カバーテープには熱溶圧着タイプと粘着タイ
          プとがある。
3.4
静電気電位(electrostatic potential)
  静電気の帯電に起因する静電界によって,ある任意の点と決められた基準点との間に起こる時間的にも
空間的にも変化しない電位。
    注記 JIS C 61340-2-2の2.7の静電電位を静電気電位に修正した。
3.5
静電気漏えい性能(charge decay performance)
  発生した静電気の電荷が物質を通して漏えい・減衰する特性。
    注記1 この特性は,主として物質の表面抵抗及び/又は体積抵抗で決まる場合が多い。
    注記2 この特性は,周囲環境(温湿度)に影響される。

4 静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法

4.1 一般事項

  静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法は,4.24.7による。
  静電気電位測定器を用いた測定方法の構成図を図1に示す。また,カバーテープ引きがし時に発生す
る静電気電位の測定方法を図2に示す。静電気漏えい性能の測定方法の構成図を図3に示し,測定方法を
図4に示す。
  ここで,測定においては,次の事項が必要である。
a) 測定部(レール状平板電極及び非接触プローブ)の静電容量は10 pF以下とする。
b) レール状平板電極と静電気電位測定器本体との間の絶縁性は,抵抗1×1014 Ω以上とする。
c) 全ての測定に用いる機器類は,接地抵抗が約1×106 Ω程度の接地点(GP)に接続する。
  静電気電位及び静電気漏えい性能の測定方法に関する注意事項を,附属書Bに示す。測定者は,この附
属書の内容を,測定前に十分に確認し,必要に応じて有効な対策を実施することが望ましい。

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