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長い方をとる。
2. 行き過ぎ量が回路インピーダンスによって影響される場合は,試験電源のインピーダン
スは個別規格による。
3. 特別な場合には,外部回路インピーダンスは,製造業者と使用者との間の合意によって
もよい。
4.2.3 計算
行き過ぎ量(百分率)は,次の式によって計算する。
BX
100
BSL
4.3 応答時間
4.3.1 機械的零位が目盛上にないか,又は定まらない計器の手順
1) 目盛の長さ (BSL) を長さの単位で測定し,記録する。
2) 測定範囲の下限に相当する振れを与える,一定の値の入力を加える。
3) 目盛の長さの約32に相当する定常時の振れを生じるように,入力を急に増加させる(例えば,スイッ
チで切り換える。)。
4) 指標が最終静止位置の両側で,目盛の長さの1.5%以内に収まるまでの時間を秒で測定し,記録する。
5) 手順2),3)及び4)を5回繰り返し,その平均をとる。
4.3.2 その他の計器の手順
1) 目盛の長さ (BSL) を長さの単位で測定し,記録する。
2) 目盛の長さの約32に相当する定常時の振れを生じるような一定の値の入力を,急に加える。
3) 指標が最終静止位置の両側で,目盛の長さの1.5%以内に収まるまでの時間を秒で測定し,記録する。
4) 手順2)及び3)を5回繰り返し,その平均をとる。
備考1. 応答時間が回路インピーダンスによって影響される場合は,試験電源のインピーダンス
は個別規格による。
2. 計器の零位が目盛の内側にある場合,目盛の長さは,零位の両側の目盛の長さのうち長
い方をとる。
3. 特別な場合には,外部回路インピーダンスは,製造業者と使用者との間の合意によって
もよい。
4.3.3 計算
計算はしない。
4.4 計器の短時間過負荷
4.4.1 手順
1) 個別規格に規定のあるときは,目盛の長さ (BSL) を長さの単位で測定し,記録する。零位を調整する。
2) 個別規格に規定する過負荷を加える。
3) 手順2)の完了後1時間ののち,指標の零位からの偏位 (Bo) を目盛の長さの単位で記録する。
4) 零位を調整し,2.固有誤差試験を繰り返す。
4.4.2 計算
零位からの偏位の目盛の長さに対する百分率は,次の式によって計算する。
BO
100
BSL
――――― [JIS C 1102-9 pdf 26] ―――――
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短時間過負荷の影響は,2.固有誤差試験の方法で計算する。
4.5 附属品の短時間過負荷
4.5.1 手順
1) 附属品に,JIS C 1102-8に規定する過負荷を加える。
2) 基準温度に戻した後,2.固有誤差試験を繰り返す。
4.5.2 計算
短時間過負荷の影響は,2.固有誤差試験の方法で計算する。
4.6 計器の連続過負荷
4.6.1 手順
1) 電流計及び電圧計は,目盛の長さ (BSL) を長さの単位で測定し,記録する。
2) 零位を調整し,個別規格で規定する値の過負荷を2時間加える。
3) タッピングをしながら,入力をゼロまで減少させる。電流計及び電圧計は,直ちに,指標の零位から
の偏位 (BTD) を目盛の長さの単位で測定し,記録する。
4) 手順3)の完了後約2時間ののち,零位を調整し,2.固有誤差試験を繰り返す。
備考1. 周波数計では,電圧回路に電圧過負荷を加える。
2. 電力計,無効電力計,位相計及び力率計では,電圧回路と電流回路は一方の回路を定格電圧
又は定格電流として,個々に過負荷を加える。
5) 手順2)で過負荷を加えている間に,指示を観察し,上端の目盛線を明らかに超えていることを調べる
(JIS C 1102-1の7.3 Amend 1参照)。
6) 指示が,下端の目盛線より下にくるような測定量の値がある場合は,その値を加える。指示が,下端
の目盛線を明らかに下側に超えていることを調べる。
備考 5),6)は,4.6.1の試験中の任意の時点で実施すればよい。
4.6.2 計算
連続過負荷の影響(百分率)は,2.固有誤差試験の方法で計算する。電流計及び電圧計では,連続過負
荷の一時的影響の目盛の長さに対する百分率は,次の式によって計算する。
BTD
100
BSL
4.7 附属品の連続過負荷
4.7.1 手順
1) 定格値の120%の連続過負荷を2時間加える。
2) 手順1)の完了後約2時間ののち,2.の附属品についての固有誤差試験を繰り返す。
4.7.2 計算
連続過負荷の影響は,2.固有誤差試験の方法で計算する。
4.8 大電流過負荷後の電流回路の導通
4.8.1 手順
1) 複数の測定回路をもった計器は,試験する回路を除いてすべての回路を定格入力で動作させる。
2) 被試験電流回路に,個別規格で規定する過負荷電流を,規定の時間加える。
3) 計器を切り離し,試験した電流回路が開路しているかどうかを調べる。
4.8.2 計算
計算はしない。
――――― [JIS C 1102-9 pdf 27] ―――――
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4.9 零位からの偏位
4.9.1 手順
1) 目盛の長さ (BSL) を長さの単位で測定し,記録する。
2) 計器は,測定範囲の上限で30秒間通電する。
3) 被試験計器に行き過ぎ量を生じさせることなく,入力を速やかにゼロまで減少させる。計器には,い
かなる振動も与えないこと。
4) タッピングをしないで,入力をゼロにしてから15秒ののち,指標のゼロ目盛線からの偏位 (Bx) を目
盛の長さの単位で測定し,記録する。
備考 特殊な制動をもった計器では,手順4)の零位からの偏位を読み取るまでの時間は,製造業
者と使用者との間の合意によってもよい。
4.9.2 計算
零位からの偏位(百分率)は,次の式によって計算する。
BX
100
BSL
4.10 振動及び衝撃の影響
4.10.1 手順
1) タッピングをしながら零位を調整する。次に,標準状態で入力を徐々に加え,目盛の上昇と下降の両
方向に,測定範囲の下限と上限を含むほぼ等間隔な少なくとも5点の目盛線に順次,タッピングをし
ないで指標を合わせる。入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
2) 計器に通電しないで,すべての測定回路を短絡し,通常の使用姿勢に取り付ける。計器に,JIS C 1102-1
の7.5.1に規定する正弦波振動を加える。
3) 計器に通電しないで,すべての測定回路を短絡し,JIS C 1102-1の7.5.2に規定する衝撃を加える。
4) タッピングをしながら零位を調整する。次に,目盛の上昇と下降の両方向で,手順1)と同じ目盛線に
タッピングをしないで,指標を合わせ,入力値 (Bx) を記録する。
備考 計器は,三つの衝撃軸のうちの一つが,可動素子の回転軸と平行になるように取り付ける
こと。
4.10.2 計算
振動及び衝撃の影響(百分率)は,選択した各目盛線の,上昇と下降の両方向について,次の式によっ
て計算し,その最大値とする。
BR BX
100
AF
ここに, AF : 基底値
4.11 同期検定器の離脱周波数
4.11.1 手順
1) 運転側回路に,基準周波数 (BR) で,公称使用範囲内の電圧の電源を接続する。
2) 起動側回路に,運転側回路を接続した電源の周波数を中心に,少なくとも±10Hzの範囲で周波数が変
化できる,分離された同じような電源を接続する。
3) 起動側回路の周波数を,運転側回路と同じ周波数から,可動素子の回転が止まるまで減少させる。周
波数 (BL) を記録する。
4) 起動側回路の周波数を,運転側回路と同じ周波数になるまで増加させる。
――――― [JIS C 1102-9 pdf 28] ―――――
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5) 起動側回路の周波数を,可動素子の回転が逆転し,その後,止まるまで続けて増加させる。周波数 (BH)
を記録する。
備考 “起動側回路”とは,“運転側回路”に同期するように位相調整される電源に接続する側の
回路である。
4.11.2 計算
離脱周波数は,次の式によって計算する。
(BR−BL) 及び (BH−BR)
4.12 同期検定器の引込周波数
4.12.1 手順
1) 運転側回路に,基準周波数 (BR) で,公称使用範囲内の電圧の電源を接続する。
2) 起動側回路に,運転側回路に接続した電源の周波数を中心に,少なくとも±10Hzの範囲で周波数が変
化できる,分離された同じような電源を接続する。
3) 起動側回路の周波数を,可動素子が回転しないような,基準周波数より十分に低い周波数から可動素
子の回転が始まるまで,増加させる。周波数 (BL) を記録する。
4) 起動側回路の周波数を,可動素子の回転が逆転し,その後,止まるまで続けて増加させる。
5) 起動側回路の周波数を,可動素子の回転が始まるまで,減少させる。周波数 (BH) を記録する。
備考 “起動側回路”とは,“運転側回路”に同期するように位相調整される電源に接続する側の
回路である。
4.12.2 計算
引込周波数は,次の式によって計算する。
(BL−BR) 及び (BR−BH)
4.13 周期検定器の開路
4.13.1 手順
1) 起動側回路を開放し,運転側回路に定格周波数で定格電圧を接続する。指示を記録する。
2) 運転側回路を開放し,起動側回路に定格周波数で定格電圧を接続する。指示を記録する。
3) すべての測定回路の入力を外す。指示を記録する。
備考 “起動側回路”とは,“運転側回路”に同期するように位相調整される電源に接続する側の
回路である。
4.13.2 計算
計算はしない。
4.14 自己加熱
4.14.1 計器
4.14.1.1 手順
1) 計器とその非互換性附属品は,少なくとも4時間通電しないで,標準状態に置く。
2) 入力を加え,JIS C 1102-1の6.3.1で規定した目盛線に,タッピングをしながら指標を合わせる。通電
後1分から3分の間に入力 (BR) を記録する。
3) 通電後30分から35分の間に,タッピングをしながら,手順2)と同じ目盛線に指標を合わせ,入力値
(Bx) を記録する。
備考 疑義がある場合,製造業者と使用者の合意があれば,自己加熱の試験は延長してもよい。
最も長い試験時間として,6時間が提案されている。
――――― [JIS C 1102-9 pdf 29] ―――――
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C 1102-9 : 1997
4.14.1.2 計算
自己加熱による影響変動値(百分率)は,次の式によって計算する。
BR BX
100
AF
ここに, AF : 基底値
4.14.2 附属品
4.14.2.1 手順
1) 附属品は,少なくとも4時間通電しないで,標準状態に置く。
2) IS C 1102-1の6.3.1の規定によって附属品に通電する。
3) 自己加熱の影響が無視できる指示計器と組み合わせ,通電後1分から3分の間に,附属品の値 (BR) を
記録する。
4) 通電後30分から35分の間に,附属品の値 (Bx) を記録する。
4.14.2.2 計算
自己加熱による影響変動値(百分率)は,次の式によって計算する。
BR BX
100
AF
ここに, AF : 基底値
4.15 オーム計の最大電流
4.15.1 手順
1) 低抵抗の4端子抵抗器(抵抗値RT1)を,オーム計の測定端子に接続する。
2) 高インピーダンス電圧計を用いて,4端子抵抗器の電圧降下 (VR1) を測定する。抵抗器に流れる電流
(IR1) を計算する。
3) 4端子抵抗器の抵抗値を2倍 (RT2) にし,抵抗器の電圧降下 (VR2) を測定する。抵抗器に流れる電流
(IR2) を計算する。
4) もしIR2がIR1の95%より小さいときは,手順1)で使う4端子抵抗器の値を減少させて,手順1)から4)
までを繰り返す。
4.15.2 計算
オーム計の最大電流は,次の式によって計算する。
VR1
RT1
4.16 電力計及び無効電力計の電圧回路だけの通電
4.16.1 手順
1) 電圧回路は定格電圧を加え,電流回路は開放する。ただし,電流回路は,適宜,通常の動作に応じて
電圧回路に接続する。指示値 (BR) を測定し,記録する。指標が最初の目盛線以下に振れる場合は,
最初の目盛線を指示するように機械的零位を再調整する。
2) 電圧回路を遮断し,指示値 (Bx) を記録する。
4.16.2 計算
電圧回路だけの通電の影響(百分率)は,次の式によって計算する。
――――― [JIS C 1102-9 pdf 30] ―――――
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JIS C 1102-9:1997の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60051-9:1988(IDT)
- IEC 60051-9:1988/AMENDMENT 1:1994(IDT)
- IEC 60051-9:1988/AMENDMENT 2:1995(IDT)
JIS C 1102-9:1997の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.220 : 電気学.磁気学.電気的及び磁気的測定 > 17.220.20 : 電気的及び磁気的量の測定